一种MIMO阵列近场测量系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及目标电磁散射特性近场测量技术领域，特别涉及一种MIMO阵列近场测量系统及方法，其中系统包括射频收发设备、上位机、一个天线阵列以及两个对应的微波开关矩阵；天线阵列至少包括一排天线阵元；微波开关阵列均包括多个收发控制开关；天线阵列中的每个天线阵元通过一个微波开关矩阵中的收发控制开关与发射链路连接，并通过另一个微波开关矩阵中的收发控制开关与接收链路连接；上位机与射频收发设备及微波开关阵列均连接，用于根据输入的设置指令，设置射频收发设备的工作参数以及微波开关阵列中各收发控制开关的通断状态。本发明专利技术能够根据需要灵活配置收发天线，通过天线收发复用，减少所需天线数量，增加孔径利用率。增加孔径利用率。增加孔径利用率。

【技术实现步骤摘要】
一种MIMO阵列近场测量系统及方法


[0001]本专利技术实施例涉及目标电磁散射特性近场测量
，特别涉及一种MIMO阵列近场测量系统及方法。

技术介绍

[0002]高分辨雷达成像技术已广泛应用在目标电磁散射特性测量领域，是诊断和分析复杂目标散射机理的有力工具。如何利用测量系统便捷快速地对目标开展测量并得到成像测量结果，具有重要研究意义。
[0003]利用MIMO阵列可实现目标电磁散射特性近场测量，但MIMO阵列形式固定，若要进行不同的成像测量，就需要不同形式的天线阵列，所需天线数量多，孔径利用率小，灵活性差。

技术实现思路

[0004]基于MIMO阵列近场测量系统灵活性差的问题，本专利技术实施例提供了一种MIMO阵列近场测量系统及方法，能够在测量过程中根据需要调节各个天线阵元的功能，灵活配置收发天线，实现天线阵元的收发复用。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种MIMO阵列近场测量系统，包括：
[0006]射频收发设备、上位机、一个天线阵列以及两个对应的微波开关矩阵；
[0007本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MIMO阵列近场测量系统，其特征在于，包括：射频收发设备、上位机、一个天线阵列以及两个对应的微波开关矩阵；所述天线阵列至少包括一排天线阵元；所述微波开关阵列包括多个收发控制开关，每个所述收发控制开关的隔离度不小于80dB；所述天线阵列中的每个所述天线阵元通过一个所述微波开关矩阵中对应的所述收发控制开关与所述射频收发设备的发射链路连接，并通过另一个所述微波开关矩阵中对应的所述收发控制开关与所述射频收发设备的接收链路连接；所述射频收发设备用于产生并接收宽带扫频信号；所述上位机与所述射频收发设备及所述微波开关阵列均连接，用于根据输入的设置指令，设置所述射频收发设备的工作参数以及所述微波开关阵列中各所述收发控制开关的通断状态。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述天线阵列包括两排天线阵元；两排所述天线阵元横向错位设置。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述天线阵列包括多排天线阵元，构成二维阵列。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：天线支架，用于设置所述天线阵列，使所述天线阵列中心正对目标几何中心。5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，还包括：旋转机构，设于所述天线支架，用于带动所述天线阵列旋转。6.一种MIMO阵列近场测量方法，其特征在于，采用如上述权利要求1
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5任一项所述的MIMO阵列近场测量系统实现，包括如下步骤：获取测量参数；基于所述测量参数，确定天线阵列的测量策略；...

【专利技术属性】
技术研发人员：任群亭，吕鸣，白杨，武自卫，韦笑，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：