一种光模块在位检测方法及装置制造方法及图纸

技术编号:37708498 阅读:16 留言:0更新日期:2023-06-01 23:59
本发明专利技术揭示了一种光模块在位检测方法及装置。方法包括获取光模块在位检测信号的边沿变化状态,根据边沿变化状态确定光模块的在位状态信息,并将在位状态信息通过中断传输至处理器中,处理器根据所述在位状态信息确定光模块的状态。本发明专利技术能够实时检测光模块是否在位并且减少处理器的资源占用率。并且减少处理器的资源占用率。并且减少处理器的资源占用率。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块在位检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及光模块监测
,尤其涉及一种光模块在位检测方法及实现该光模块在位检测方法的装置。

技术介绍

[0002]光模块是一种可进行光电转换和电光转换的光电子器件,其可插入路由器、交换机、传输设备等几乎所有网络信号收发设备中。光模块支持热插拔操作并可支持各种不同的数据传输速率,如1Gbit/s等等。光模块在实际应用时,经常会出现插拔现象,系统通常会对每个可插拔端口进行实时监控,以确定光模块是否在位。系统在监测光模块是否在位时,常通过检测光模块的在位信号引脚的电压状态来判断光模块是否在位,如对于QSFP光模块或者SFP光模块,其在位信号引脚一般通过上拉电阻上拉至预设电压,并在该在位信号引脚与CPU的GPIO引脚或者逻辑器件的输入引脚连接,系统通过周期性地检测该在位信号引脚的电压状态来确定光模块是否在位。然而,系统通过轮询的方式获取在位信号引脚的电压状态会占用大量的CPU资源,导致CPU占用率高。同时,系统通过轮询来获取在位信号引脚的电压状态需要耗费大量的时间,当光模块短时间内快速插拔时,则无法检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块在位检测方法,其特征在于,包括如下步骤:获取光模块在位检测信号的边沿变化状态,根据所述边沿变化状态确定光模块的在位状态信息,并将所述在位状态信息通过中断传输至处理器中,其中,所述边沿变化状态包括上升沿状态和下降沿状态;所述处理器根据所述在位状态信息确定光模块的状态。2.根据权利要求1所述的光模块在位检测方法,所述根据所述边沿变化状态确定光模块在位状态信息包括:当边沿变化状态为下降沿状态时,所述在位状态信息为第一预设信息,所述第一预设信息用于标识光模块处于在位状态;当边沿变化状态为上升沿状态时,所述在位状态信息为第二预设信息,所述第二预设信息用于标示光模块处于不在位状态。3.根据权利要求2所述的光模块在位检测方法,所述处理器根据所述在位状态信息确定光模块的状态包括:判断在位状态信息是否为第一预设信息,并在为第一预设信息时确定光模块处于在位状态;判断在位状态信息是否为第二预设信息,并在为第二预设信息时确定光模块处于不在位状态。4.根据权利要求1所述的光模块在位检测方法,通过CPLD获取光模块在位检测信号的边沿变化状态,并根据所述边沿变化状态确定光模块在位状态信息,并将所述在位状态信息...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏全增张志军孔军
申请(专利权)人:苏州盛科通信股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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