本申请涉及一种感光元件用测试装置，其包括底座、盖体及光源，所述底座上设置有安装座，所述安装座与盖体之间设置有连接件，所述安装座上开设有供感光元件放置的安装槽，所述安装槽内设置有用于与电参数测量仪器连接的探针，所述感光元件位于安装槽内时与探针电连接；光源位于底座上方，所述盖体上开设有透光孔，且盖体盖设于底座上时光源通过透光孔与感光元件的感光面相对。本申请具有简化程序，减少工作量，提升测试效率的效果。提升测试效率的效果。提升测试效率的效果。
【技术实现步骤摘要】
一种感光元件用测试装置及测试方法
[0001]本申请涉及元件测试的领域，尤其是涉及一种感光元件用测试装置及测试方法。
技术介绍
[0002]目前，感光元件是具有光电转换功能或感光特性的电子元件，其可将光信号转化为电信号，或利用光敏电阻等特殊材质构件的特性对光信号作出反馈。感光元件包括光敏电阻、光耦器、光电二极管、CCD、CMOS等，其应用也较为广泛，包括摄影、传感器、自动控制等领域。
[0003]一般感光元件在制作完成后需要进行光照测试，光照测试主要检测感光元件对光的灵敏度，及在光照环境下的电特性及参数。为保证测试数据的一致性，需要保证每个感光元件的摆放位置、光焦距、光照强度等保持一致。而现有的感光元件测试方法一般通过人工校准测试实现，测试时将各感光元件放置于同一光源下，调整感光元件位置，使得光照距离保持在标准距离范围内，接入万用表等电参数测量仪器，统一调整光参数并采集感光元件的反馈情况并记录，最终分析反馈情况以判断感光元件的品质。
[0004]针对上述中的相关技术，专利技术人认为人工校准感光元件的方式存在有程序繁琐，工作量大，测试效率低下缺陷。
技术实现思路
[0005]第一方面，为了简化程序，减少工作量，提升测试效率，本申请提供一种感光元件用测试装置。
[0006]本申请提供的一种感光元件用测试装置，采用如下的技术方案：一种感光元件用测试装置，包括底座、盖体及光源，所述底座上设置有安装座，所述安装座与盖体之间设置有连接件，所述安装座上开设有供感光元件放置的安装槽，所述安装槽内设置有用于与电参数测量仪器连接的探针，所述感光元件位于安装槽内时与探针电连接；光源位于底座上方，所述盖体上开设有透光孔，且盖体盖设于底座上时光源通过透光孔与感光元件的感光面相对。
[0007]通过采用上述技术方案，通过将感光元件放置于安装槽内，通过连接件对感光元件进行定位，并通过探针统一与外部的电参数测量仪器连接，控制光源提供统一的光照环境，光透过透光孔对感光元件进行测试，以此方便感光元件的安装与测试，且无需手动握持、接线，以此简化程序，减少工作量，提升测试效率。
[0008]优选的，所述连接件包括至少两个与安装座固定的第一卡块，所述盖体上开设有与安装座插接配合的圆槽，所述圆槽靠其开口处固定有第二卡块，安装座与圆槽插接时第一卡块与第二卡块旋转卡接。
[0009]通过采用上述技术方案，盖体与安装座相对旋转时，第一卡块与第二卡块相对转动并卡接，此时盖体限定感光元件的位置，以此减少感光元件因松动而产生的测量误差。
[0010]优选的，所述安装座上位于安装槽的一侧设置有光电探测器，所述光电探测器的
感光面与位于安装槽内的感光元件的感光面平齐。
[0011]通过采用上述技术方案，通过与感光元件相近的光电探测器可以测量当前感光元件所接收的光的光强度是否与设定的光强度一致，若存在偏差，则可通过光电探测器的读数对光源的光照进行校准，以此减少光强度偏差对最终测量数据的影响，提高测量精度。
[0012]优选的，所述盖体上开设有通孔，所述盖体上位于通孔的一侧设置有遮光片，所述盖体与安装座连接时遮光片与光电探测器的感光面正对，当盖体旋转至第一卡块与第二卡块卡接时通孔与光电探测器的感光面正对。
[0013]通过采用上述技术方案，安装座插入盖体的圆槽内时遮光片与光电探测器的感光面正对，此时若工作人员因疏忽未通过旋转盖体锁定感光元件，则光电探测器的光强度读数会偏低甚至接近于零，以此提醒工作人员锁定盖体，并使得透光孔到达正确位置。而当盖体与安装座相对旋转时，第一卡块与第二卡块相对转动并卡接，此时通孔与光电探测器的感光面正对，以此检测盖体的就位情况，减少偏差。
[0014]优选的，所述安装槽内可拆卸连接有掩模板，所述掩模板上开设有至少两个形状一致且尺寸一致的分光孔，所述掩模板与感光元件的感光面平行。
[0015]通过采用上述技术方案，通过掩模板对光路进行分配，使得感光元件的不同感光位置、或者多个感光元件能接收到同等程度、同等面积的光照，以此提升最终电参数数据的精度。
[0016]优选的，所述探针与底座之间设置有弹性件，所述探针有偶数个且对称分布于安装槽内的两侧。
[0017]通过采用上述技术方案，弹性件用于支撑感光元件，一方面减少感光元件与安装槽底壁之间的刚性接触，保护感光元件，另一方面使得感光元件贴紧掩模板与盖体，减少三者之间的间隙，避免光产生散射与漫反射而影响最终的电参数数据的精度；而探针对称分布于安装槽内的两侧，可以提升弹力施加的均匀程度，保持感光元件的内部应力的平衡，减少弯折现象。
[0018]优选的，所述盖体上开设有弧形槽，所述安装座上设置有限位栓，所述盖体与安装座连接后限位栓与弧形槽插接配合，且所述弧形槽的弧心位于第一卡块的转动轴线上。
[0019]通过采用上述技术方案，限位栓与弧形槽相适配，盖体与安装座通过第一卡块与第二卡块的旋转卡接连接过程中，弧形槽起到导向作用，减少盖体的抖动、松动，从而避免感光元件受损或产生偏移现象。
[0020]优选的，所述底座包括第一电路板，所述第一电路板用于连接电参数测量仪器，所述安装座连接有第二电路板，所述第一电路板连接有母插，所述第二电路板连接有公插，所述公插与母插连接时电参数测量仪器与探针连接以采集电参数。
[0021]通过采用上述技术方案，第一电路板与第二电路板通过公插与母插连接，实现了安装座与底座的可拆卸，由于安装槽的尺寸按照感光元件的尺寸定制，因此通过可拆卸的方式可以方便针对感光元件的类型、规格对安装座进行更换调整，从而提升适用性。
[0022]优选的，所述安装座上位于安装槽的两侧均开设有预留槽，所述预留槽与安装槽连通。
[0023]通过采用上述技术方案，预留槽的设置可以方便工作人员取出位于安装槽内的感光元件，以此提升装卸效率。
[0024]第二方面，为了简化程序，减少工作量，提升测试效率，本申请提供一种测试方法，采用如下的技术方案：一种测试方法，应用上述感光元件用测试装置，包括如下步骤，将底座放置于光源下方；将感光元件放置于安装槽内，使感光元件与探针电连接；将盖体放置于安装座上，通过连接件连接盖体与安装座；连接探针与电参数测量仪器；开启光源，并调整光照强度至设定值；通过电参数测量仪器读取对应感光元件的各项电参数，生成测试结果。
[0025]通过采用上述技术方案，通过将感光元件放置于安装槽内，并通过探针统一与外部的电参数测量仪器连接，以此方便感光元件的安装与测试。
[0026]综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：1.通过将感光元件放置于安装槽内，通过连接件对感光元件进行定位，并通过探针统一与外部的电参数测量仪器连接，控制光源提供统一的光照环境，光透过透光孔对感光元件进行测试，以此方便感光元件的安装与测试，且无需手动定位、接线，以此简化程序，减少工作量，提升测试效率；2.盖体与安装座相对旋转时，第一卡块与第二卡块相对转动并卡接，此时盖体限定感光元本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种感光元件用测试装置，其特征在于：包括底座（1）、盖体（3）及光源（54），所述底座（1）上设置有安装座（2），所述安装座（2）与盖体（3）之间设置有连接件，所述安装座（2）上开设有供感光元件放置的安装槽（21），所述安装槽（21）内设置有用于与电参数测量仪器连接的探针，所述感光元件位于安装槽（21）内时与探针电连接；光源（54）位于底座（1）上方，所述盖体（3）上开设有透光孔（32），且盖体（3）盖设于底座（1）上时光源（54）通过透光孔（32）与感光元件的感光面相对。2.根据权利要求1所述的一种感光元件用测试装置，其特征在于：所述连接件包括至少两个与安装座（2）固定的第一卡块（23），所述盖体（3）上开设有与安装座（2）插接配合的圆槽（33），所述圆槽（33）靠其开口处固定有第二卡块（34），安装座（2）与圆槽（33）插接时第一卡块（23）与第二卡块（34）旋转卡接。3.根据权利要求2所述的一种感光元件用测试装置，其特征在于：所述安装座（2）上位于安装槽（21）的一侧设置有光电探测器（24），所述光电探测器（24）的感光面与位于安装槽（21）内的感光元件的感光面平齐。4.根据权利要求3所述的一种感光元件用测试装置，其特征在于：所述盖体（3）上开设有通孔（35），所述盖体（3）上位于通孔（35）的一侧设置有遮光片（36），所述盖体（3）与安装座（2）连接时遮光片（36）与光电探测器（24）的感光面正对，当盖体（3）旋转至第一卡块（23）与第二卡块（34）卡接时通孔（35）与光电探测器（24）的感光面正对。5.根据权利要求1所述的一种感光元件用测试装置，其特征在于：所述安装槽（21）内可拆卸连接有掩模板（4），所述掩模板（4）上开设有至少两个...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴绍航，麦耀华，
申请(专利权)人：脉络能源科技佛山有限公司，
类型：发明
国别省市：
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