二维坐标测量仪制造技术

本发明专利技术涉及测量技术领域，是一种二维坐标测量仪，其包括强磁表座、支撑块、水平主尺、固定块和纵向主尺，强磁表座上侧固定安装有支撑块，支撑块上设有开口向前且左右贯通的第一T形槽，第一T形槽内设有能够左右移动的水平主尺，水平主尺右端固定安装有固定块，固定块上设有开口向前且上下贯通的第二T形槽。本发明专利技术结构合理而紧凑，使用方便，其通过设置强磁表座可将其吸附在待测零件上，通过主尺测量待测点的水平距离，通过纵向主尺测量待测点的纵向坐标，通过待测点的纵向坐标的差值，用于辅助测量弯曲度、同轴度或找正，具有安全、省力、简便和高效的特点。便和高效的特点。便和高效的特点。

【技术实现步骤摘要】
二维坐标测量仪


[0001]本专利技术涉及测量
，是一种二维坐标测量仪。

技术介绍

[0002]坐标测量是测量物体上目标点或离散点在某一坐标系下的坐标，目前的测量方法有极坐标测量仪、GPS定位。极坐标测量仪属于二维坐标测量工具，而GPS定位属于三维坐标测量工量。这些都适用于大型生产领域。在工业生产的维修领域中，有时需要判断设备设施某一点的位置离正常点集的位置关系时，常使用游标卡尺、百分表可以测量，但对一些测量场景操作不方便，测量工序复杂，使用受现场条件限制等问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种二维坐标测量仪，克服了上述现有技术之不足，其能有效解决现有测量工具测量不便的问题。
[0004]本专利技术的技术方案是通过以下措施来实现的：一种二维坐标测量仪，包括强磁表座、支撑块、水平主尺、固定块和纵向主尺，强磁表座上侧固定安装有支撑块，支撑块上设有开口向前且左右贯通的第一T形槽，第一T形槽内设有能够左右移动的水平主尺，水平主尺右端固定安装有固定块，固定块上设有开口向前且上下贯通的第二T形槽，第二T形槽内设有与水平主尺垂直的纵向主尺，水平主尺和纵向主尺上均设有刻度。
[0005]下面是对上述专利技术技术方案的进一步优化或/和改进：上述支撑块上可设有刻度。
[0006]上述固定块上可设有刻度。
[0007]上述还可包括针形测量头，纵向主尺下端固定安装有针形测量头。
[0008]上述纵向主尺上部的后侧可设有限位凸台，限位凸台下端与纵向主尺最上端的刻度平齐。
[0009]上述还可包括顶丝，支撑块和固定块上均设有顶丝。
[0010]上述对应限位凸台位置的纵向主尺上端右侧可设有防滑条纹。
[0011]本专利技术结构合理而紧凑，使用方便，其通过设置强磁表座可将其吸附在待测零件上，通过主尺测量待测点的水平距离，通过纵向主尺测量待测点的纵向坐标，通过待测点的纵向坐标的差值，用于辅助测量弯曲度、同轴度或找正，具有安全、省力、简便和高效的特点。
附图说明
[0012]附图1为本专利技术最佳实施例的主视结构示意图。
[0013]附图2为附图1的立体视结构示意图。
[0014]附图3为附图1中纵向主尺的立体结构示意图。
[0015]附图中的编码分别为：1为强磁表座，2为支撑块，3为水平主尺，4为固定块，5为纵
向主尺，6为针形测量头，7为限位凸台，8为顶丝，9为防滑条纹。
具体实施方式
[0016]本专利技术不受下述实施例的限制，可根据本专利技术的技术方案与实际情况来确定具体的实施方式。
[0017]在本专利技术中，为了便于描述，各部件的相对位置关系的描述均是根据说明书附图1的布图方式来进行描述的，如：前、后、上、下、左、右等的位置关系是依据说明书附图的布图方向来确定的。
[0018]下面结合实施例及附图对本专利技术作进一步描述：如附图1、2、3所示，该二维坐标测量仪包括强磁表座1、支撑块2、水平主尺3、固定块4和纵向主尺5，强磁表座1上侧固定安装有支撑块2，支撑块2上设有开口向前且左右贯通的第一T形槽，第一T形槽内设有能够左右移动的水平主尺3，水平主尺3右端固定安装有固定块4，固定块4上设有开口向前且上下贯通的第二T形槽，第二T形槽内设有与水平主尺3垂直的纵向主尺5，水平主尺3和纵向主尺5上均设有刻度。
[0019]在使用时，强磁表座1下端设有左右贯通的V形槽用于定位，将强磁表座1吸附在待测部件上，可保持水平主尺3与待测部件水平，支撑块2与强磁表座1通过螺纹连接，通过水平主尺3测量待测点的水平距离，通过纵向主尺5测量待测点的纵向距离，从而可获得不同待测点纵向距离的相对距离、水平距离相对距离等参数，通过这些参数可获得同轴度、弯曲度以及进行找正作业，方便快捷。
[0020]可根据实际需要，对上述二维坐标测量仪作进一步优化或/和改进：如附图1、2、3所示，支撑块2上设有刻度。在使用时，为了进一步增加水平距离的精度，在支撑块2上设置刻度，将支撑块2作为水平主尺3的副刻度尺。
[0021]如附图1、2、3所示，固定块4上设有刻度。在使用时，为了进一步增加纵向距离的精度，在固定块4上设置刻度，将固定块4作为纵向主尺5的副刻度尺。
[0022]如附图1、2、3所示，还包括针形测量头6，纵向主尺5下端固定安装有针形测量头6。在使用时，通过设置针形测量头6可更加准确的放置在待测点上。
[0023]如附图1、2、3所示，纵向主尺5上部的后侧设有限位凸台7，限位凸台7下端与纵向主尺5最上端的刻度平齐。在使用时，当测量的位置较低，纵向主尺5需向下推动较多时，可通过限位凸台7限制纵向主尺5向下移动，表明以达到了最大量程。
[0024]如附图1、2、3所示，还包括顶丝8，支撑块2和固定块4上均设有顶丝8。在使用时，当测量好水平距离和纵向距离后可通过顶丝8固定主尺，方便读数。
[0025]如附图1、2、3所示，对应限位凸台7位置的纵向主尺5上端右侧设有防滑条纹9。在使用时，通过设置防滑条纹9便于推拉纵向主尺5。
[0026]以上技术特征构成了本专利技术的最佳实施例，其具有较强的适应性和最佳实施效果，可根据实际需要增减非必要的技术特征，来满足不同情况的需求。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二维坐标测量仪，其特征在于包括强磁表座、支撑块、水平主尺、固定块和纵向主尺，强磁表座上侧固定安装有支撑块，支撑块上设有开口向前且左右贯通的第一T形槽，第一T形槽内设有能够左右移动的水平主尺，水平主尺右端固定安装有固定块，固定块上设有开口向前且上下贯通的第二T形槽，第二T形槽内设有与水平主尺垂直的纵向主尺，水平主尺和纵向主尺上均设有刻度。2.根据权利要求1所述的二维坐标测量仪，其特征在于支撑块上设有刻度。3.根据权利要求1或2所述的二维坐标测量仪，其特征在于固定块上设有刻度。4.根据权利要求1或2所述的二维坐标测量仪，其特征在于还包括针形测量头，纵向主尺下端固定安装有针形测量头。5.根据权利要求3所述的二维坐标测量仪，其特征在于还包括针形测量头，纵向主尺下端固定安装有针形测量头。6.根据权利要求1或...

【专利技术属性】
技术研发人员：李红星，王自强，陈述，何洁，张浩，江龙，王宗刚，徐鹏程，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：