用于生产光学位置编码器的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于生产光学位置编码器100的方法，所述光学位置编码器100具有光电子部件1并且具有由所述光电子部件1的LED光源2照亮的测量刻度101，其中所述LED光源2以所述LED光源2的光出射表面5暴露于外部的方式嵌入模制的壳体11中，其中所述光出射表面5在一些区域中被涂覆和去涂覆以提供光出射窗10。本发明专利技术的另一内容是一种光学位置编码器100，具有光电子部件1，所述光电子部件1具有模制的壳体11，LED光源2以所述LED光源2的光出射表面5暴露于外部的方式被布置在所述模制的壳体11中，并且所述光学位置编码器具有由所述光电子部件1的所述LED光源2照亮的测量刻度101。件1的所述LED光源2照亮的测量刻度101。件1的所述LED光源2照亮的测量刻度101。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于生产光学位置编码器的方法
[0001]本专利技术涉及一种用于生产光学位置编码器的方法，该光学位置编码器具有光电子部件并且具有由光电子部件的LED光源照亮的测量刻度，其中LED光源以LED光源的光出射表面暴露于外部的方式嵌入模制的壳体中。具有光电子部件的光学位置编码器形成本专利技术的另一主题，该光电子部件具有模制的壳体，其中LED光源以LED光源的光出射表面暴露于外部的方式被布置在模制的壳体中，并且该光学位置编码器具有由光电子部件的LED光源照亮的测量刻度。
[0002]此类出光电子部件通常用在光学位置编码器中以能够检测部件的运动。为此目的，在该部件上布置由光电子部件的LED光源照射的测量刻度。这里以此类方式设计测量刻度，以便根据特定图案调制入射到测量刻度上的LED光源的光。因此，测量刻度可以包括例如亮区和暗区，其中线图案特别有利。然后，经调制的光可以由至少一个光传感器形式的采样接收器检测。这样，可以大量地产生可以被评估并因此提供关于元件位置的信息的正弦和余弦信号形式。
[0003]此类位置编码器可以被设计成检测部件的线性运动的线性位置编码器，或者被设计成检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于生产光学位置编码器(100)的方法，所述光学位置编码器(100)具有光电子部件(1)并且具有由所述光电子部件(1)的LED光源(2)照亮的测量刻度(101)，其中所述LED光源(2)以所述LED光源(2)的光出射表面(5)暴露于外部的方式嵌入模制的壳体(11)中，其特征在于，所述光出射表面(5)在一些区域中被涂覆和去涂覆以提供光出射窗(10)。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，使用涂层(9)将所述光出射表面(5)涂覆在所述表面的整个表面或部分表面上，所述涂层尤其是基本上不透光的和/或反射性的。3.根据权利要求1或2中任一项所述的方法，其特征在于，使用金属涂层(9)，特别是使用由金或金合金制成的涂层(9)涂覆所述光出射表面(5)。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述LED光源(2)的至少一个外围部分表面(6)被涂覆。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述LED光源(2)的所述至少一个外围部分表面(6)和所述光出射表面(5)被连续地涂覆。6.根据权利要求4或5中任一项所述的方法，其特征在于，使用与所述LED光源(2)的所述至少一个外围部分表面(6)不同的涂层(9)来涂覆所述光出射表面(5)。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述光出射表面(5)是通过物理气相沉积，特别是通过溅射来涂覆的。8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，通...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒙尼尔，
申请(专利权)人：ICHAUS有限公司，
类型：发明
国别省市：