【技术实现步骤摘要】
一种光谱分析电路检测装置
[0001]本技术属于光谱检测
,尤其涉及一种光谱分析电路检测装置。
技术介绍
[0002]在日常生活以及科学研究中,为了能够更加准确的反映出气体中相应物质的浓度,光学检测方法得到越来越广泛的应用,利用光学检测方法可以通过光谱来测量溶液的吸光度等指标,进而反映出相应物质的浓度。
[0003]其中,集成电路作为与光机模组相对应连接的电路分析控制模块,在使用前需要对集成电路进行组焊及排版故障的检测与分类。但是,目前针对集成电路的组焊及排版故障的检测与分类操作通常是由人工通过检测工具逐一检测,效率低且无法快速对电路故障排查筛选,尤其是不能实现集成电路的批量检测,存在漏检、错焊假焊漏检的情况出现,增加了作业人员的劳动强度。
技术实现思路
[0004]本技术提供一种光谱分析电路检测装置,旨在解决集成电路的批量检测的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
[0006]一种光谱分析电路检测装置,包括闸式手柄、下压手柄、压板、上盖板、电路放置板、上层电 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光谱分析电路检测装置,包括闸式手柄(1)、下压手柄(3)、压板(4)、上盖板(5)、电路放置板(7)、上层电路(8)、探针电路(9)、待测集成电路(10)以及电路检测壳体,其特征在于,所述电路放置板(7)上设有用于批注装入多组待测集成电路(10)的放置槽,多组所述待测集成电路(10)放置在所述电路放置板(7)形成集成电路置换模块;所述电路放置板(7)放置在电路检测壳体内且所述待测集成电路(10)上方设有上层电路(8)以及探针电路(9),所述探针电路(9)为顶针(16)检测定位装置,所述探针电路(9)的电路探针与待测集成电路(10)连接,所述探针电路(9)通过上层电路(8)连接电源板(11),所述电源板(11)为待测集成电路(10)供电;所述上盖板(5)位于层叠分布的待测集成电路(10)、探针电路(9)以及上层电路(8)上方,所述上盖板(5)上方设有压板(4),所述压板(4)连接有闸式手柄(1)和下压手柄(3),用于对压板(4)以及上盖板(5)下压使探针电路(9)的电路探针预压及释放电路放置板(7)内放置的待测集成电路(10)。2.如权利要求1所述的一种光谱分析电路检测装置,其特征在于,所述探针电路(9)的电路探针与待测集成电路(10)的测试点位规则对应。3.如权利要求2所述的一种光谱分析电路检测装置,其特征在于,...
【专利技术属性】
技术研发人员:李幼安,
申请(专利权)人:国科瀚海激光科技北京有限公司,
类型:新型
国别省市:
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