输入装置制造方法及图纸

技术编号:3773023 阅读:289 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种减少构成检测部的层数来降低制造成本而且压敏式 检测部上面的层容易变形的输入装置。在压敏式检测部(20)的上面重 叠设置根据电容变化来检测手指接触位置的静电容量式检测部(30),上 述压敏式检测部(20)具有形成在下部基材薄板(21)上的下侧检测层 (25)和形成在上部基材薄板(22)上的上侧检测层(27)。因为在压敏 式检测部(20)和静电电容式检测部(30)之间没有设置金属屏蔽层, 所以可减少压敏式检测部(20)上面的层数,而且可使上面的层容易变 形。因为设定成给压敏式检测部(20)通电和给静电容量式检测部(30) 通电的时间不重复,所以可防止两个检测部的检测工作互相干涉。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种根据阻抗值的变化来检测按压位置的压敏式检测部和 根据电容变化来检测手指等指示体的接近位置的静电容量式检测部相重叠 在一起的输入装置,关系到可构成又薄又具有软性并且可高度维持两个检 测部的检测精度的输入装置。
技术介绍
下列专利文献1公开了配备在个人计算机等上的输入装置。该输入装 置在根据阻抗值的变化来检测按压位置的压敏式检测部的上面重叠设置了 根据电容变化来检测手指等导电性指示体的接近的静电容量式检测部。在 位于上侧的静电容量式检测部,在挠性树脂薄膜上形成了电极。当手指等指示体接触到输入装置的表面时,可通过静电容量式检测部 检测其接触位置。而且,当用输入笔等来按压该输入装置的表面时,静电 容量式检测部变形而由位于其底下的压敏式检测部工作,从而可检测输入 笔等所按压的位置。在该输入装置中,当给压敏式检测部的导电层或者阻抗层通电时,在 其电荷的影响下,静电容量式检测部的电容变化的检测精度就极端下降, 而实质上无法使用静电容量式检测部。因此,通常在压敏式检测部和静电 容量式检测部之间夹上由具有地电位的导电体层来形成的屏蔽层。专利文献l:(日本)特开2001—243010本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种输入装置,其特征在于, 设有:压敏式检测部,下侧检测层和上侧检测层隔着间隙相对置,并可根据阻抗值的变化来检测上述下侧检测层和上述上侧检测层相接触的位置;及静电容量式检测部,具有隔着绝缘层向互相正交的方向延伸的多个X驱动电极和多个Y驱动电极,并可根据电极间的电容变化来检测指示体所接近的位置, 在上述压敏式检测部的上面重叠设置上述静电容量式检测部,在上述静电容量式检测部的上面设置挠性的护板, 上述上侧检测层形成在挠性树脂薄板上,上述X驱动电极、上述Y驱动电极及上述绝缘层形成在挠性树脂薄板上,在上述X驱动电极和上述Y驱动电极当中位于下侧的驱动电极和上述上侧检测层被上下配置而在其中间不存在其它金属...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:岸野真悟近道孝志贺贞一
申请(专利权)人:阿尔卑斯电气株式会社
类型:发明
国别省市:JP

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