一种用于电力二次设备的单粒子效应检验测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于电力二次设备的单粒子效应检验测试系统，属于电力二次设备技术领域。本发明专利技术包括：反射镜1，用于接收激光信号；梯度衰减器，对激光信号进行梯度衰减处理；连续衰减器，对进行梯度衰减后的激光信号经过连续衰减处理；反射镜2，将经过连续衰减后的激光信号反射至空间滤波扩束镜；空间滤波扩束镜，将检测测试信号发射至分束器；分束器，按照预设比例对检验测试信号进行分束，通过分束器发射源将一束检测测试信号发射至激光能量计，另一束检验测试信号发射至被测样品，对被测样品进行单粒子效应检验测试；激光能量计，所述激光能量计用于测算激光信号参数。本发明专利技术能够检测电力装置抗粒子效应影响的能力。测电力装置抗粒子效应影响的能力。测电力装置抗粒子效应影响的能力。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电力二次设备的单粒子效应检验测试系统


[0001]本专利技术涉及电力二次设备
，并且更具体地，涉及一种用于电力二次设备的单粒子效应检验测试系统。

技术介绍

[0002]随着半导体工艺向纳米技术进化，器件尺寸快速缩小，内存单元中的电容也越来越小，引起错误所需要的电荷也会随之降低，使内存单元很容易发生单粒子翻转。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本专利技术提供了一种用于电力二次设备的单粒子效应检验测试系统，包括：
[0004]反射镜1，所述反射镜1用于接收激光信号，并将激光信号反射至梯度衰减器；
[0005]所述激光信号的中子通量，根据激光信号参数、被测样品的应用场景和寿命进行调节；
[0006]梯度衰减器，所述梯度衰减器用于对激光信号进行梯度衰减处理，并将经过梯度衰减后的激光信号发射至连续衰减器；
[0007]连续衰减器，所述连续衰减器用于对进行梯度衰减后的激光信号经过连续衰减处理，并将连续衰减后的激光信号发射至反射镜2；
[0008]反射镜2，所述反射镜2用于接收经过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电力二次设备的单粒子效应检验测试系统，其特征在于，所述系统包括：反射镜1，所述反射镜1用于接收激光信号，并将激光信号反射至梯度衰减器；所述激光信号的中子通量，根据激光信号参数、被测样品的应用场景和寿命进行调节；梯度衰减器，所述梯度衰减器用于对激光信号进行梯度衰减处理，并将经过梯度衰减后的激光信号发射至连续衰减器；连续衰减器，所述连续衰减器用于对进行梯度衰减后的激光信号经过连续衰减处理，并将连续衰减后的激光信号发射至反射镜2；反射镜2，所述反射镜2用于接收经过连续衰减后的激光信号，并将经过连续衰减后的激光信号反射至空间滤波扩束镜；空间滤波扩束镜，所述空间滤波扩束镜用于对经过连续衰减后的激光信号进行预处理，输出检验测试信号，并将检测测试信号发射至分束器；分束器，所述分束器用于按照预设比例对检验测试信号进行分束，通过分束器发射源将一束检测测试信号发射至激光能量计，另一束检验测试信号发射至被测样品；检验测试器，所述检验测试器在另一束检验测试信号发射至被测样品后，对被测样品进行单粒子效应检验测试；所述对被测样品进行单粒子效应检验测试，包括：监测被测样品在接收另一束检验测试信号后，被测样品的运行状况，根据运行状况确定被测样品，抗单粒子效应的能力；激光能量计，所述激光能量计用于测算激光信号参数。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述反射镜1，反射镜2与激光信号方向呈45
°
角，所述分束器与检验测试信号方向呈45
°
角。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述对经过连续衰减后的激光信号进行预处理，包括：对对经过连续衰减后的激光信号进行滤波处理，并改变激信号直径和发散...

【专利技术属性】
技术研发人员：张逸帆，施文，张晓莉，张嘉澍，闫振华，张庆平，张国良，韩强，李小宗，张欣，李娟娟，戚素娟，
申请(专利权)人：国家电网有限公司国网宁夏电力有限公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：