用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备制造方法及图纸

本申请涉及报警感测器测试技术领域，公开一种用于测试报警感测器极限参数的方法，包括：获得报警感测器的档位分布；根据档位分布计算报警感测器的第一测试参数；其中，第一测试参数为不易触发报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数；基于第一测试参数，对报警感测器的极限参数进行遍历测试。由于采用的第一测试参数为根据报警感测器的档位分布确定的测试参数，不易触发报警感测器的非正常工作参数范围，因而可以降低由于施加的测试参数超出报警感测器的正常工作范围而导致报警感测器测试失效的情况发生，有效提高了报警感测器的测试良率。本申请还公开一种用于测试报警感测器极限参数的装置及电子设备。测器极限参数的装置及电子设备。测器极限参数的装置及电子设备。

【技术实现步骤摘要】
用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备


[0001]本申请涉及报警感测器测试
，例如涉及一种用于测试报警感测器极限参数的方法及装置、电子设备。

技术介绍

[0002]芯片报警感测器，是为了保护芯片在正常的外部条件下工作。在超出正常工作条件的情况下，会触发相应的芯片报警感测器，芯片启动自保护，停止工作。例如，当芯片外部施加电压过低，芯片内部部分模块功能可能异常，进而导致芯片工作异常。如果芯片外部施加电压低于低压报警感测器配置的档位值，此时会触发低压报警感测器，使芯片启动自保护，停止工作。
[0003]在测试芯片报警感测器的极限参数(例如低压报警感测器各个档位的低压报警参数)的过程中，给报警感测器施加期望的不报警极限参数和报警极限参数，按照档位从大到小或从小到大的方式进行遍历测试，通过判断报警感测器的报警和不报警表现，验证报警感测器的各个分布档位是否满足报警要求。
[0004]在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：
[0005]在测试芯片报警感测器的极限参数的过程中，直接施加期望的不报警本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试报警感测器极限参数的方法，其特征在于，包括：获得报警感测器的档位分布；根据所述档位分布计算所述报警感测器的第一测试参数；其中，所述第一测试参数为不易触发所述报警感测器的非正常工作参数范围的测试参数；基于所述第一测试参数，对所述报警感测器的极限参数进行遍历测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述档位分布计算所述报警感测器的第一测试参数，包括：获得所述报警感测器的极限报警参数；获得所述档位分布的档位分布差值；基于所述极限报警参数，根据所述档位分布差值计算所述第一测试参数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获得所述档位分布的档位分布差值，包括按照如下公式计算所述档位分布差值：其中，ΔP为档位分布差值，ΔP1为第一个档位分布差值，ΔP
n
为第n个档位分布差值，n为档位分布差值的个数，n≥2。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一测试参数包括第一测试参数上限值和第一测试参数下限值；所述基于所述极限报警参数，根据所述档位分布差值计算所述第一测试参数，包括按照如下公式计算所述第一测试参数上限值和所述第一测试参数下限值：其中，P
up1
为第一测试参数上限值，P
down1
为第一测试参数下限值，P
goal
为极限报警参数，ΔP为档位分布差值，N为划分系数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述报警感测器的极限参数包括上极限参数和下极限参数；所述基于所述第一测试参数，对所述报警感测器的极限参数进行遍历测试，包括：在所述报警感测器的极限参数为上极限参数的情况下，基于所述第一测试参数，按照从上限档位到下限档位的顺序对所述上极限参...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凯亮，胡博，陈凝，马迁，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：