【技术实现步骤摘要】
一种检测物体距离的数据处理系统
[0001]本专利技术涉及光学测量设备
，特别是涉及一种检测物体距离的数据处理系统。
技术介绍
[0002]现有的测距方法大多为激光测距，利用激光测距仪器获取激光发射器与被测物体的距离，通过激光发射器发出激光光束照射被测物体，被测物体对激光进行反射通过透镜照射到接收器上，接收器发出信号，根据接收器发出的信号获取激光发射器与被测物体的距离。
[0003]但上述方法也存在以下技术问题：获取激光发射器与被测物体的距离时要需要经过反复多次测量才能确定激光发射器与被测物体的距离，当被测物体表面为粗糙表面时，反复多次测量获取到的数据是不一致的，进而获取到的目标距离的精准度较低。
技术实现思路
[0004]针对上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种检测物体距离的数据处理系统，包括：目标测距装置、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，目标测距装置包括目标发射器、第一凸透镜、第二凸透镜和目标接收器，当计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：S100、获取目标接收器对应的初...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测物体距离的数据处理系统，其特征在于，所述系统包括：目标测距装置、处理器和存储有计算机程序的存储器，其中，所述目标测距装置包括目标发射器、第一凸透镜、第二凸透镜和目标接收器，当计算机程序被所述处理器执行时，实现以下步骤：S100、获取目标接收器对应的初始像素点位置ID列表A={A1，A2，
……
，A
i
，
……
，A
m
}，A
i
为目标接收器生成的目标图像中第i个像素点的位置ID，i=1，2
……
m，m为目标接收器生成的目标图像的像素点数量；S200、根据A，获取A对应的初始电压值列表B={B1，B2，
……
，B
i
，
……
，B
m
}，B
i
为A
i
对应的初始电压值；S300、若i＞1且|B
i
‑
B
i
‑1|≤B0，将A
i
作为第一像素点位置ID，以得到A对应的第一像素点位置ID列表C={C1，C2，
……
，C
j
，
……
，C
n
}，C
j
为A对应的第j个第一像素点位置ID，j=1，2
……
n，n为第一像素点位置ID数量，B0为预设电压差值；S400、根据A和B，获取C对应的第一电压值列表D={D1，D2，
……
，D
j
，
……
，D
n
}，D
j
为C
j
对应的第一电压值；S500、根据C和D，获取目标接收器对应的像素点中心位置E，其中，E符合如下条件：；S600、根据E，获取待检测物体对应的目标距离，目标距离为目标发射器与待检测物体之间的垂直距离。2.根据权利要求1所述的检测物体距离的数据处理系统，其特征在于，在S400步骤中包括如下步骤：S401、若B
i
‑
B
i
‑1＞B0，将A
i
作为第一中间像素点位置ID，B
i
作为第一中间电压值，以得到A对应的第一中间像素点位置ID列表F={F1，F2，
……
，F
r
，
……
，F
s
}和F对应的第一中间电压值列表F0={F
01
，F
02
，
……
，F
0r
，
……
，F
0s
}，F
r
为A对应的第r个第一中间像素点位置ID，F
0r
为F
r
对应的第一中间电压值，r=1，2
……
s，s为第一中间像素点位置ID数量，其中，当i=1时，将A
i
作为第一中间像素点位置ID，B
i
作为第一中间电压值；S403、若B
i
‑
B
i+1
＞B0，将A
i
作为第二中间像素点位置ID，B
i
作为第二中间电压值，以得到A对应的第二中间像素点位置ID列表G={G1，G2，
……
，G
x
，
……
，G
p
}和G对应的第二中间电压值列表G0={G
01
，G
02
，
……
，G
0x
，
……
，G
0p
}，G
x
为A对应的第x个第二中间像素点位置ID，G
0x
为G
x
对应的第二中间电压值，x=1，2
……
p，p为第二中间像素点位置ID数量，其中，当i=m时，将A
i
作为第二中间像素点位置ID，B
i
作为第二中间电压值；S405、当s=p且每一F
0r
与G
0p
‑
r+1
一致时，获取D，否则，执行S407步骤，其中，在S405步骤中还包括如下步骤获取D
j
：S4051、当n为奇数且j≤（n+1）/2时，D
j
符合如下条件：；Δf=（F
0s
‑
F
0s
‑1）/（F
s
‑
F
s
‑1）；
其中，当j=1时，；S4053、当n为奇数且j＞（n+1...
【专利技术属性】
技术研发人员：代红林，
申请(专利权)人：天津宜科自动化股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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