边缘缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种边缘缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于图像处理技术领域。该方法包括：获取待检测工件图像；确定所述待检测工件图像中边缘轮廓处的目标检测区域；根据边缘轮廓像素值的正态分布，确定所述目标检测区域的目标分割阈值；基于所述目标分割阈值对所述目标检测区域进行分割，得到第一缺陷检测区域；基于所述第一缺陷检测区域的图像特征数据，确定所述第一缺陷检测区域的缺陷检测结果。该方法通过边缘轮廓像素值的正态分布，确定疑似存在缺陷的第一缺陷检测区域，对轮廓上的缺陷就进行初筛，根据第一缺陷检测区域的图像特征数据进行复判，可以在保证无过检和漏检的前提下，对轮廓边缘的微弱缺陷进行准确检测。测。测。

【技术实现步骤摘要】
边缘缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请属于图像处理
，尤其涉及一种边缘缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在工业检测中，可以通过光源来设置差异性较大的背景，以凸显检测产品的轮廓，针对轮廓上的缺陷，常采用提取轮廓的方法进行边缘缺陷检测。
[0003]但是面对一些如轮廓相对不规则或与正常轮廓类似的轮廓边缘的微弱缺陷时，提取轮廓的方法会受到产品表面的纹理影响，缺陷检测的准确度大大降低，当轮廓和背景差异性较小，也容易造成产品的过检或漏检，良品检测的准确度较低。
[0004]因此，如何在保证无过检和漏检的前提下，如何准确地检出轮廓边缘的微弱缺陷是工业检测中亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种边缘缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，可以在保证无过检和漏检的前提下，对轮廓边缘的微弱缺陷进行准确检测。
[0006]第一方面，本申请提供了一种边缘缺陷检测方法，该方法包括：
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种边缘缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待检测工件图像；确定所述待检测工件图像中边缘轮廓处的目标检测区域；根据边缘轮廓像素值的正态分布，确定所述目标检测区域的目标分割阈值；基于所述目标分割阈值对所述目标检测区域进行分割，得到第一缺陷检测区域；基于所述第一缺陷检测区域的图像特征数据，确定所述第一缺陷检测区域的缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述根据边缘轮廓像素值的正态分布，确定所述目标检测区域的目标分割阈值，包括：对所述目标检测区域的边缘轮廓进行二阶求导，并获取所述目标检测区域的像素标准差和像素均值；根据边缘轮廓像素值的正态分布，基于所述像素标准差和所述像素均值，确定所述目标分割阈值。3.根据权利要求1所述的边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述目标分割阈值对所述目标检测区域进行分割，得到第一缺陷检测区域，包括：基于所述目标分割阈值，分割所述目标检测区域中的第一轮廓区域，保留所述目标检测区域中的第二轮廓区域，所述第一轮廓区域用于表征正常轮廓像素点所在的区域，所述第二轮廓区域用于表征异常轮廓像素点所在的区域；将所述第二轮廓区域确定为所述第一缺陷检测区域。4.根据权利要求1
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3任一项所述的边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述第一缺陷检测区域的图像特征数据，确定所述第一缺陷检测区域的缺陷检测结果，包括：获取所述第一缺陷检测区域的第一图像特征数据，并获取所述目标检测区域中的第一轮廓区域的第二图像特征数据，所述第一轮廓区域用于表征正常轮廓像素点所在的区域；基于所述第一图像特征数据和所述第二图像特征数据，确定所述第一缺陷检测区域的缺陷检测结果。5.根据权利要求4所述的边缘缺陷检测方法，其特征在于，所述第一图像特征数据为所述第一缺陷检测区域的第一灰度均值，所述第二图像特征数据为所述第一轮廓区域的第二灰度均值，所述基于所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王奔，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：