光器件智能测试系统及装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光器件测试领域，尤其涉及一种光器件智能测试系统及装置，包括主控制器、第一分控制器、第二分控制器、光功率探测模块、发射性能测试电路、光衰减器、光衰减器控制电路、误码测试电路、光模块、晶振电路、接收性能测试电路；优点为：通过设置一个主MCU控制器和两个分MCU控制器，两个分MCU控制器分别用于控制光器件的接收性能测试和发射性能测试，主MCU控制器用于与两个分MCU控制器、上位机通信，来实现光器件的收发一体同步测试，缩短了测试时间，同时将计算精度从原来的10位提高到了现在的14位，提升了测试良率。提升了测试良率。提升了测试良率。

【技术实现步骤摘要】
光器件智能测试系统及装置


[0001]本技术涉及光器件测试领域，尤其涉及一种光器件智能测试系统及装置。

技术介绍

[0002]如图1所示，为现有的光器件测试系统，通过控制器连接发射测试电路和接收测试电路，实现光器件的收发一体测试，即在一台设备上就可以完成光器件的接收性能和发射性能测试。但该方案还存在以下缺陷：
[0003]1. 采用单个MCU控制器进行系统的控制，测试时只能先测试光器件的接收性能，测试完接收性能之后再测试发射性能，导致整个光器件测试时间较长；
[0004]2. 由于一个MCU控制器需要控制整台系统，使得测试的计算精度不能达到理想高度；
[0005]3. 该系统包含了一个内置的波分复用器，导致只能测试固定波长的器件，设备通用性不高（比如该波分复用器只能发射1310nm波长，接收1490nm波长，那整个系统就只能测试这个类型的器件，如果要测试发射1270nm波长，接收1577nm波长的器件，就需要更换里面的波分复用器，或者换另一个测试设备）。
[0006]基于此，本案由此提出。r/>
技术实现思路
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光器件智能测试系统，其特征在于，包括主控制器、第一分控制器、第二分控制器、光功率探测模块、发射性能测试电路、光衰减器、光衰减器控制电路、误码测试电路、光模块、晶振电路、接收性能测试电路；所述主控制器分别与第一分控制器、第二分控制器电连接，主控制器还用于与上位机通讯；所述第一分控制器分别与光功率探测模块、发射性能测试电路电连接，光功率探测模块用于接收波分复用器发出的光信号，发射性能测试电路用于向被测光器件发送发射测试信号；所述第二分控制器分别与光衰减器控制电路、接收性能测试电路、误码测试电路电连接，所述光衰减器控制电路与光衰减器电连接，光模块与光衰减器之间通过光纤连接，光衰减器用于向波分复用器发送光信号，所述接收性能测试电路用于向被测光器件发送接收测试信号，所述误码测试电路分别与光模块、晶振电路电连接，误码测试电路还用于接收被测光器件发出的射频信号。2.如权利要求1所述的一种光器件智能测试系统，其特征在于，所述接收性能测试电路包括APD升压电路和/或PIN供电电路。3.一种光器件智能测试装置，其特征在于，包括机箱，机箱内设有权利要求1或2所述的光器件智能测试系统。4.如权利要求3所述的一种光器件智能测试装置，其特征在于，所述机箱上设有光模块接入口、光模块发光入口、衰减光输出口、光器件发射测试光性能接口、接收光器件电接口、光器件发射测试供电接口、射频线连接口、设备开启按钮、220V电接口及上位机通信接口；所述光模块接入口外部用于插入光模块，内部与误码测试电路电连接；所述光模块发光入口外部用于与光模块通过光纤连接，内部与...

【专利技术属性】
技术研发人员：王苗庆，徐华良，罗声静，陈志超，俞国平，
申请(专利权)人：绍兴中科通信设备有限公司，
类型：新型
国别省市：