一种基于岩性校正计算总有机碳含量的方法技术

本发明专利技术涉及石油勘探技术领域，涉及一种基于岩性校正计算总有机碳含量的方法。所述方法包括以下步骤：在不含有机质的纯泥岩段，建立该层段泥质含量与声波时差以及泥质含量与电阻率的关系式；在不含有机质的灰岩段，建立该层段灰质含量与声波时差以及灰质含量与电阻率的关系式；获取仅受总有机碳含量影响的Δt

【技术实现步骤摘要】
一种基于岩性校正计算总有机碳含量的方法


[0001]本专利技术涉及石油勘探
，涉及一种基于岩性校正计算总有机碳含量的方法。

技术介绍

[0002]世界石油工业正在从常规油气向非常规油气跨越。页岩油是指储存于富有机质、纳米级孔径为主的页岩地层中的石油，是成熟有机质页岩石油的简称。页岩既是石油的烃源岩，又是石油的储集岩，油气基本未经历运移过程。目前页岩油已成为全球非常规石油勘探开发的热点。作为页岩油资源评价的一项关键参数，目前计算总有机碳含量(TOC)的方法有2种：
①
通过实验测试烃源岩TOC数值，优点是数据可信度高，不足是纵向分辨率低，在测试样品有限的情况下，难以客观地表征地下页岩层段TOC的纵向分布。
②
建立TOC数值与测井曲线的定量关系，利用测井资料计算TOC，具有周期短、费用低、分辨率高的优点。
[0003]中国专利申请CN112666610A公开了一种地层有机碳含量计算方法，该方法包括确定地层岩性与电性之间的关系，选择两条岩性敏感测井信息；针对岩性敏感测井信息进行归一化处理，进而计算岩性校正因子；计算不同地层对应的叠合系数，根据叠合系数与岩性校正因子，计算校正
△
LogR；根据校正
△
LogR，建立有机碳含量计算模型；根据有机碳含量计算模型，计算地层有机碳含量。该申请原理侧重于评价岩性对基线的影响，通过对基线的校正和不同地层对应的叠合系数实现对TOC的计算，计算相对繁琐。
[0004]中国专利技术专利CN104278991B公开了一种盐湖相烃源岩有机碳和生烃潜量的多元测井计算方法，该方法包括：对不同井测井曲线进行标准化和归一化；对实验测得的烃源岩有机碳数据进行岩心归位；对盐湖相烃源岩进行分类；读取经岩心归位校正后的有机碳含量实验点的测井曲线数据；对测井数据与岩石有机碳含量进行R型层次聚类分析；分不同岩性建立有机碳TOC的测井评价模型；以及计算得到有机碳数据求取岩石热解数据。该盐湖相烃源岩有机碳和生烃潜量的多元测井计算方法能够用于评价盐湖相特殊岩性烃源岩的质量和生烃潜力，应用该方法可以为烃源岩评价和油气资源量评估提供大量的评价数据。
[0005]中国专利技术专利CN106950347B公开了一种利用常规测井曲线评价泥页岩各组分体积的方法，包括：基于抽提后泥页岩的有机碳分析、孔隙度测试及全岩鉴定的实验，结合泥页岩各组分密度，对泥页岩各组分体积进行标定，建立泥页岩组分体积模型；在ΔlogR法评价总有机碳含量的基础上，结合抽提前后有机碳的关系，计算干酪根体积，采用交叉验证的方法优化计算各矿物组分和孔隙体积的BP神经网络模型。
[0006]TOC测井评价已发展出多元回归、神经网络、
△
logR技术等方法，其中
△
logR技术所需资料容易获取、操作简便，在页岩油TOC测井评价方面取得了比较好的应用效果。但是传统的
△
logR技术也存在一定的局限性，由于
△
logR技术是利用声波和电阻率曲线幅度差来识别高含有机质的地层，受岩性的影响，两条测井曲线的幅度差会发生变化，导致此方法计算的TOC值偏离实际值。

技术实现思路

[0007]本专利技术主要目的在于提供一种基于岩性校正计算总有机碳含量的方法，本专利技术方法有效排出了岩性对测井曲线的影响，计算所得总有机碳含量结果更为准确。
[0008]为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0009]本专利技术提供一种基于岩性校正计算总有机碳含量的方法，其包括以下步骤：在不含有机质的纯泥岩段，建立该层段泥质含量与声波时差以及泥质含量与电阻率的关系式；在不含有机质的灰岩段，建立该层段灰质含量与声波时差以及灰质含量与电阻率的关系式；获取仅受总有机碳含量影响的Δt
校正
、R
校正
；获取反映总有机碳影响程度的Δt
增量
、R
增量
；计算岩性校正后的总有机碳含量。
[0010]进一步地，获取仅受总有机碳含量影响的Δt
校正
、R
校正
的具体方法为：筛选出明显受岩性影响的层段：泥岩段或灰岩段；根据各岩段建立的关系式，以及测井解释矿物含量，计算该层段受岩性影响的Δt
灰
、R
灰
，或Δt
泥
、R
泥
，并由此获取仅受总有机碳含量影响的Δt
校正
、R
校正
。
[0011]更进一步地，泥岩层段，Δt
校正
＝Δt
‑
Δt
泥
，R
校正
＝R+R
泥
；灰岩层段，Δt
校正
＝Δt+Δt
灰
，R
校正
＝R
‑
R
灰
。
[0012]进一步地，获取反映总有机碳影响程度的Δt
增量
、R
增量
的方法：读取基线Δt
基线
和R
基线
，根据获取的Δt
校正
和R
校正
进行计算，
[0013]Δt
增量
＝Δt
校正
‑
Δt
基线
，logR
增量
＝logR
校正
‑
logR
基线
。
[0014]由此ΔlogR＝logR
增量
+K
×
Δt
增量
[0015]其中，K为声波时差和电阻率之间的叠合系数。
[0016]进一步地，计算岩性校正后的总有机碳含量的公式为：
[0017]TOC＝ΔlogR
×
10
‑
0.944
×
Ro+1.5374
+ΔTOC
[0018]其中，ΔTOC为有机碳含量背景值，可用TOC实测值减去上述TOC计算公式计算TOC获得；Ro为镜质体反射率。
[0019]与现有技术相比，本专利技术具有以下优势：
[0020]本专利技术方法通过建立纯泥岩段实测泥质含量与声波时差曲线和电阻率曲线、纯灰岩段实测灰质含量与声波时差曲线和电阻率曲线的关系，通过定量化地校正泥质或灰质对电阻率和声波时差的附加影响，排除岩性对两条测井曲线的影响，得到仅受TOC影响的测井曲线响应，从而实现对页岩层段总有机碳含量的准确计算。本专利技术方法为优选出最有利于页岩油气富集的层段提供了可靠的依据。
[0021]本专利技术方法能够更加直观，更加量化地校正岩性所引起的TOC计算值的偏差。
附图说明
[0022]图1为本专利技术实施例1所述基于岩性校正计算总有机碳含量的方法的流程图；
[0023]图2为本专利技术实施例1所述基于岩性校正计算总有机碳含量的方法所得结果的理论图。
[0024]图3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于岩性校正计算总有机碳含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：在不含有机质的纯泥岩段，建立该层段泥质含量与声波时差以及泥质含量与电阻率的关系式；在不含有机质的灰岩段，建立该层段灰质含量与声波时差以及灰质含量与电阻率的关系式；获取仅受总有机碳含量影响的Δt
校正
、R
校正
；获取反映总有机碳影响程度的Δt
增量
、R
增量
；计算岩性校正后的总有机碳含量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取仅受总有机碳含量影响的Δt
校正
、R
校正
的具体方法为：筛选出明显受岩性影响的层段：泥岩段或灰岩段；根据各岩段建立的关系式，以及测井解释矿物含量，计算该层段受岩性影响的Δt
灰
、R
灰
，或Δt
泥
、R
泥
，并由此获取仅受总有机碳含量影响的Δt
校正
、R
校正
。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，泥岩层段，Δt
校正
＝Δt
‑
Δt
泥
，R
校正
＝R+R
泥
；灰岩层段，Δt
校正
＝Δt+Δt

【专利技术属性】
技术研发人员：王敏，陈兵，傅爱兵，倪自高，张莉，秦东风，孟蕾，闫华，周德志，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：