【技术实现步骤摘要】
用于建立关于电路特性的制程飘移模型以供进行电路模拟的方法及电路模拟系统
[0001]本专利技术有关于电路设计,特别地,涉及一种用来建立关于电路特性的制程飘移模型(variation model)以供进行电路模拟的方法以及相关的电路模拟系统
技术介绍
[0002]传统的集成电路(integrated circuit,简称IC)设计流程典型地需要很长的时间才能完成整个IC设计而没有任何错误以供量产。尤其,IC中的基本电路诸如标准电路单元(standard cell)对信号的延迟在不同的情况下可能会有不同的值,而传统的IC设计流程中所使用的数据库可能仅仅记录特定应用条件下之每一个标准电路单元的延迟值信息,所以延迟值信息有限。如上所述之有限的延迟值信息不足以被用来计算IC设计过程中所需的参数变化结果。于是,IC设计者可能被迫等到IC制作完成后,才能对IC进行测试,以分别判定IC内的标准电路单元在预定电压范围内的延迟值是否符合要求。如果IC内的任一标准电路单元不符合要求,则必须重新设计IC,即必须重新执行整个设计流程,这对相关人员来说 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用来建立关于电路特性之制程飘移模型以供进行电路模拟之方法,所述方法包含:根据第一网表(netlist)文件与预定制程模型数据并行地进行多个第一蒙特卡罗(Monte Carlo)模拟操作以产生第一效能模拟结果,其中所述第一网表文件用于指示电路系统中的基本电路;根据所述第一网表文件与所述预定制程模型数据并行地进行多个第二蒙特卡罗模拟操作以产生第二效能模拟结果;根据所述第一网表文件与所述预定制程模型数据并行地进行多个第三蒙特卡罗模拟操作以产生第三效能模拟结果;根据所述第一网表文件与所述预定制程模型数据并行地进行多个第四蒙特卡罗模拟操作以产生第四效能模拟结果;以及根据所述第一效能模拟结果、所述第二效能模拟结果、所述第三效能模拟结果与所述第四效能模拟结果执行效能模拟结果扩展程序,以产生多个效能模拟结果来建立所述制程飘移模型,以供进行所述电路模拟以根据所述多个效能模拟结果中的一个或多个效能模拟结果产生所述电路系统的至少一个电路模拟结果,其中所述制程飘移模型中之所述多个效能模拟结果的数量大于四。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述基本电路代表所述电路系统中的多个基本电路中的任一基本电路,以及所述多个效能模拟结果代表分别对应于所述多个基本电路的多组效能模拟结果中的对应于所述任一基本电路的一组效能模拟结果。3.根据权利要求2所述的方法,其中所述制程飘移模型中的所述多组效能模拟结果中的每一组效能模拟结果中的效能模拟结果的数量大于四。4.根据权利要求2所述的方法,其中针对所述多个基本电路中的所述任一基本电路,所述多个第一蒙特卡罗模拟操作、所述多个第二蒙特卡罗模拟操作、所述多个第三蒙特卡罗模拟操作以及所述多个第四蒙特卡罗模拟操作被进行以分别产生对应于所述任一基本电路之所述第一效能模拟结果、所述第二效能模拟结果、所述第三效能模拟结果以及所述第四效能模拟结果。5.根据权利要求4所述的方法,其中针对所述多个基本电路中之所述任一基本电路,所述效能模拟结果扩展程序系根据对应于所述任一基本电路之所述第一效能模拟结果、所述第二效能模拟结果、所述第三效能模拟结果以及所述第四效能模拟结果来执行,以产生对应于所述任一基本电路之所述组效能模拟结果来建立所述制程飘移模型。6.根据权利要求2项所述的方法,其中针对所述电路系统中的所述多个基本电路,所述电路模拟包含:根据所述多组效能模拟结果的各自的子集合产生所述电路系统的所述至少一个电路模拟结果,其中所述多组效能模拟结果的所述各自的子集合中之每一子集合包含一个或多个效能模拟结果。7.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄伟铭,黄思颖,余美俪,罗幼岚,
申请(专利权)人:瑞昱半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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