本发明专利技术公开了荧光多波峰位置查找方法及系统，包括如下步骤：根据预设条件检测当前试剂卡，按预设顺序输出荧光强度值，定义为数组A；从处理后的数组A中获取多个荧光强度点，以构建荧光强度散点图；从荧光散点图中获取满足第一预设条件的荧光强度点，定义每个荧光强度点所对应的序号值为位置数组B；计算处理后的数组A中满足第一预设条件的每个荧光强度点的斜率绝对值，定义斜率绝对值为数组D；根据第二预设条件对位置数组B进行初筛后，根据第三预设条件进行二次筛选，以获取二次筛选后的位置数组B；根据二次筛选后的位置数组B和数组D，确定荧光波峰位置。该方法有效提高了荧光多波峰位置查找准确率和效率。该系统具有相同的有益效果。效果。效果。
【技术实现步骤摘要】
一种荧光多波峰位置查找系统及方法
[0001]本专利技术涉及生化分析
，特别是涉及一种荧光多波峰位置查找系统及方法。
技术介绍
[0002]荧光免疫检测技术具有专一性强、灵敏度高、实用性好等优点，可被用于检测含量很低的生物活性化合物，如蛋白质(酶、接受体、抗体)、激素、药物及微生物等。荧光免疫分析仪进行荧光免疫检测的工作过程是：试剂卡通过检测区，LED光源产生激发荧光，并聚集在试剂卡的目标检测物上，目标检测物受激发后产生荧光，由分析仪检测获取，从而获得的荧光强度数据曲线，曲线中会出现与所含的目标物相对应的波峰。所述波峰的出现位置取决于成分的种类，波峰的大小(即其高度或面积)取决于与所述波峰相对应的成分的量或浓度。
[0003]现有技术中确定波峰大小以及准确查找波峰的方式一般是通过预设波峰范围，采用预设波峰范围的方法，同样存在一些缺陷，当有多个波峰需要查找时，需要预设多个波峰的范围，但是由于每台仪器的装配误差以及本身试剂条上的T线和C线批次差异，存在波峰可能不在预设范围内的情况，此种情况下会造成波峰位置的错误查找以及计算错误，从而导致结果错误。
[0004]因此，提供一种无需预设波峰范围即可确定波峰位置的荧光多波峰位置查找方法及系统是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种荧光多波峰位置查找方法及系统，该方法结构简单，安全、有效、可靠且操作简便，无需预设波峰范围即可确定波峰位置，从而避免因波峰不在预设范围导致的计算结果错误。
[0006]基于以上目的，本专利技术提供的技术方案如下：
[0007]一种荧光多波峰位置查找方法，包括如下步骤：
[0008]根据预设条件对当前试剂卡进行检测，按预设顺序输出荧光强度值，定义为数组A；
[0009]从处理后的数组A中获取多个荧光强度点，以构建对应的荧光强度散点图；
[0010]从所述荧光散点图中获取满足第一预设条件的荧光强度点，定义每个荧光强度点所对应的序号值为位置数组B；
[0011]计算所述处理后的数组A中满足第一预设条件的每个荧光强度点的斜率绝对值，定义所述斜率绝对值为数组D；
[0012]在根据第二预设条件对所述位置数组B进行初筛后，根据第三预设条件进行二次筛选，以获取二次筛选后的位置数组B；
[0013]根据所述二次筛选后的位置数组B和所述数组D，确定荧光波峰位置。
[0014]优选地，所述处理后的数组A中的处理过程具体为平滑滤波，包括如下步骤：
[0015]将所述数组A分为上边界数据、下边界数据和非边界数据；
[0016]根据对应的预设公式分别对所述上边界数据、所述下边界数据和所述非边界数据进行平滑滤波处理，整合后得到所述处理后的数组A。
[0017]优选地，所述从处理后的数组A中获取多个荧光强度点，以构建对应的荧光强度散点图，包括如下步骤：
[0018]以所述处理后的数据A中的数组序号为横坐标、平滑后的荧光强度值为纵坐标，构建标准坐标系；
[0019]根据所述处理后的数据A，在所述标准坐标系中标识出多个所述荧光强度点，得到对应的荧光强度散点图。
[0020]优选地，所述从所述荧光散点图中获取满足第一预设条件的荧光强度点，包括如下步骤：
[0021]在所述荧光散点图中选取一个荧光强度点，在所述处理后的数组A中判断在该点之前的若干个荧光强度点的所述荧光强度值是否为连续递增，且判断在该点之后的所述若干个荧光强度点的荧光强度值是否为连续递减，若上述判断结果均为是，则该点满足第一预设条件；
[0022]根据上述步骤，遍历所述荧光散点图中的荧光强度点，以获取所述满足第一预设条件的荧光强度点。
[0023]优选地，所述计算所述处理后的数组A中满足第一预设条件的每个荧光强度点的斜率绝对值，包括如下步骤：
[0024]在满足第一预设条件的荧光强度点中选取一个荧光强度点j，并在所述处理后的数组A获取点j的荧光强度值；
[0025]在满足第一预设条件的荧光强度点中选取在点j之前且与点j相邻的点k，并在所述处理后的数组A获取点k的荧光强度值；
[0026]计算所述点k的荧光强度值与所述点j的荧光强度值之间的差值绝对值，定义为点j的斜率绝对值；
[0027]根据上述步骤，遍历所述处理后的数组A中满足第一预设条件的每个荧光强度点，以获取满足第一预设条件的每个荧光强度点的斜率绝对值。
[0028]优选地，所述根据第二预设条件对所述位置数组B进行初筛，包括如下步骤：
[0029]在所述位置数组中选取一个序号值；
[0030]在所述数组D中，判断在该序号值所对应的斜率绝对值之前的若干个序号值所对应的斜率绝对值是否为连续递减，判断该序号值所对应的斜率绝对值之后的若干个所述序号值所对应的斜率绝对值是否为连续递增，若上述判断结果均为是，则保留该序号值；
[0031]根据上述步骤，遍历所述位置数组B，以获取初筛后的位置数组。
[0032]优选地，所述根据第三预设条件进行二次筛选，以获取二次筛选后的位置数组B，包括如下步骤：
[0033]根据荧光波峰附近点斜率变化规则，设定斜率阈值；
[0034]在所述初筛后的位置数组中选取荧光波峰附近点的序号值所对应的斜率绝对值，判断所述荧光波峰附近点的序号值所对应的斜率绝对值是否小于所述斜率阈值，若是，则
剔除所述荧光波峰附近点的序号值；
[0035]根据上述步骤，遍历所述初筛后的位置数组，以获取二次筛选后的位置数组B；
[0036]所述荧光波峰附近点具体为：所述初筛后的位置数组中的波峰点之前两个相邻的序号值和波峰点之后的两个相邻的序号值。
[0037]优选地，在所述从所述荧光散点图中获取满足第一预设条件的荧光强度点，定义每个荧光强度点所对应的序号值为位置数组B之后，还包括如下步骤：
[0038]判断所述满足第一预设条件的荧光强度点的数量等于预设数量，则中断后续步骤，并将所述位置数组B中序号值所对应的荧光强度点定义为荧光波峰点；
[0039]根据所述荧光波峰点，确定所述荧光波峰位置；
[0040]其中，所述预设数量的取值根据所述当前试剂卡确定。
[0041]优选地，在根据上述步骤，遍历所述位置数组B，以获取初筛后的位置数组之后，还包括如下步骤：
[0042]判断所述初筛后的位置数组的序号值数量等于预设数量，则中断后续步骤，并将所述初筛后的位置数组中序号值所对应的荧光强度点定义为荧光波峰点；
[0043]根据所述荧光波峰点，确定所述荧光波峰位置；
[0044]其中，所述预设数量的取值根据所述当前试剂卡确定。
[0045]一种荧光多波峰位置查找系统，包括：
[0046]检测模块，用于根据预设条件对当前试剂卡进行检测，按预设顺序输出荧光强度值，定义为数组A；
[0047]构建模块，用于从处理后的数组A中本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种荧光多波峰位置查找方法，其特征在于，包括如下步骤：根据预设条件对当前试剂卡进行检测，按预设顺序输出荧光强度值，定义为数组A；从处理后的数组A中获取多个荧光强度点，以构建对应的荧光强度散点图；从所述荧光散点图中获取满足第一预设条件的荧光强度点，定义每个荧光强度点所对应的序号值为位置数组B；计算所述处理后的数组A中满足第一预设条件的每个荧光强度点的斜率绝对值，定义所述斜率绝对值为数组D；在根据第二预设条件对所述位置数组B进行初筛后，根据第三预设条件进行二次筛选，以获取二次筛选后的位置数组B；根据所述二次筛选后的位置数组B和所述数组D，确定荧光波峰位置。2.如权利要求1所述的荧光多波峰位置查找方法，其特征在于，所述处理后的数组A中的处理过程具体为平滑滤波，包括如下步骤：将所述数组A分为上边界数据、下边界数据和非边界数据；根据对应的预设公式分别对所述上边界数据、所述下边界数据和所述非边界数据进行平滑滤波处理，整合后得到所述处理后的数组A。3.如权利要求2所述的荧光多波峰位置查找方法，其特征在于，所述从处理后的数组A中获取多个荧光强度点，以构建对应的荧光强度散点图，包括如下步骤：以所述处理后的数据A中的数组序号为横坐标、平滑后的荧光强度值为纵坐标，构建标准坐标系；根据所述处理后的数据A，在所述标准坐标系中标识出多个所述荧光强度点，得到对应的荧光强度散点图。4.如权利要求1所述的荧光多波峰位置查找方法，其特征在于，所述从所述荧光散点图中获取满足第一预设条件的荧光强度点，包括如下步骤：在所述荧光散点图中选取一个荧光强度点，在所述处理后的数组A中判断在该点之前的若干个荧光强度点的所述荧光强度值是否为连续递增，且判断在该点之后的所述若干个荧光强度点的荧光强度值是否为连续递减，若上述判断结果均为是，则该点满足第一预设条件；根据上述步骤，遍历所述荧光散点图中的荧光强度点，以获取所述满足第一预设条件的荧光强度点。5.如权利要求1所述的荧光多波峰位置查找方法，其特征在于，所述计算所述处理后的数组A中满足第一预设条件的每个荧光强度点的斜率绝对值，包括如下步骤：在满足第一预设条件的荧光强度点中选取一个荧光强度点j，并在所述处理后的数组A获取点j的荧光强度值；在满足第一预设条件的荧光强度点中选取在点j之前且与点j相邻的点k，并在所述处理后的数组A获取点k的荧光强度值；计算所述点k的荧光强度值与所述点j的荧光强度值之间的差值绝对值，定义为点j的斜率绝对值；根据上述步骤，遍历所述处理后的数组A中满足第一预设条件的每个荧光强度点，以获取满足第一预设条件的每个荧光强度点的斜率绝对值。
6.如权利要求1所述的荧光多波峰位置查找方法，其特征在于，所述根据第二预设条件对所述位置数组B进行初筛，...
【专利技术属性】
技术研发人员：李昆鹏，刘辉，罗继全，李楠楠，
申请(专利权)人：三诺生物传感股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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