本实用新型专利技术公开了一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置，包括测量装置基体、第一测量口、第一测量标尺、第二测量口、第二测量标尺和铂金探针；所述测量装置基体设置在搅拌槽中法兰盘的上表面；所述测量装置基体上设置有第一测量口和第二测量口；所述第一测量口和第二测量口的内部设置有铂金探针；所述第一测量口的外侧固定有竖直设置的第一测量标尺，所述第一测量口内的铂金探针测量搅拌槽内玻璃液高度；所述第二测量口的外侧固定有竖直设置的第二测量标尺；所述第二测量口内的铂金探针测量搅拌棒上隔盘的位置。用于解决现有技术中检测结果误差较大，存在异物掉落风险的问题。存在异物掉落风险的问题。存在异物掉落风险的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置
[0001]本技术属于TFT玻璃制造领域，具体属于一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置。
技术介绍
[0002]在TFT
‑
LCD液晶玻璃基板生产过程中，铂金通道搅拌段是控制条纹、气泡、结石等不良的关键区域。此区域结构复杂，工艺要求较高，搅拌棒4隔盘经过高温膨胀后的热态位置及3玻璃液面位置关系管控较高，合理的位置关系是质量与品质的保障。
[0003]目前采用的检测办法为在更换搅拌槽上盖板砖的过程中通过两个钢板尺，水平钢板尺平行放置法兰盘处，将另一钢板尺垂直插入槽体接触玻璃液3上表面进行测量读数，此过程由于搅拌槽体敞口玻璃液1300℃以上超高温辐射较强，人员操作较为困难，测量时间不宜过长等原因造成检测结果误差较大，存在异物掉落风险，对后续生产质量、品质的稳定性难以保障。
技术实现思路
[0004]为了解决现有技术中存在的问题，本技术提供一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置，用于解决现有技术中检测结果误差较大，存在异物掉落风险的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置，包括测量装置基体、第一测量口、第一测量标尺、第二测量口、第二测量标尺和铂金探针；
[0007]所述测量装置基体设置在搅拌槽中法兰盘的上表面；所述测量装置基体上设置有第一测量口和第二测量口；
[0008]所述第一测量口和第二测量口的内部设置有铂金探针；
[0009]所述第一测量口的外侧固定有竖直设置的第一测量标尺，所述第一测量口内的铂金探针测量搅拌槽内玻璃液高度；
[0010]所述第二测量口的外侧固定有竖直设置的第二测量标尺；所述第二测量口内的铂金探针测量搅拌棒上隔盘的位置。
[0011]优选的，所述测量装置基体的上表面设置有测量装置扶手。
[0012]进一步的，所述测量装置扶手的数量为两个，两个测量装置扶手对称设置在测量装置基体的上表面。
[0013]优选的，所述测量装置基体采用氧化铝材料制成。
[0014]优选的，所述测量装置基体呈半圆扇形结构。
[0015]优选的，所述第二测量口投影映射位置在搅拌棒的隔盘上。
[0016]优选的，所述第一测量口投影映射位置在搅拌槽内玻璃液的上表面。
[0017]优选的，所述第一测量口的直径大于铂金探针的直径。
[0018]与现有技术相比，本技术具有以下有益的技术效果：
[0019]本技术提供一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置，通过搅拌棒进行位置确认后将铂金探针依次插入第一测量口、第二测量口通过第一测量标尺、第二测量标尺进行读数进行测量，操作相对简单，过程更容易受控，风险较小。测量过程工艺扰动较小，避免局部敞口热量散失过多；操作简单,过程安全可控，测量精度高；测量过程避免异物掉落及金属污染的风险。
[0020]进一步的，第一测量口直径相较于铂金探针直径略大，有效防止异物掉落。
[0021]进一步的，测量装置基体为氧化铝材料，有效的耐热和隔热效果，防止异物掉落。
[0022]进一步的，通过采用铂金探针，铂金探针熔点较高降低原测量使用钢板尺造成烧损造成金属污染风险。
[0023]进一步的，通过设置测量装置扶手，测量装置扶手将搅拌槽液位测量装置转移至工作位，防止过程中高温辐射及测量时的热辐射隔挡。
附图说明
[0024]图1为搅拌槽液位测量组装图；
[0025]图2为搅拌槽体结构示意图；
[0026]图3为搅拌槽液位测量装置结构示意图；
[0027]图4为搅拌槽液位测量装置局部放大对应各位置高度关系一示意图；
[0028]图5为搅拌槽液位测量装置局部放大对应各位置高度关系二示意图；
[0029]图6为铂金探针及尺寸关系示意图；
[0030]附图中：搅拌槽1、法兰盘2、玻璃液3、隔盘4、搅拌棒5、测量装置扶手6、测量装置基体7、第一测量口8、第一测量标尺9、第二测量口10、第二测量标尺11、铂金探针12。
具体实施方式
[0031]下面结合具体的实施例对本技术做进一步的详细说明，所述是对本技术的解释而不是限定。
[0032]实施例
[0033]如图1至图3所示，本技术的一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置，包括测量装置扶手6、测量装置基体7、第一测量口8、第一测量标尺9、第二测量口10、第二测量标尺11、铂金探针12。
[0034]测量装置基体7设置在搅拌槽1中法兰盘2的上表面；测量装置基体7上设置有第一测量口8和第二测量口10；第一测量口8和第二测量口10的内部设置有铂金探针12。
[0035]第一测量口8的外侧固定有竖直设置的第一测量标尺9，第一测量口8内的铂金探针12测量搅拌槽1内玻璃液3高度；第二测量口10的外侧固定有竖直设置的第二测量标尺11；第二测量口10内的铂金探针12测量搅拌棒5上隔盘4的位置。
[0036]测量装置扶手6主要作用为将搅拌槽液位测量装置转移至工作位，防止过程中高温辐射及测量时的热辐射隔挡。测量装置基体7呈半圆扇形结构，测量装置基体7为氧化铝材料，有效的耐热和隔热效果，防止异物掉落。
[0037]第一测量口8投影映射位置为搅拌槽1内玻璃液3上表面，铂金探针12通过第一测量口8即可测量搅拌槽1内玻璃液3位置，第一测量口8直径相较于铂金探针12直径略大，有
效防止异物掉落。
[0038]第一测量标尺9主要作用为将铂金探针12通过第一测量口8测量后读取数值h4，通过计算得出搅拌槽1内玻璃液3距离法兰盘2高度H搅拌槽＝h1
‑
h2
‑
h3
‑
h4。
[0039]第二测量口10投影映射位置为搅拌棒5上隔盘4上，铂金探针12通过第二测量口10即可测量搅拌棒5上隔盘4位置，第二测量口10直径相较于铂金探针12直径略大，有效防止异物掉落。
[0040]第二测量标尺11主要作用为将铂金探针12通过第二测量口10测量后读取数值h5，通过计算得出搅拌棒5上隔盘4上距离法兰盘2高度H隔盘＝h1
‑
h2
‑
h3
‑
h5。
[0041]铂金探针12主要作用为通过第一测量口8、第二测量口10进行H搅拌槽、H隔盘高度测量，铂金探针熔点较高降低原测量使用钢板尺造成烧损造成金属污染风险。
[0042]如图4至图6所示，本技术的一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置的测量过程如下，
[0043]通过测量装置扶手6将测量装置基体7移至搅拌槽1上法兰盘2上部，通过搅拌棒5进行位置确认后将铂金探针12依次插入第一测量口8、第二测量口10通过第一测量标尺9、第二测量标尺11进行读数，读出h4、h5高度值，后通过计算得出搅拌槽内本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置，其特征在于，包括测量装置基体(7)、第一测量口(8)、第一测量标尺(9)、第二测量口(10)、第二测量标尺(11)和铂金探针(12)；所述测量装置基体(7)设置在搅拌槽(1)中法兰盘(2)的上表面；所述测量装置基体(7)上设置有第一测量口(8)和第二测量口(10)；所述第一测量口(8)和第二测量口(10)的内部设置有铂金探针(12)；所述第一测量口(8)的外侧固定有竖直设置的第一测量标尺(9)，所述第一测量口(8)内的铂金探针(12)测量搅拌槽(1)内玻璃液(3)高度；所述第二测量口(10)的外侧固定有竖直设置的第二测量标尺(11)；所述第二测量口(10)内的铂金探针(12)测量搅拌棒(5)上隔盘(4)的位置。2.根据权利要求1所述的一种TFT基板玻璃生产搅拌槽液位测量装置，其特征在于，所述测量装置基体(7)的上表面设置有测量装置扶手(6)。3.根据权利要求2所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：李淼，杨国洪，刘强，汪路遥，江可，
申请(专利权)人：彩虹显示器件股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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