本实用新型专利技术能够提供一种电气过应力测试装置，该装置包括：高清多媒体接口端子，包括第一输入端和第一输出端；其中，第一输出端用于连接待测试的电子设备，第一输入端包括多个输入引脚；多个通断开关，与多个输入引脚一一对应地连接；测试信号源发生设备，与多个通断开关分别连接；测试信号源发生设备用于发出电气过应力测试信号。本实用新型专利技术提供的电气过应力测试装置能够有效地减少电子设备电气过应力测试的测试时间以及提高测试效率，并极大地降低引脚漏测和错测的可能性。低引脚漏测和错测的可能性。低引脚漏测和错测的可能性。
【技术实现步骤摘要】
一种电气过应力测试装置
[0001]本技术涉及电气过应力测试领域，尤其涉及一种电气过应力测试装置。
技术介绍
[0002]电气过应力(EOS，Electrical Over Stress)问题是常见的电子元器件损坏的原因，EOS表现方式是过压或过流产生大量的热能，使电子元器件内部温度过高，从而损坏电子元器件，甚至损坏核心电路。随着电子设备数量越来越多，不同电子设备之间经常需要根据实际使用需求进行连接，该情况下EOS问题较明显，而且电子设备内部电子元器件也经常出现EOS问题；所以新研发的电子设备在研发的阶段就需要考虑EOS问题，评估电子设备等级和有效性时进行EOS测试。
[0003]现有的EOS测试装置依赖于简易的EOS测试夹具，通过测试夹具的一端夹住待测试设备的一个引脚(PIN)，测试夹具的另一端连接测试信号源发生设备，然后对该引脚进行EOS测试；在当前引脚测试完成后，再由测试工程师手动将测试夹具的一端夹住下一引脚后进行EOS测试，直至所有引脚测试完成。可见现有的EOS测试夹具要求工程师频繁地进行引脚更换和连接工作，不仅费时费力，而且容易出现电子设备的引脚漏测或错测等问题。
技术实现思路
[0004]为解决现有的EOS夹具存在的EOS测试过程中费时费力且容易出现漏测或错测问题，本技术提供了一种电气过应力测试装置，以达到明显提高电子设备EOS测试效率、避免引脚漏测和错测等技术目的。
[0005]为实现上述的技术目的，本技术提供一种电气过应力测试装置，该装置包括：高清多媒体接口端子，包括第一输入端和第一输出端；其中，第一输出端用于连接待测试的电子设备，第一输入端包括多个输入引脚；多个通断开关，与多个输入引脚一一对应地连接；测试信号源发生设备，与多个通断开关分别连接；测试信号源发生设备用于发出电气过应力测试信号。
[0006]本技术至少一个实施例中，通断开关为继电器或场效应管。
[0007]本技术至少一个实施例中，电气过应力测试装置还包括：微控制器，具有多个控制引脚；其中，多个控制引脚与多个通断开关一一对应地连接，微控制器用于控制通断开关导通或者关断。
[0008]本技术至少一个实施例中，电气过应力测试装置还包括：多个切换电路，分别一一对应地设置于多个控制引脚与多个通断开关之间；切换电路，包括三极管和第一电阻；三极管的基极与对应的控制引脚连接，三极管的发射极接地，第一电阻串联于三极管的集电极与电源之间；通断开关包括输入侧、输出侧及控制侧，输入侧连接测试信号源发生设备，输出侧与对应的输入引脚连接，控制侧与三极管的集电极与电源之间的节点连接。
[0009]本技术至少一个实施例中，切换电路还包括：二极管，二极管的正极连接三极管的集电极，二极管的负极连接第一电阻；其中，三极管的集电极与电源之间的节点与二极
管并联连接。
[0010]本技术至少一个实施例中，切换电路还包括：第二电阻，串联于三极管的基极与地之间。
[0011]本技术至少一个实施例中，切换电路还包括：第三电阻，串联于三极管的基极与对应的控制引脚之间。
[0012]本技术至少一个实施例中，电气过应力测试装置还包括：上位机和串口通信电路；上位机，通过串口通信电路与微控制器通信的第一引脚连接。
[0013]本技术至少一个实施例中，电气过应力测试装置还包括按键电路；按键电路，与微控制器的第二引脚连接。
[0014]本技术至少一个实施例中，电气过应力测试装置还包括信号连接器；信号连接器，包括一个第二输入端和多个第二输出端；其中，一个第二输入端连接测试信号源发生设备，多个第二输出端与多个通断开关一一对应地连接；测试信号源发生设备，通过信号连接器与多个通断开关分别连接。
[0015]本技术的有益效果包括：基于高清多媒体接口端子与多个通断开关的一一对应地连接，本技术只需通过一次接线连接即可对与高清多媒体接口端子连接的待测试的电子设备的多个引脚进行测试，实现通过本技术的电气过应力测试装置避免频繁地进行引脚更换和连接的问题，可见本技术提供的电气过应力测试装置能够有效地减少电子设备EOS测试时间以及提高电子设备EOS测试效率，本技术提供的电气过应力测试装置在EOS测试前将多个待测试的引脚进行连接，能够极大地降低引脚漏测和错测的可能性。
附图说明
[0016]图1示出了本技术一个或多个实施例中的一种结构形式的电气过应力测试装置的结构示意图。
[0017]图2示出了本技术一个或多个实施例中的另一结构形式的电气过应力测试装置的结构示意图。
[0018]图3示出了本技术一个或多个实施例中的再一结构形式的电气过应力测试装置的结构示意图
[0019]图4示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX2P引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0020]图5示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX1M引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0021]图6示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TXCM引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0022]图7示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX_ARC引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0023]图8示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX_HPD引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0024]图9示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX2M引
脚的切换电路的电路结构示意图。
[0025]图10示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX0P引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0026]图11示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TXCP引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0027]图12示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX_SCL引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0028]图13示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_HDMI_5V引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0029]图14示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX1P引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0030]图15示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX0M引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0031]图16示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX_CEC引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0032]图17示出了本技术一个或多个实施例中用于连接微控制器上的GPIO_TX_SDA引脚的切换电路的电路结构示意图。
[0033]图18示出本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电气过应力测试装置，其特征在于，所述装置包括：高清多媒体接口端子，包括第一输入端和第一输出端；其中，所述第一输出端用于连接待测试的电子设备，所述第一输入端包括多个输入引脚；多个通断开关，与所述多个输入引脚一一对应地连接；测试信号源发生设备，与所述多个通断开关分别连接；所述测试信号源发生设备用于发出电气过应力测试信号。2.根据权利要求1所述的电气过应力测试装置，其特征在于，所述通断开关为继电器或场效应管。3.根据权利要求1或2所述的电气过应力测试装置，其特征在于，所述装置还包括：微控制器，具有多个控制引脚；其中，所述多个控制引脚与所述多个通断开关一一对应地连接，所述微控制器用于控制所述通断开关导通或者关断。4.根据权利要求3所述的电气过应力测试装置，其特征在于，所述装置还包括：多个切换电路，分别一一对应地设置于所述多个控制引脚与所述多个通断开关之间；所述切换电路，包括三极管和第一电阻；所述三极管的基极与对应的所述控制引脚连接，所述三极管的发射极接地，所述第一电阻串联于所述三极管的集电极与电源之间；所述通断开关包括输入侧、输出侧及控制侧，所述输入侧连接所述测试信号源发生设备，所述输出侧与对应的输入引脚连接，所述控制侧与所述三极管的集电极与电源之间的节点连接。...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏仑，李红彬，
申请(专利权)人：广州开得联智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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