用于扫描电化学池显微镜成像的探针及其制备方法技术

本发明专利技术属于电化学技术领域，公开了一种用于扫描电化学池显微镜成像的探针及其制备方法，对常规的玻璃探针的尖端进行疏水或亲油性修饰，修饰后在尖端形成疏水或亲油性修饰层。本发明专利技术通过对直径为10nm

【技术实现步骤摘要】
用于扫描电化学池显微镜成像的探针及其制备方法


[0001]本专利技术属于电化学
，具体的说，用于扫描电化学池显微镜(SECCM)高分辨成像的探针及其制备方法。

技术介绍

[0002]扫描电化学池显微镜(SECCM)作为最新一代的扫描电化学探针显微技术，可以同时获得样品的形貌学和电化学活性信息，用于直接研究材料结构
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活性的关联。自2010年发展以来得到了很大的发展，也广泛应用于纳米颗粒、碳基材料、多晶材料、半导体材料、储能材料、腐蚀科学以及合成制造等领域。
[0003]SECCM使用的探针通常是单通道或者双通道的玻璃毛细管，材质一般是硼硅酸盐玻璃或石英玻璃。SECCM测试过程中，不需要将样品浸泡在溶液中，仅通过探针末端形成的弯月形液滴与目标区域的短暂接触，获取样品表面的形貌和电化学活性信息。通过液滴针尖与样品的程序性接触，进行目标区域的测试，最终得到样品表面的图像信息。因此，SECCM的探针针尖并不单纯是玻璃毛细管的玻璃尖端，而是探针末端形成的弯月形液滴针尖。测试过程中通常会有电解液残留，这极大地限制了SECCM本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于扫描电化学池显微镜成像的探针，包括常规的玻璃探针，其特征在于，所述玻璃探针的尖端覆盖有疏水或亲油性修饰层，所述疏水或亲油性修饰层的厚度为0.001
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2μm。2.根据权利要求1所述的一种用于扫描电化学池显微镜成像的探针，其特征在于，所述玻璃探针为硼硅酸盐玻璃探针或石英玻璃探针，所述玻璃探针的开孔直径为10nm
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1μm。3.根据权利要求1所述的一种用于扫描电化学池显微镜成像的探针，其特征在于，能够实现相邻像素点的重叠性测试。4.根据权利要求1所述的一种用于扫描电化学池显微镜成像的探针，其特征在于，能够实现在酸性、中性和碱性电解液中的应用。5.一种用于扫描电化学池显微镜成像的探针制备方法，其特征在于，对常规的玻璃探针的尖端进行疏水或亲油性修饰，修饰后在所述尖端形成疏水或亲油性修饰层，所述疏水或亲油性修饰层的厚度为0.001
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2μm。6.根据权利要求5所述的一种用于扫描电化学池显微镜成像的探针制备方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：马雷，刘根，马彦青，李浩，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：