一种强场微波毫米波模式测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种强场微波毫米波模式测量装置及方法，该装置在用于屏蔽的密闭箱体侧面上设置传输波导，箱体内与传输波导相对应设置有热敏靶，热敏靶一侧设置有热像仪，利用热像仪拍摄记录热敏靶发热形成的温度场分布，通过变化的温度场分布则由计算可得到微波毫米波的辐射场分布，通过辐射场分布反推得到传输波导内的微波毫米波模式；本发明专利技术根据强场分布与热量及温度分布的关系，在热测强场条件下能够快速、准确地进行微波毫米波强场分布(对应模式)的定量测量。模式)的定量测量。模式)的定量测量。

【技术实现步骤摘要】
一种强场微波毫米波模式测量装置及方法


[0001]本专利技术属于微波毫米波
，具体涉及一种强场微波毫米波模式测量装置及方法。

技术介绍

[0002]为获取热测实验条件下微波毫米波系统传输线内微波毫米波场强的精确分布，需开展热测强场条件下的模式测量。
[0003]由于受到强场的限制，近场扫描方法不能运用在强场的热测模式测量中。因此，目前常见的模式测量方法主要有：图像显示法、辐射场测量法和选模耦合法等，然而这些方法均存在分辨率低、响应速度慢，其难以满足强场微波毫米波模式分布的定量测试要求。
[0004]因此，需要研究满足热测强场条件下的快速、准确的模式定量测量技术。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术提出了一种强场微波毫米波模式测量装置及方法，该装置基于红外成像法的截断式模式诊断技术，实现对强场条件下的微波毫米波模式的准确测量，解决了热测强场条件下的快速、准确的模式定量测量问题。
[0006]为达此目的，本专利技术第一方面提供一种强场微波毫米波模式测量装置，所述装置包括：箱体、传输波导、热敏本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种强场微波毫米波模式测量装置，其特征在于，所述装置包括：箱体、传输波导、热敏靶和热像仪；所述箱体为密闭箱体，位于装置外侧；所述传输波导设置在箱体的其中一个侧壁上；所述热敏靶、轨道和热像仪均位于箱体内侧；所述热敏靶通过第二轨道设置在可以改变热敏靶与传输波导相对距离的第一轨道上，且热敏靶靶面与传输波导相对；热像仪通过第三轨道设置在可以改变热像仪与热敏靶相对距离与角度的第二轨道上，且热像仪位于热敏靶远离传输波导的一侧。2.根据权利要求1所述的强场微波毫米波模式测量装置，其特征在于，所述第二轨道沿着第一轨道做直线运动，所述第三轨道一端与第二轨道连接，且沿着第二轨道做圆弧运动。3.根据权利要求1所述的强场微波毫米波模式测量装置，其特征在于，所述热敏靶安装在第三轨道与第二轨道的连接处。4.根据权利要求1所述的强场微波毫米波模式测量装置，其特征在于，所述装置还包括用于测量传输波导、热敏靶和热像仪之间相对距离的激光测距仪。5.根据权利要求4所述的强场微波毫米波模式测量装置，其特征在于，所述激光测距仪包括：设置在热敏靶面的第一激光测距仪和第二激光测距仪，以及设置在热像仪安装架上的第三激光测距仪。6.根据权利要求5所述的强场微波毫米波模式测量装置，其特征在于，所述第一激光测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈代兵，蒋里芳，杨成梁，赵海，井庆祝，赵柳，刘洋，谢晓峰，郑贵强，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院电子工程研究所，
类型：发明
国别省市：