【技术实现步骤摘要】
一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置及其方法
[0001]本专利技术涉及一种集成电路板检测领域,具体是一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置及其方法。
技术介绍
[0002]在集成电路板的质量检测中,存在一个性能检测的过程,具体为对集成电路板进行通电情况下的满载测试,在测试完成后需要人工配合机器进行质检,人工质检的目的在于观察电路板上的元器件是否存在烧毁现象,机器质检则是对元器件表面的温度进行检测,以检测元器件温度是否处于可控温度下。
[0003]由于人工质检与机器质检的范围有限,为了提高检测精度,避免发生错检、漏检的现象,一般对单块电路板采用两次检测法,即单次仅检测电路板一半的区域,通过人工与机器配合,实现速度不变的同时,提高检测精度。
[0004]这种检测方式需要在电路板完成单次检测后旋转180
°
,而由于旋转的速度较快,且由于电路板上存在的元器件会导致电路板的重心不在其转动中心上,从而致使在电路板旋转时,会发生偏移错位的现象,甚至发生电路板与检测设备分离的情况,存在较大事故风险。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置及其方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:
[0007]一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置,包括:
[0008]底座,所述底座上设置有可旋转的安装板;
[0009]定位结构,设置在所述安装板上,所 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置,其特征在于,包括:底座(1),所述底座(1)上设置有可旋转的安装板(2);定位结构,设置在所述安装板(2)上,所述定位结构包括纵向夹持组件以及横向推送组件,所述纵向夹持组件与所述横向推送组件配合,可对置于所述安装板(2)上的电路板进行定位并固定;三角件(38),滑动设置在所述纵向夹持组件上,所述三角件(38)与设置在所述纵向夹持组件上的弹性结构连接,当所述三角件(38)与电路板的侧壁抵接时,所述三角件(38)可沿空间竖直方向上升;动力机构,连接所述三角件(38),所述动力机构包括动力组件、旋转组件以及两组离心组件,所述离心组件可驱使所述三角件(38)向下运动,且在所述动力组件动作时,所述动力组件可先后驱使所述离心组件以及旋转组件动作。2.根据权利要求1所述的一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置,其特征在于,所述纵向夹持组件包括转动安装在所述安装板(2)上的两个双向丝杆(7),两个所述双向丝杆(7)之间通过一号皮带(8)连接,且每个所述双向丝杆(7)上均对称设置有两个与之螺纹连接的螺纹套筒(6),所述螺纹套筒(6)与所述离心组件连接;所述安装板(2)上设置有多组一号滑槽(3),所述一号滑槽(3)内滑动安装有一号滑块(4),所述一号滑块(4)上安装有夹持件(5),且所述一号滑块(4)连接所述螺纹套筒(6)。3.根据权利要求2所述的一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置,其特征在于,所述横向推送组件包括对称安装在所述夹持件(5)两侧的侧板(9),所述侧板(9)远离所述夹持件(5)的一端固定有凸起(10);所述横向推送组件还包括开设在所述安装板(2)上的导向槽(15),所述导向槽(15)内滑动安装有推送板(14),所述推送板(14)上安装有推送件(11),所述推送件(11)的两侧对称设置有滑动槽体,所述凸起(10)可在所述滑动槽体内滑动;所述滑动槽体包括水平槽体(12)以及倾斜槽体(13),所述水平槽体(12)与所述倾斜槽体(13)光滑过渡。4.根据权利要求2所述的一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置,其特征在于,所述弹性结构包括固定安装在所述夹持件(5)上的立杆(39),所述立杆(39)与设置在所述三角件(38)上的突出部滑动连接,所述立杆(39)上还套设有弹簧(40),所述弹簧(40)的一端与所述立杆(39)的端部连接,另一端与所述突出部连接。5.根据权利要求2所述的一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置,其特征在于,所述动力组件包括固定安装在所述底座(1)上的驱动装置(16),所述驱动装置(16)的输出轴贯穿所述底座(1)并连接有一号齿轮(20),所述一号齿轮(20)与设置在所述底座(1)上的齿环(21)啮合,所述齿环(21)的圆周外表面上开设有外嵌槽,所述外嵌槽与呈圆周等距设置在所述底座(1)上的多个止挡件(22)滑动连接;所述动力组件还包括连接所述驱动装置(16)的输出轴以及离心组件的伸缩传动结构。6.根据权利要求5所述的一种基于定位结构的集成电路板旋转测试装置,其特征在于,所述伸缩传动结构包括转动安...
【专利技术属性】
技术研发人员:关欣赟,陈涛,席磊磊,冯燕坡,陈敦介,刘李云,
申请(专利权)人:微网优联科技成都有限公司,
类型:发明
国别省市:
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