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一种医用X光下病灶测量及穿刺定位器制造技术

技术编号:376403 阅读:260 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种医用X光下病灶测量及穿刺定位器,其特征在于:包括两组轴线(1),每组轴线相互平行,两组轴线相互交织形成若干规则形状的几何图形。本实用新型专利技术和现有技术相比具有定位迅速、准确等优点。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种医用X光下病灶测量及穿刺定位器,其特征在于:包括两组轴线(1),每组轴线相互平行,两组轴线相互交织形成若干规则形状的几何图形。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张光明龙会兰张笃建
申请(专利权)人:张光明
类型:实用新型
国别省市:37[中国|山东]

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