本发明专利技术公开了一种烤箱及其温度均匀性测试方法、装置和存储介质，其中，烤箱包括测温实验载体，测试实验载体均匀分布有多个热电偶载体，方法包括：控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间；在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值；获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。由此，通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。提升烤箱的温度均匀性的测试精度。提升烤箱的温度均匀性的测试精度。
【技术实现步骤摘要】
烤箱及其温度均匀性测试方法、装置和存储介质
[0001]本专利技术涉及烤箱
，尤其涉及一种烤箱的温度均匀性测试方法、一种计算机可读存储介质、一种烤箱的温度均匀性测试装置和一种烤箱。
技术介绍
[0002]随着集成灶系列产品的普及，现代家庭烹饪逐渐向精细化发展，菜谱内容趋向多元化，蒸烤功能在日常烹饪中愈发受到用户重视，相比于传统电烤箱而言，燃气烤箱在加热速度上有明显的优势，其加工出来的食品风味也有不同。
[0003]然而，区别于电烤箱50℃～250℃左右的加热温度范围，仅靠风机增强热对流加热食物，燃气烤箱的最高加热温度可达到450℃，且以火焰的热辐射为主，并与热对流同时加热食物，因此，由于食物的受热方式存在差异，亟需一种判断燃气烤箱加热均匀性的测试手段。
技术实现思路
[0004]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的第一个目的在于提出一种烤箱的温度均匀性测试方法，能够通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。
[0005]本专利技术的第二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。
[0006]本专利技术的第三个目的在于提出一种烤箱的温度均匀性测试装置。
[0007]本专利技术的第四个目的在于提出一种烤箱。
[0008]为达到上述目的，本专利技术第一方面实施例提出了一种烤箱的温度均匀性测试方法，其中，所述烤箱包括测温实验载体，所述测试实验载体均匀分布有多个热电偶载体，所述方法包括：控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制所述烤箱持续加热第一预设时间；在所述烤箱持续加热第一预设时间后，控制所述烤箱停止加热，直至所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值；获取所述多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据所述温度数据生成温度曲线，所述温度曲线用于确定所述烤箱的温度均匀性。
[0009]根据本专利技术实施例的烤箱的温度均匀性测试方法，通过控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间，进而，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值，以及，获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。由此，通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。
[0010]另外，根据本专利技术上述实施例的烤箱的温度均匀性测试方法，还可以包括如下的
附加技术特征：
[0011]根据本专利技术的一个实施例，所述温度曲线包括升温曲线和降温曲线，所述升温曲线用于确定所述烤箱在升温过程中的温度均匀性，所述降温曲线用于确定所述烤箱在降温过程中的温度均匀性。
[0012]根据本专利技术的一个实施例，在所述控制烤箱以预设功率进行加热之前，所述方法还包括：控制所述烤箱排空烤箱内残余燃气，并在确定所述烤箱满足预设测试条件后，控制烤箱以所述预设功率进行加热。
[0013]根据本专利技术的一个实施例，所述预设测试条件包括烤箱的腔体温度达到预设温度阈值，且烤箱的腔体压力达到预设压力阈值。
[0014]根据本专利技术的一个实施例，所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值之后，所述方法还包括：控制所述烤箱打开烤箱门，以使所述测温实验载体冷却至室温。
[0015]根据本专利技术的一个实施例，所述多个热电偶载体均匀分布在所述测试实验载体的正面和反面。
[0016]根据本专利技术的一个实施例，所述多个热电偶载体的外表面喷涂有耐高温黑色油漆，且所述多个热电偶载体的内部留有热电偶原件的插入口。
[0017]为达到上述目的，本专利技术第二方面实施例提出的计算机可读存储介质,其上存储有烤箱的温度均匀性测试程序，该烤箱的温度均匀性测试程序被处理器执行时实现上述本专利技术实施例的烤箱的温度均匀性测试方法。
[0018]根据本专利技术实施例的计算机可读存储介质，通过处理器执行其上存储有的烤箱的温度均匀性测试程序，能够通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。
[0019]为达到上述目的，本专利技术第三方面实施例提出了一种烤箱的温度均匀性测试装置，其中，所述烤箱包括测温实验载体，所述测试实验载体均匀分布有多个热电偶载体，所述装置包括：控制模块，所述控制模块用于，控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制所述烤箱持续加热第一预设时间；以及，在所述烤箱持续加热第一预设时间后，控制所述烤箱停止加热，直至所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值；分析模块，所述分析模块用于获取所述多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据所述温度数据生成温度曲线，所述温度曲线用于确定所述烤箱的温度均匀性。
[0020]根据本专利技术实施例的烤箱的温度均匀性测试装置，通过控制模块控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制烤箱持续加热第一预设时间，以及，在烤箱持续加热第一预设时间后，控制烤箱停止加热，直至烤箱内部温度冷却至第二温度阈值，并通过分析模块获取多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据温度数据生成温度曲线，温度曲线用于确定烤箱的温度均匀性。由此，通过分布在测试实验载体上的多个热电偶载体，准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。
[0021]为达到上述目的，本专利技术第四方面实施例提出的烤箱，包括上述本专利技术实施例的烤箱的温度均匀性测试装置。
[0022]根据本专利技术实施例的烤箱，通过采用前述的烤箱的温度均匀性测试装置，能够准确检测烤箱内部温度变化，真实反馈烤箱内部温度分布，从而，通过温度数据准确表征烤箱
内部温度场，提升烤箱的温度均匀性的测试精度。
[0023]本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0024]图1是根据本专利技术一个实施例的测温实验载体的安装示意图；
[0025]图2是根据本专利技术一个实施例的热电偶载体的安装示意图；
[0026]图3是根据本专利技术一个实施例的热电偶载体的结构示意图；
[0027]图4是根据本专利技术实施例的烤箱的温度均匀性测试方法的流程示意图；
[0028]图5是根据本专利技术一个具体实施例的烤箱的温度均匀性测试方法的流程示意图；
[0029]图6是根据本专利技术实施例的烤箱的温度均匀性测试装置的方框示意图；
[0030]图7是根据本专利技术实施例的烤箱的方框示意图。
具体实施方式
[0031]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种烤箱的温度均匀性测试方法，其特征在于，所述烤箱包括测温实验载体，所述测试实验载体均匀分布有多个热电偶载体，所述方法包括：控制烤箱以预设功率进行加热，直至烤箱内部温度达到第一温度阈值，并控制所述烤箱持续加热第一预设时间；在所述烤箱持续加热第一预设时间后，控制所述烤箱停止加热，直至所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值；获取所述多个热电偶载体检测到的温度数据，并根据所述温度数据生成温度曲线，所述温度曲线用于确定所述烤箱的温度均匀性。2.根据权利要求1所述的烤箱的温度均匀性测试方法，其特征在于，所述温度曲线包括升温曲线和降温曲线，所述升温曲线用于确定所述烤箱在升温过程中的温度均匀性，所述降温曲线用于确定所述烤箱在降温过程中的温度均匀性。3.根据权利要求1所述的烤箱的温度均匀性测试方法，其特征在于，在所述控制烤箱以预设功率进行加热之前，所述方法还包括：控制所述烤箱排空烤箱内残余燃气，并在确定所述烤箱满足预设测试条件后，控制烤箱以所述预设功率进行加热。4.根据权利要求3所述的烤箱的温度均匀性测试方法，其特征在于，所述预设测试条件包括烤箱的腔体温度达到预设温度阈值，且烤箱的腔体压力达到预设压力阈值。5.根据权利要求1所述的烤箱的温度均匀性测试方法，其特征在于，所述烤箱内部温度冷却至第二温度阈值之后，所述方法还包括：控制所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李嘉瑞，周斯曼，陆祖安，孙飞，
申请(专利权)人：芜湖美的智能厨电制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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