本实用新型专利技术涉及光器件测试领域，尤其涉及一种光器件智能测试系统及装置，包括主控制器、第一分控制器、第二分控制器、光功率探测模块、发射性能测试电路、光衰减器、光衰减器控制电路、误码测试电路、光模块、晶振电路、接收性能测试电路；优点为：通过设置一个主MCU控制器和两个分MCU控制器，两个分MCU控制器分别用于控制光器件的接收性能测试和发射性能测试，主MCU控制器用于与两个分MCU控制器、上位机通信，来实现光器件的收发一体同步测试，缩短了测试时间，同时将计算精度从原来的10位提高到了现在的14位，提升了测试良率。提升了测试良率。提升了测试良率。
【技术实现步骤摘要】
光器件智能测试系统及装置
[0001]本技术涉及光器件测试领域，尤其涉及一种光器件智能测试系统及装置。
技术介绍
[0002]如图1所示，为现有的光器件测试系统，通过控制器连接发射测试电路和接收测试电路，实现光器件的收发一体测试，即在一台设备上就可以完成光器件的接收性能和发射性能测试。但该方案还存在以下缺陷：
[0003]1. 采用单个MCU控制器进行系统的控制，测试时只能先测试光器件的接收性能，测试完接收性能之后再测试发射性能，导致整个光器件测试时间较长；
[0004]2. 由于一个MCU控制器需要控制整台系统，使得测试的计算精度不能达到理想高度；
[0005]3. 该系统包含了一个内置的波分复用器，导致只能测试固定波长的器件，设备通用性不高（比如该波分复用器只能发射1310nm波长，接收1490nm波长，那整个系统就只能测试这个类型的器件，如果要测试发射1270nm波长，接收1577nm波长的器件，就需要更换里面的波分复用器，或者换另一个测试设备）。
[0006]基于此，本案由此提出。
技术实现思路
[0007]本技术的目的之一在于提供一种光器件智能测试系统，通过设置多个控制器，实现光器件的收发一体同步测试，提高测试精度，同时去除系统内置的波分复用器，使得设备可以适用多种波长的测试要求。
[0008]为了实现上述目的，本技术的技术方案如下：
[0009]一种光器件智能测试系统，包括主控制器、第一分控制器、第二分控制器、光功率探测模块、发射性能测试电路、光衰减器、光衰减器控制电路、误码测试电路、光模块、晶振电路、接收性能测试电路；
[0010]所述主控制器分别与第一分控制器、第二分控制器电连接，主控制器还用于与上位机通讯；
[0011]所述第一分控制器分别与光功率探测模块、发射性能测试电路电连接，光功率探测模块用于接收波分复用器发出的光信号，发射性能测试电路用于向被测光器件发送发射测试信号；
[0012]所述第二分控制器分别与光衰减器控制电路、接收性能测试电路、误码测试电路电连接，所述光衰减器控制电路与光衰减器电连接，光模块与光衰减器之间通过光纤连接，光衰减器用于向波分复用器发送光信号，所述接收性能测试电路用于向被测光器件发送接收测试信号，所述误码测试电路分别与光模块、晶振电路电连接，误码测试电路还用于接收被测光器件发出的射频信号。
[0013]进一步的，所述接收性能测试电路包括APD升压电路和/或PIN供电电路。
[0014]本技术的目的之二在于提供一种光器件智能测试装置，包括机箱，机箱内设有上述光器件智能测试系统。
[0015]进一步的，所述机箱上设有光模块接入口、光模块发光入口、衰减光输出口、光器件发射测试光性能接口、接收光器件电接口、光器件发射测试供电接口、射频线连接口、设备开启按钮、220V电接口及上位机通信接口；
[0016]所述光模块接入口外部用于插入光模块，内部与误码测试电路电连接；
[0017]所述光模块发光入口外部用于与光模块通过光纤连接，内部与光衰减器通过光纤连接；
[0018]所述衰减光输出口内部通过光纤与光衰减器连接，外部用于与波分复用器通过光纤连接；
[0019]所述光器件发射测试光性能接口内部与光功率探测模块通过光纤连接，外部用于与波分复用器通过光纤连接；
[0020]所述接收光器件电接口内部与接收性能测试电路电连接，外部用于与被测光器件电连接；
[0021]所述光器件发射测试供电接口内部与发射性能测试电路电连接，外部用于与被测光器件电连接；
[0022]所述射频线连接口内部与误码测试电路电连接，外部用于与被测光器件电连接；
[0023]所述设备开启按钮用于系统的开关，220V电接口用于系统的供电；
[0024]所述上位机通信接口内部与主控制器电连接，外部用于与上位机电连接。
[0025]进一步的，所述接收光器件电接口包括接收APD类型的光器件电接口和/或接收PIN TIA类型光器件电接口。
[0026]进一步的，所述上位机通信接口包括RS232串口。
[0027]进一步的，所述机箱上设有散热模块。
[0028]进一步的，所述散热模块包括风扇。
[0029]进一步的，所述光模块接入口、光模块发光入口、衰减光输出口、光器件发射测试光性能接口、接收光器件电接口、光器件发射测试供电接口、射频线连接口、设备开启按钮设置在机箱的同一个面上。
[0030]进一步的，所述220V电接口、上位机通信接口、散热模块设置在机箱的同一个面上。
[0031]本技术的优点在于：
[0032]1. 通过设置一个主MCU控制器和两个分MCU控制器，两个分MCU控制器分别用于控制光器件的接收性能测试和发射性能测试，主MCU控制器用于与两个分MCU控制器、上位机通信，来实现光器件的收发一体同步测试，缩短了测试时间，同时将计算精度从原来的10位提高到了现在的14位，提升了测试良率；
[0033]2. 将系统内置的波分复用器改为外置，方便波分复用器的更换，以适应测试多种波长的测试要求，提高了系统的通用性能。
附图说明
[0034]图1为
技术介绍
中光器件收发一体测试系统的测试状态示意图；
[0035]图2为实施例中光器件智能测试系统的测试状态示意图；
[0036]图3为实施例中光器件智能测试装置的机箱三维构造示意图；
[0037]图4为图3的前侧面接口布置示意图；
[0038]图5为图3的后侧面接口布置示意图。
具体实施方式
[0039]以下结合实施例对本专利技术作进一步详细描述。
[0040]本实施例提出一种光器件智能测试装置，如图3至图5所示，包括机箱，机箱内设有如图2所示的光器件智能测试系统。该智能测试系统包括主MCU控制器、第一分MCU控制器、第二分MCU控制器、光功率探测模块、发射性能测试电路、光衰减器、光衰减器控制电路、误码测试电路、光模块、晶振电路、接收性能测试电路。
[0041]主MCU控制器分别与第一分MCU控制器、第二分MCU控制器通讯连接，主MCU控制器用于下发测试命令，并向上位机（附图2中的电脑）上传测试信息。机箱上设有用于通信的RS232串口，RS232串口内部与主MCU控制器电连接，外部用于与上位机连接，实现主MCU控制器与上位机的通讯。
[0042]第一分MCU控制器分别与光功率探测模块、发射性能测试电路电连接，测试时，光功率探测模块用于接收波分复用器发出的光信号，发射性能测试电路用于向被测光器件发送发射测试信号。机箱上设有光器件发射测试光性能接口Po TEST和光器件发射测试供电接口Po，所述发射测试光性能接口的内部通过光纤连接光功率探测模块，外部通过光纤与波分复用器连接，实现光功率探测模块与波分复用器之间的光通信；所述光器件发射测试供电接口内部与发射性能测试电路电连本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光器件智能测试系统，其特征在于，包括主控制器、第一分控制器、第二分控制器、光功率探测模块、发射性能测试电路、光衰减器、光衰减器控制电路、误码测试电路、光模块、晶振电路、接收性能测试电路；所述主控制器分别与第一分控制器、第二分控制器电连接，主控制器还用于与上位机通讯；所述第一分控制器分别与光功率探测模块、发射性能测试电路电连接，光功率探测模块用于接收波分复用器发出的光信号，发射性能测试电路用于向被测光器件发送发射测试信号；所述第二分控制器分别与光衰减器控制电路、接收性能测试电路、误码测试电路电连接，所述光衰减器控制电路与光衰减器电连接，光模块与光衰减器之间通过光纤连接，光衰减器用于向波分复用器发送光信号，所述接收性能测试电路用于向被测光器件发送接收测试信号，所述误码测试电路分别与光模块、晶振电路电连接，误码测试电路还用于接收被测光器件发出的射频信号。2.如权利要求1所述的一种光器件智能测试系统，其特征在于，所述接收性能测试电路包括APD升压电路和/或PIN供电电路。3.一种光器件智能测试装置，其特征在于，包括机箱，机箱内设有权利要求1或2所述的光器件智能测试系统。4.如权利要求3所述的一种光器件智能测试装置，其特征在于，所述机箱上设有光模块接入口、光模块发光入口、衰减光输出口、光器件发射测试光性能接口、接收光器件电接口、光器件发射测试供电接口、射频线连接口、设备开启按钮、220V电接口及上位机通信接口；所述光模块接入口外部用于插入光模块，内部与误码测试电路电连接；所述光模块发光入口外部用于与光模块通过光纤连接，内部与...
【专利技术属性】
技术研发人员：王苗庆，徐华良，罗声静，陈志超，俞国平，
申请(专利权)人：绍兴中科通信设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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