一种软件质量预测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种软件质量预测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试软件的质量影响因子；质量影响因子用于表征影响软件质量的指标数据；将待测试软件的质量影响因子输入预设的软件质量测试模型，获得预测结果；其中，软件质量测试模型为通过对历史指标数据进行相关性分析确定模型影响因子，根据模型影响因子生成的。通过软件质量测试模型对待测试软件的未来开发周期内的软件测试缺陷密度进行预测，获得预测结果，预测结果可以有效表征软件质量，无需等软件开发完成后基于每千行代码的缺陷数统计缺陷数目，减少工作量，提高工作效率。提高工作效率。提高工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种软件质量预测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及计算机
，具体而言，涉及一种软件质量预测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]软件测试是为了确保开发出的最终产品符合客户的所有标准和要求。目前的软件测试缺陷密度的方法是针对已经开发完成的软件，基本的缺陷测量是以每千行代码的缺陷数来测量的，统计缺陷数目以及分析缺陷类型。这种缺陷测试的方法工作量较大，耗费人力，且无法预测未来开发周期内的软件测试缺陷密度。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例的目的在于一种软件质量预测方法、装置、电子设备及存储介质，
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种软件质量预测方法，包括：获取待测试软件的质量影响因子；质量影响因子用于表征影响软件质量的指标数据；将待测试软件的质量影响因子输入预设的软件质量测试模型，获得预测结果；其中，软件质量测试模型为通过对历史指标数据进行相关性分析确定模型影响因子，根据模型影响因子生成的。
[0005]在上述的实现过程中，通过软件质量测试模型对待测试软件的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种软件质量预测方法，其特征在于，包括：获取待测试软件的质量影响因子；所述质量影响因子用于表征影响软件质量的指标数据；将所述待测试软件的质量影响因子输入预设的软件质量测试模型，获得预测结果；其中，所述软件质量测试模型为通过对历史指标数据进行相关性分析确定模型影响因子，根据所述模型影响因子生成的。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将所述待测试软件的质量影响因子输入预设的软件质量测试模型，获得预测结果之前，所述方法还包括：获得软件研发过程中的多项历史指标数据；对所述多项历史指标数据进行相关性分析，从所述多项历史指标数据中确定相关数据；通过回归方法从所述相关数据中确定所述模型影响因子；根据所述模型影响因子生成所述软件质量测试模型。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述多项历史指标数据进行相关性分析获得相关数据，包括：计算所述多项历史指标数据中，每两项所述历史指标的相关系数和判定参数；所述判定参数用于表征所述相关系数的准确性；根据所述相关系数和所述判定参数，从所述多项历史指标数据中确定所述相关数据。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过回归方法从所述相关数据中确定所述模型影响因子，包括：通过回归方法，获得所述相关数据对应子集的拟合度系数和调整拟合度系数；根据所述拟合度系数和所述调整拟合度系数，从所述相关数据中确定所述模型影响因子。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述模型影响因子生成所述软件质量测试模型，包括：对所述预测结果和所述模型影响因子进行回归分析，获得每一所述模型影响因子的对应的系数以及模型...

【专利技术属性】
技术研发人员：张淼，
申请(专利权)人：中电信数智科技有限公司，
类型：发明
国别省市：