【技术实现步骤摘要】
一种静电场轨道阱、畸变场调节装置以及调节方法
[0001]本专利技术涉及质谱仪领域,特别是涉及一种静电场轨道阱、畸变场调节装置以及调节方法。
技术介绍
[0002]质谱仪器发展至今,已经产生了多种形式的质量分析器,并且分辨率也是与日俱进。目前国际上公认的高分辨质谱仪器就属傅里叶变换离子回旋共振质谱仪(FT
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ICR
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MS)和静电场轨道阱质谱仪(Orbitrap
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MS)。FT
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ICR
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MS采用的是超导磁体对离子进行约束,其分辨本领可以达到几百万。然而,由于FT
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ICR
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MS体积庞大、内部的超导磁体造价和维护成本高,不能满足大部分市场需求,无法实现此类仪器的商品化。而近年来,商品化的Orbitrap
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MS不需要超导磁体,体积小,成本相对更低,也能达到百万的质量分辨率,产生了巨大的应用市场。
[0003]静电场轨道阱(Orbitrap)是在Kingdon离子阱的基础上 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种静电场轨道阱,其特征在于,包括:内电极、一对外电极和补偿电极;一对所述外电极套设在所述内电极的外部;一对所述外电极之间有狭缝;所述补偿电极与所述狭缝处于同一平面,且所述补偿电极的内径大于所述外电极的最大外径;所述内电极、一对所述外电极以及所述补偿电极形成圆柱形对称。2.根据权利要求1所述的静电场轨道阱,其特征在于,所述补偿电极的壁厚小于等于0.1mm。3.一种静电场轨道阱的畸变场调节装置,其特征在于,包括权利要求1
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2任一项所述的静电场轨道阱和控制器;所述控制器与所述静电场轨道阱的补偿电极连接;所述控制器包括:补偿电压施加模块,用于对所述静电场轨道阱中的补偿电极施加补偿电压;参数获取模块,用于获取所述静电场轨道阱内离子的基本参数;所述基本参数包括电荷量和质量;调节量确定模块,用于根据所述基本参数确定所述补偿电压的调节量;畸变场修正模块,用于根据所述调节量调节所述补偿电压,以修正所述静电场轨道阱产生的畸变场。4.根据权利要求3所述的静电场轨道阱的畸变场调节装置,其特征在于,所述调节量确定模块,包括:频率计算单元,用于根据所述电荷量和所述质量,确定所述离子的轴向振动频率;飞行周期计算单元,用于根据所述轴向振动频率确定所述飞行周期;调节量确定单元,用于根据所述飞行周期确定所述补偿电压的调节量。5.根据权利要求4所述的静电场轨道阱的畸变场调节装置,其特征在于,所述调节量确定单元,包括:判断子单元,用于判断所述飞行周期是否等于初始飞行周期;第一执行子单元,用于若所述飞行周期不等于所述初始飞行周期,则确定所述飞行周期与所述初始飞行周期的误差;调节量确定子单元,用于根据所述误差确定所...
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