制造指示评价支持系统、制造指示评价支持方法技术方案

技术编号:3769540 阅读:206 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种制造指示评价支持系统、制造指示评价支持方法。制造指示评价支持系统具有:数据读出单元,读出制造指示参数组以及与其对应的制造实绩数据;参数挑选单元,计算构成制造指示参数组的制造指示参数的每一个的危险率和危险率在制造指示参数之间的平均值,将危险率小于等于平均值的制造指示参数确定为选择候补;参数确定单元,针对制造指示参数组和选择候补的制造指示参数,利用多重回归分析程序计算说明变量选择基准值,在制造指示参数组和选择候补的制造指示参数中将说明变量选择基准值大的制造指示参数确定为最佳参数;以及回归式计算单元,利用多重回归分析程序计算并显示采用了最佳参数时的回归式。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及、以 及制造指示评价支持程序,具体而言涉及能够推测制造指示参数与制 造实绩的相关,能够根据制造实绩生成新的制造指示参数的技术。
技术介绍
在以往,产品制造的专门技术积累为作业者个人自己的信息,根 据现场操作、运行结果、质量信息等而抽取最佳的操作(控制),无 法将该信息活用成现场作业指示值。但是近年来,例如提出有如下的 营业利润改善支持系统等,该营业利润改善支持系统向用户催促营业的市场分析评价,来支持营业的利润改善,其特征在于,具备输入 部,输入规定的信息;处理部,根据利用上述输入部输入的上述规定 的信息,计算出规定的参数的值,根据所计算出的值决定上述规定的 参数的确立地位;以及显示部,对上述用户催促利用上述输入部输入 上述规定信息,并将由上述处理部决定的规定的参数的确立地位显示 在图表中,向上述用户催促营业的市场分析评价(参照 WO2003/081492号公报)。但是在以往技术中,不具有针对制造指示参数计算制造指示参数 与制造实绩值的相关的功能。因此,与以往同样地通过人的判断来针 对制造实缋值评价制造指示参数,评价结果积累为制造指示专门技 术。因此在生产管理系统等中,无法将针对制造指示参数的制造实绩 数据有效活用成新的制造指示数据。
技术实现思路
因此,本专利技术是鉴于上述课题而完成的,其目的在于提供一种能5够推测制造指示参数与制造实绩的相关,能够根据制造实缋生成新的 制造指示参数的技术。本专利技术的制造指示评价支持系统,其特征在于,具备存储装置, 存储参数表、制造实缋表和多重回归分析程序,该参数表存储与产品 制造相伴的制造指示的参数,该制造实绩表存储根据制造指示参数工 作的制造工序中的制造实缋数据,该多重回归分析程序执行多重回归 分析;数据读出单元,从上述参数表以及上述制造实绩表中读出制造 指示参数组以及与其对应的制造实绩数据并存储到存储器;参数挑选 单元,将上述存储器的制造指示参数组设为说明变量,将上述制造实 缋数据设为目的变量,利用上述多重回归分析程序计算构成上述制造 指示参数组的制造指示参数的每一个的危险率,并计算所计算出的危 险率在制造指示参数之间的平均值,在上述制造指示参数组中将危险率小于等于平均值的制造指示参数确定为选择候补;参数确定单元, 针对上述制造指示参数组和上述选择候补的制造指示参数,分别计算 多重相关系数、参数数和取样数,根据上述计算出的多重相关系数、 参数数和取样数,利用上述多重回归分析程序计算说明变量选择基准 值,在上述制造指示参数组和上述选择候补的制造指示参数中,将上 述计算出的说明变量选择基准值大的参数确定为最佳参数;以及回归 式计算单元,利用上述多重回归分析程序计算出采用了上述最佳参数 时的回归式,将上述回归式显示到输出接口。另外,在上述制造指示评价支持系统中,具备固定指示接受单元, 通过输入接口接受从存储在上述参数表中的制造指示参数中将参数 值设为固定的固定参数的指定和固定参数值,将上述参数表中的上述 固定参数的参数值置换成上述固定参数值。另外,在上述制造指示评价支持系统中,具备重新取得指示单元, 该重新取得指示单元监视利用上述参数挑选单元进行的上述危险率 计算、利用上述参数确定单元进行的多重相关系数计算或说明变量选 择基准值计算、利用上述回归式计算单元进行的回归式计算的处理结 果而检测出未得到计算结果的事项,向上述数据读出单元通知从上述6参数表以及上述制造实绩表中读出与最初读出的上述制造指示参数 組的参数共同但参数值不同的新的制造指示参数组以及与其对应的 制造实缋数据的指示。另外,在上述制造指示评价支持系统中,具备与网络上的其他装 置进行通信的通信装置,上述重新取得指示单元检测出未得到上迷计 算结果的事项,生成与最初读出的上述制造指示参数组的参数共同但 将参数值增减规定量的新的制造指示参数组,将该新的制造指示参数 組的数据通过上述通信装置发送给制造装置,上述制造指示评价支持 系统具备新制造实绩取得单元,该新制造实绩取得单元通过上述通信 装置与上述制造装置进行通信,接收与上述新的制造指示参数组对应 的制造实绩数据,并在上述制造实缋表中与上述新的制造指示参数组 对应地存储。另外,在上述制造指示评价支持系统中,上述重新取得指示单元 针对包含在上述回归式中的各制造指示参数,计算出在上述回归式中 提高规定基准的制造实绩的参数值,将上述计算出的各制造指示参数 的参数值通过上述通信装置发送给制造装置,上述制造指示评价支持 系统具备新制造实绩取得单元,该新制造实绩取得单元通过上述通信 装置与上述制造装置进行通信,接收与上述各制造指示参数的参数值 对应的制造实绩数据,并在上述制造实绩表中与包含在上述回归式中 的制造指示参数对应地存储。另外,在上述制造指示评价支持系统中,上述参数挑选单元检测 出确定为上述选择候补的制造指示参数是多个,反复执行构成上述选 择候补的制造指示参数的每一个的危险率计算和上述危险率的平均 值计算、和在上述选择候补中将危险率小于等于平均值的制造指示参 数新确定为该选择候补的处理,直到该新的选择候补成为 一个制造指 示参数为止,以确定多个选择候补,并且上述参数确定单元针对制造 指示参数组和上述多个选择候补的制造指示参数,分别计算多重相关 系数、参数数和取样数,根据上述计算出的多重相关系数、参数数和 取样数,利用上述多重回归分析程序计算说明变量选择基准值,在上述制造指示参数组和上述多个选择候补的制造指示参数中,将上述计 算出的说明变量选择基准值大的制造指示参数确定为最佳参数。另外,本专利技术的制造指示评价支持方法,其特征在于,计算机具 备存储参数表、制造实绩表和多重回归分析程序的存储装置,该参数 表存储与产品制造相伴的制造指示的参数,该制造实绩表存储根据制 造指示参数工作的制造工序中的制造实绩数据,该多重回归分析程序执行多重回归分析,该计算机执行如下处理从上述参数表以及上述 制造实绩表中读出制造指示参数组以及与其对应的制造实绩数据并 存储到存储器的处理;将上述存储器的制造指示参数组设为说明变 量,将上述制造实绩数据设为目的变量,利用上述多重回归分析程序 计算构成上述制造指示参数组的制造指示参数的每一个的危险率,并 计算所计算出的危险率在制造指示参数之间的平均值,在上述制造指 示参数组中将危险率小于等于平均值的制造指示参数确定为选择候 补的处理;针对上述制造指示参数组和上述选择候补的制造指示参 数,分别计算多重相关系数、参数数和取样数,根据上述计算出的多 重相关系数、参数数和取样数,利用上述多重回归分析程序计算说明 变量选择基准值,在上述制造指示参数组和上述选择候补的制造指示 参数中,将上述计算出的说明变量选择基准值大的参数确定为最佳参 数的处理;以及利用上述多重回归分析程序计算出采用了上述最佳参 数时的回归式,将上述回归式显示到输出接口的处理。另外,本专利技术的制造指示评价支持程序,其特征在于,使具备对 用于存储与产品制造相伴的制造指示的参数的参数表、用于存储^垂 制造指示参数工作的制造工序中的制造实绩数据的制造实绩表和用 于执行多重回归分析的多重回归分析程序进行存储的存储装置的计 算机执行如下步骤从上述参数表以及上述制造实绩表中读出制造指 示参数组以及与其对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种制造指示评价支持系统,其特征在于,具备: 存储装置,存储参数表、制造实绩表和多重回归分析程序,该参数表存储与产品制造相伴的制造指示的参数,该制造实绩表存储根据制造指示参数工作的制造工序中的制造实绩数据,该多重回归分析程序执行多重回 归分析; 数据读出单元,从上述参数表以及上述制造实绩表中读出制造指示参数组以及与其对应的制造实绩数据并存储到存储器; 参数挑选单元,将上述存储器的制造指示参数组设为说明变量,将上述制造实绩数据设为目的变量,利用上述多重回归分析程 序计算构成上述制造指示参数组的制造指示参数的每一个的危险率,并计算所计算出的危险率在制造指示参数之间的平均值,在上述制造指示参数组中将危险率小于等于平均值的制造指示参数确定为选择候补; 参数确定单元,针对上述制造指示参数组和上述选择候 补的制造指示参数,分别计算多重相关系数、参数数和取样数,根据上述计算出的多重相关系数、参数数和取样数,利用上述多重回归分析程序计算说明变量选择基准值,在上述制造指示参数组和上述选择候补的制造指示参数中,将上述计算出的说明变量选择基准值大的制造指示参数确定为最佳参数;以及 回归式计算单元,利用上述多重回归分析程序计算出采用了上述最佳参数时的回归式,并将上述回归式显示到输出接口。...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:塙信一郎中村功田所晓子保手滨敦典山本由纪子梅木春男近藤晃弘滨本洋一平冈贡一
申请(专利权)人:株式会社日立制作所
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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