一种IC芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及IC芯片技术领域，尤其是一种IC芯片测试治具，包括底座，所述底座的内部中间设置有角度锁定装置，所述角度锁定装置的顶部设置有工作台，所述工作台的顶部两侧均固接有竖板，所述竖板的外壁与弹簧的一端相固接，所述弹簧的另一端固接有固定板，所述固定板的底部通过滑槽与工作台滑动连接，所述固定板的一侧与IC芯片紧密贴合。通过转筒和第二直齿轮之间的配合，转筒会通过滑槽使T形齿条向右移动，T形齿条会使逆时针转动，第二直齿轮带动工作台转动，工作台通过固定板带动IC芯片转动，通过驱动电机本身自带的自锁能力，使得IC芯片停在指定角度时，完成角度锁定功能，不在需要使用者持续施加外力，从而便于对IC芯片进行检测。行检测。行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种IC芯片测试治具


[0001]本技术涉及IC芯片
，具体为一种IC芯片测试治具。

技术介绍

[0002]IC芯片测试治具是在PCB制板工艺中用来检测PCB的各个电气特性的一种自动化工具，主要应用于PCB测试、焊接和返修工作。
[0003]例如授权公告号为CN211696446U的一种IC芯片测试治具，虽然上述文件能够对方便测试者对芯片进行检测，但是在上述文件中的IC芯片测试治具使用时，当需要IC芯片进行角度调节时，需要人为手动转动V型块，由于弹簧的不稳定性，无法在IC芯片发生转动后，对IC芯片进行角度锁定，这就导致使用者需要持续的向V型块施加偏转的力，用以保证IC芯片处于偏转状态，此过程不便于使用者对IC芯片进行检测。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决上述文件中的IC芯片测试治具，无法在IC芯片发生转动后，对IC芯片进行角度锁定，导致使用者需要持续的向V型块施加偏转的力，用以保证IC芯片处于偏转状态，此过程不便于使用者对IC芯片进行检测，而提出的一种IC芯片测试治具。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]设计一种IC芯片测试治具，包括底座，所述底座的内部中间设置有角度锁定装置，所述角度锁定装置的顶部设置有工作台，所述工作台的顶部两侧均固接有竖板，所述竖板的外壁与弹簧的一端相固接，所述弹簧的另一端固接有固定板，所述固定板的底部通过滑槽与工作台滑动连接，所述固定板的一侧与IC芯片紧密贴合。
[0007]优选的，所述角度锁定装置包括驱动电机，所述驱动电机的外壁通过支架与底座相固接，所述驱动电机的输出端固接有转筒，所述转筒的外壁通过滑槽与T形齿条滑动连接，所述T形齿条的顶部与第二直齿轮啮合连接，所述第二直齿轮的前端与工作台相固接。
[0008]优选的，所述第二直齿轮的后端通过转轴与横板转动连接，所述横板的两端均与底座相固接。
[0009]优选的，所述T形齿条的两端均通过滑槽与套筒滑动连接，所述套筒的一端与底座相固接。
[0010]优选的，所述底座的前端安装有柜门，所述底座的右侧安装有检测控制器，所述检测控制器的外壁通过电线与IC芯片电连接。
[0011]本技术提出的一种IC芯片测试治具，有益效果在于：通过驱动电机、转筒、T形齿条和第二直齿轮之间的配合，接通驱动电机的外接电源，使得驱动电机的输出端带动转筒转动，转筒会通过滑槽使T形齿条向右移动，T形齿条会使逆时针转动，第二直齿轮带动工作台转动，工作台通过固定板带动IC芯片转动，通过驱动电机本身自带的自锁能力，使得IC芯片停在指定角度时，完成角度锁定功能，不在需要使用者持续施加外力，便于对IC芯片进
行检测。
附图说明
[0012]图1为本技术结构示意图；
[0013]图2为实施例2内部连接结构主视平面示意图；
[0014]图3为图2中A处连接结构示意图；
[0015]图4为实施例1连接结构示意图；
[0016]图5为图4中B处连接结构示意图。
[0017]图中：1、底座，2、套筒，301、电动推杆，302、槽板，303、扇形齿条，304、第一直齿轮，401、驱动电机，402、转筒，403、T形齿条，404、第二直齿轮，5、检测控制器，6、工作台，7、竖板，8、弹簧，9、固定板，10、IC芯片，11、柜门，12、横板。
具体实施方式
[0018]下面结合附图对本技术作进一步说明：
[0019]实施例1：
[0020]请参阅图1
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5，本实施例中：一种IC芯片测试治具，包括底座1，底座1的内部中间设置有用于对IC芯片10进行角度锁定的角度锁定装置，角度锁定装置的顶部设置有工作台6，工作台6的顶部两侧均固接有竖板7，竖板7的外壁与弹簧8的一端相固接，弹簧8的弹性系数为20
‑
30N/cm，弹簧8的另一端固接有固定板9，在固定板9向外侧移动时，会压缩弹簧8，固定板9的底部通过滑槽与工作台6滑动连接，工作台6通过滑槽限制固定板9的移动方向，固定板9的一侧与IC芯片10紧密贴合，两个固定板9用于固定IC芯片10。
[0021]请参阅图2和3，角度锁定装置包括驱动电机401、转筒402、T形齿条403和第二直齿轮404，驱动电机401的外壁通过支架与底座1相固接，驱动电机401的型号根据实际使用需求选择，满足工作需求即可，驱动电机401的输出端固接有转筒402，驱动电机401的输出端带动转筒402转动，转筒402的外壁通过滑槽与T形齿条403滑动连接，转筒402转动时通过外壁的滑槽使T形齿条403左右移动，T形齿条403的顶部与第二直齿轮404啮合连接，T形齿条403会使第二直齿轮404转动，第二直齿轮404的前端与工作台6相固接，第二直齿轮404带动工作台6转动；
[0022]接通驱动电机401的外接电源，使得驱动电机401的输出端带动转筒402转动，转筒402会通过滑槽使T形齿条403向右移动，T形齿条403会使逆时针转动，第二直齿轮404带动工作台6转动，工作台6通过固定板9带动IC芯片10转动，通过驱动电机401本身自带的自锁能力，使得IC芯片10停在指定角度时，完成角度锁定功能，不在需要使用者持续施加外力，从而便于对IC芯片10进行检测。
[0023]第二直齿轮404的后端通过转轴与横板12转动连接，第二直齿轮404沿着与横板12的连接处转动，横板12的两端均与底座1相固接，T形齿条403的两端均通过滑槽与套筒2滑动连接，套筒2用于限制T形齿条403只能左右滑动，套筒2的一端与底座1相固接，底座1的前端安装有柜门11，底座1的右侧安装有检测控制器5，检测控制器5用于对IC芯片10进行检测，检测控制器5为现有技术，在这里不再做过多赘述，检测控制器5的检测方式与授权公告号为CN211696446U的一种IC芯片测试治具中所提到的检测方式相同，检测控制器5的外壁
通过电线与IC芯片10电连接。
[0024]工作原理：
[0025]该IC芯片测试治具在使用时，首先，使用者将IC芯片10放置在两个固定板9之间，随后松开固定板9，固定板9会在弹簧8弹力的作用下，同时向中间移动，两个固定板9会将IC芯片10固定住，之后通过电线将IC芯片10与检测控制器5连接在一起，检测控制器5会对IC芯片10进行内部功能检测，在需要转动IC芯片10时，接通驱动电机401的外接电源，使得驱动电机401的输出端带动转筒402转动，转筒402会通过滑槽使T形齿条403向右移动，T形齿条403会使逆时针转动，第二直齿轮404带动工作台6转动，工作台6通过固定板9带动IC芯片10转动，通过驱动电机401本身自带的自锁能力，使得IC芯片10停在指定角度时，完成角度锁定功能，不在需要使用者持续施加外力，从而便于对IC芯片10进行检测，在完成对IC芯片10的外观检测后，取下IC芯片10，完成此次装置的使用。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IC芯片测试治具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的内部中间设置有角度锁定装置，所述角度锁定装置的顶部设置有工作台(6)，所述工作台(6)的顶部两侧均固接有竖板(7)，所述竖板(7)的外壁与弹簧(8)的一端相固接，所述弹簧(8)的另一端固接有固定板(9)，所述固定板(9)的底部通过滑槽与工作台(6)滑动连接，所述固定板(9)的一侧与IC芯片(10)紧密贴合。2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述角度锁定装置包括驱动电机(401)，所述驱动电机(401)的外壁通过支架与底座(1)相固接，所述驱动电机(401)的输出端固接有转筒(402)，所述转筒(402)的外壁通过滑槽与T形齿条(403)滑动连接，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张学伟，
申请(专利权)人：天津芯元微科电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：