存储器装置处的存取操作的监测和调整制造方法及图纸

描述用于监测和调整存储器装置处的存取操作的方法、系统和装置以支持集成用于检测存储器装置健康问题，例如由装置存取或磨损引起的那些问题的监测器或传感器。所述监测可包含在所述存储器装置的各种组件处执行的存取操作的业务监测，或可包含可测量所述存储器装置的组件的参数以检测磨损的传感器。所述业务监测或所述传感器测量的所述参数可以由与用于所述存储器装置的存取操作有关的度量表示。所述存储器装置可使用所述度量(例如，以及阈值)确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的参数，以便实施校正动作。以便实施校正动作。以便实施校正动作。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】存储器装置处的存取操作的监测和调整
[0001]交叉引用
[0002]本专利申请案主张英格拉姆(INGRAM)等人在2021年7月1日申请的标题为“存储器装置处的存取操作的监测和调整(MONITORING AND ADJUSTING ACCESS OPERATIONS AT A MEMORY DEVICE)”的第17/365,003号美国专利申请案和英格拉姆等人2020年7月28日申请的标题为“存储器装置处的存取操作的监测和调整(MONITORING AND ADJUSTING ACCESS OPERATIONS AT A MEMORY DEVICE)”的第63/057,779号美国临时专利申请案的优先权，其中的每一篇均转让给本受让人并且明确地以全文引用的方式并入本文中。

技术介绍

[0003]下文大体上涉及用于存储器的一个或多个系统，且更具体来说，涉及存储器装置处的存取操作的监测和调整。
[0004]存储器装置广泛用于将信息存储在例如计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等的各种电子装置中。通过将存储器装置内的存储器单元编程为各种状态来存储信息。例如，二进制存储器单元可以被编程为两个支持状态中的一个，经常由逻辑1或逻辑0表示。在一些实例中，单个存储器单元可以支持超过两个状态，其中的任一状态可存储。为了存取所存储信息，组件可以读取或感测存储器装置中的至少一个所存储状态。为了存储信息，组件可在存储器装置中写入状态或对状态进行编程。
[0005]存在各种类型的存储器装置和存储器单元，包含磁性硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、动态RAM(DRAM)、同步动态RAM(SDRAM)、铁电RAM(FeRAM)、磁性RAM(MRAM)、电阻式RAM(RRAM)、快闪存储器、相变存储器(PCM)、自选存储器、硫族化物存储器技术等。存储器单元可为易失性的或非易失性的。非易失性存储器(例如FeRAM)可维持其所存储的逻辑状态很长一段时间，即使无外部电源存在也是这样。例如DRAM的易失性存储器装置在与外部电源断开连接时可能会丢失其所存储的状态。
附图说明
[0006]图1说明根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的系统的实例。
[0007]图2说明根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的存储器裸片的实例。
[0008]图3说明根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的存储器装置架构的实例。
[0009]图4说明根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的存储器装置架构的实例。
[0010]图5说明根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的流程图的实例。
[0011]图6示出根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的存
储器装置的框图。
[0012]图7示出根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的主机装置的框图。
[0013]图8和9示出说明根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的一种或多种方法的流程图。
具体实施方式
[0014]存储器装置健康或可靠性可受正常装置使用影响，受繁重装置使用影响，或受存储器装置上的“侵害者”攻击(例如，意图干扰存储器阵列中的一个或多个位以获取对存储器装置或其它系统的未经授权存取的存取模式，通常被称为行锤击)影响。可靠性降低可包含经由重复的存取操作(例如，行锤击)使电路降级(例如，包含一个或多个晶体管降级)或数据完整性受损。在一个实例中，行存取电路可使用较高电压(例如，高于供应电压或逻辑电压)并且可能更易受晶体管降级影响，这可能导致相关联存储器装置的可靠寿命较短(例如，归因于芯片失效)。存储器装置可经设计用于最差情况情境(例如，任何操作情境)，但为处置最差情况情境进行的设计可增加装置成本并且降低装置性能，且可能仍会引起可靠性问题。不具有用于存储器装置组件特性和/或度量的实时报告(例如，来自处于使用中的存储器装置的报告)可降低处置不利条件或确定由磨损引起的装置性能问题的能力。在一些系统中，例如在具有数据安全或安全性影响的应用程序(例如，客户端装置、移动装置、服务器、装置网络或自主车辆)中，不具有实时报告可引起不想要的数据安全和/或可靠性问题。
[0015]本公开提供集成用于检测存储器装置健康问题(例如由装置存取和/或磨损引起的那些问题)的监测器或传感器的技术。存储器装置可被配置成向主机装置(例如，存储器装置外部的来源)警告性能问题(例如，可能的磨损或性能降级)或可能的攻击，且主机装置或存储器装置可被配置成实施校正动作以抵制或阻止所检测到的问题或攻击。所述监测可包含在存储器装置的各种组件处执行的存取操作的业务监测，或可包含可测量存储器装置的组件(例如，晶体管)的参数以检测磨损的传感器。传感器可测量路径速度降级、阻抗漂移或设置/保持定时降级，以及其它实例。业务监测或由传感器测量的参数可以由与用于存储器装置的存取操作有关的度量表示。存储器装置和/或主机装置可使用所述度量(例如，以及阈值)确定是否调整由存储器装置接收的与执行存取操作相关联的参数，例如以便实施校正动作。
[0016]虽然本文中描述参考一些易失性电容式存储器系统健康状态报告的一些实例，但应理解，相同的实例可适用于非易失性存储器系统，例如电容式系统、电阻性系统、铁电系统、磁性、系统磁阻系统或相变存储器系统。
[0017]首先在如参考图1和2所描述的系统和裸片的上下文中描述本公开的特征。在如参考图3
‑
5所描述的存储器装置架构和流程图的上下文中描述本公开的特征。参考涉及如参考图7
‑
9所描述的存储器装置处的存取操作的监测和调整的设备图和流程图进一步说明和描述本公开的这些和其它特征。
[0018]图1说明根据本文所公开的实例的支持监测和调整存储器装置处的存取操作的系统100的实例。系统100可包含主机装置105、存储器装置110以及将主机装置105与存储器装置110耦合的多个信道115。系统100可包含一个或多个存储器装置110，但所述一个或多个
存储器装置110的方面可在单个存储器装置(例如，存储器装置110)的上下文中描述。在一些情况下，存储器子系统或系统100可被称为存储器装置。
[0019]系统100可包含如计算装置、移动计算装置、无线装置、图形处理装置、车辆或其它系统的电子装置的部分。举例来说，系统100可说明计算机、手提式计算机、平板计算机、智能手机、蜂窝电话、可穿戴装置、联网装置、车辆控制器等的方面。存储器装置110可以是可操作以存储用于系统100的一个或多个其它组件的数据的系统的组件。
[0020]系统100的至少部分可为主机装置105的实例。主机装置105可为使用存储器执行处理程序的装置内，例如计算装置、移动计算装置、无线装置、图形处理装置(例如，图形处理单元(GPU))、计算机、手提式计算机、平板计算机、智能手机、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法，其包括：监测存储器装置的多个存取操作内与用于所述存储器装置的存取操作有关的度量；至少部分地基于监测所述度量，确定所述度量满足阈值；至少部分地基于确定所述度量满足所述阈值，识别用于管理对所述存储器装置的存取的配置；和至少部分地基于所述度量满足所述阈值以及用于管理对所述存储器装置的存取的所述配置，确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的参数。2.根据权利要求1所述的方法，其另外包括：根据用于管理对所述存储器装置的存取的所述配置，将所述度量的指示发射到所述存储器装置外部的来源；和至少部分地基于发射所述度量的所述指示，从所述存储器装置外部的所述来源接收对调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的所述参数的指示，其中确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的所述参数至少部分地基于接收到对调整所述参数的所述指示。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述度量表示所述多个存取操作内所述存储器装置的存取模式。4.根据权利要求3所述的方法，其中所述存取模式指示所述存储器装置的地址的重复存取。5.根据权利要求4所述的方法，其另外包括：至少部分地基于确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的所述参数，修改所述存储器装置的逻辑地址到物理地址的映射。6.根据权利要求4所述的方法，其另外包括：至少部分地基于确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的所述参数，修改感测放大器的与所述存储器装置相关联的控制电压或定时。7.根据权利要求1所述的方法，其中所述度量指示所述存储器装置的组件性能的降级。8.根据权利要求7所述的方法，其另外包括：至少部分地基于确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的所述参数，修改与所述存储器装置的所述组件相关联的内部电压或阻抗修整。9.根据权利要求7所述的方法，其另外包括：至少部分地基于确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的所述参数，触发所述组件的重新校准。10.根据权利要求1所述的方法，其中所述度量表示所述存储器装置的组件的磨损水平。11.根据权利要求10所述的方法，其另外包括：至少部分地基于通过传感器对所述组件的性质的测量来确定所述组件的所述磨损水平，其中所述组件上针对所述多个存取操作中的每一个的应力超过所述多个存取操作的存取路径中的对应组件上的应力。12.一种存储器装置，其包括：一个或多个寄存器，其被配置成存储用于管理对所述存储器装置的存取的配置；和
电路系统，其被配置成：监测所述存储器装置的多个存取操作内与用于所述存储器装置的存取操作有关的度量；至少部分地基于监测所述度量，确定所述度量满足阈值；和至少部分地基于用于管理对所述存储器装置的存取的所述配置以及所述度量满足所述阈值，确定是否调整所述存储器装置接收的与执行存取操作相关联的参数。13.根据权利要求12所述的存储器装置，其中所述控制电路被进一步配置成：根据用于管理对所述存储器装置的存取的所述配置，将所...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：