一种数控自检式抛光机制造技术

技术编号:37578172 阅读:21 留言:0更新日期:2023-05-15 07:53
本发明专利技术属于机械设备技术领域,涉及一种数控自检式抛光机,包括底座;支撑结构设在底座上侧;动力源设在支撑结构上;传力装置设在支撑结构上,其输入端和动力源的输出端连接;抛光头可拆卸式连接在传力装置的输出端上;测量装置设在传力装置的输出端上,用于实时测量待加工的零部件的光洁度并将测量到的光洁度实时传送给处理机,处理机实时接收测量装置的光洁度信息,并将接收到的光洁度信息与预设的光洁度下阈值进行实时对比,以便控制动力源维持或者停止工作。利用本发明专利技术的装置加工的零部件,在零部件加工完毕拆卸下来后即是合格成品,免去了来回拆卸安装检测的麻烦,降低了工人的劳动强度,也提高了工作效率,加工经济成本大幅降低。本大幅降低。本大幅降低。

【技术实现步骤摘要】
一种数控自检式抛光机


[0001]本专利技术属于机械设备
,具体涉及一种数控自检式抛光机。

技术介绍

[0002]抛光机是一种用于零部件的表面加工处理的工具,其操作的关键之处在于要尽可能的得到最大的抛光速率,以便去除磨光时产生的损伤层,同时也要保证损伤层不会影响最终观察到的组织,即不会造成假组织。这样一来,前者就需要磨料越大越好,这样能保证产生尽可能大的抛光速率去除磨光时产生的损伤层,后者要求使用最细的材料,使磨光时产生的损伤层尽可能浅,但这样一来抛光速率也会相对比较低。
[0003]目前解决这个矛盾的最好的办法就是把抛光分为两个阶段进行。粗抛目的是去除磨光时产生的损伤层,以保证产生最大的抛光速率;其次是精抛,其目的是去除粗抛产生的表层损伤,使磨光时产生的损伤层减到最小。
[0004]实际的操作中,利用抛光机抛光表面时,待加工的零部件的磨面与抛光盘平行并均匀地轻压在抛光盘上,注意防止待加工的零部件飞出和因压力太大而产生新磨痕。同时还应使待加工的零部件自转并沿转盘半径方向来回移动,以避免抛光织物局部磨损太快在抛光过程中要不断添加微粉悬浮液,使抛光织物保持一定湿度。湿度太大会减弱抛光的磨痕作用,使待加工的零部件中硬相呈现浮凸和钢中非金属夹杂物及铸铁中石墨相产生“曳尾”现象;湿度太小时,由于摩擦生热会使待加工的零部件升温,润滑作用减小,磨面失去光泽,甚至出现黑斑,轻合金则会抛伤表面。为了达到粗抛的目的,要求转盘转速较低,最好不要超过600r/min;抛光时间应当比去掉划痕所需的时间长些,因为还要去掉变形层。粗抛后磨面光滑,但黯淡无光,在显微镜下观察有均匀细致的磨痕,有待精抛消除。精抛时转盘速度可适当提高,抛光时间以抛掉粗抛的损伤层为宜。精抛后磨面明亮如镜,在显微镜明视场条件下看不到划痕,但在相衬照明条件下则仍可见到磨痕。由于抛光机的抛光质量的好坏严重影响待加工的零部件的组织结构,已引起相关专家的重视。
[0005]针对常规平面的表面抛光,还比较好处理,但是针对如图6和图7所示的零部件的抛光,常规的抛光是利用装夹装置将中间的圆柱结构体11夹住,然后转动零部件,对盘型体10的曲面轮廓进行抛光处理,抛光之后卸载,然后去专用仪器上进行光洁度检测,但是由于曲面外形轮廓的抛光难度大,经常需要来回返工多次,这样使得工件的处理效率非常低。

技术实现思路

[0006]有鉴于此,本专利技术提供了一种数控自检式抛光机,以便解决上述提出的技术问题。
[0007]本专利技术的技术方案是:
[0008]一种数控自检式抛光机,包括:
[0009]底座;
[0010]支撑结构,设置在所述底座上侧;
[0011]动力源,设置在所述支撑结构上;
[0012]传力装置,设置在所述支撑结构上,其输入端和所述动力源的输出端连接;
[0013]抛光头,可拆卸式连接在所述传力装置的输出端上;
[0014]测量装置,设置在所述传力装置的输出端上,用于实时测量待加工的零部件的光洁度,并将测量到的光洁度实时传送给外设的处理机,处理机实时接收测量装置的光洁度信息,并将接收到的光洁度信息与预设的光洁度下阈值进行实时对比,当接收到的光洁度信息小于预设的光洁度下阈值时,处理机发出控制信息给动力源,使得动力源停止工作。
[0015]优选的,所述支撑结构包括第一支架和第二支架,所述第一支架和第二支架在底座上对称设置。
[0016]优选的,所述动力源包括舵机,所述舵机与第一支架固定,所述舵机的输出轴与水平设置的第一转轴的一端套装固定,所述第一转轴的另一端穿出第一支架后与传力装置的输入端连接。
[0017]优选的,所述传力装置包括与第一转轴的一端套装固定的第一板体,所述第一板体的形状是等边三角形,第一转轴位于第一板体的第一个顶角上;所述第二支架上穿设有水平设置的第二转轴,所述第二转轴的一端套装固定有第二板体,所述第二板体的外部形状和第一板体相同,所述第二转轴位于第二板体的第一个顶角上;所述第一板体和第二板体的上下侧分别设置有第一连杆和第二连杆,其中,第一连杆的一端与第一板体的第二个顶角铰接,所述第一连杆的中部与第二板体的第二个顶角铰接,所述第二连杆的一端与第一板体的第三个顶角铰接,所述第二连杆的中部与第二板体的第三个顶角铰接,所述第一连杆的另一端与条板的一端铰接,所述条板的另一端与第二连杆的另一端铰接。
[0018]优选的,所述抛光头包括穿设在所述条板上的第一连接件,所述第一连接件背离动力源的一侧设置有第二连接件,所述第二连接件和第一连接件之间设置有弹性体,所述第二连接件背离所述第一连接件的一端用于和磨具可拆卸式连接。
[0019]优选的,所述第一连接件包括螺帽,所述螺帽与连接螺杆的一端同轴固定,所述连接螺杆的另一端同轴固定有用于套装弹性体的光杆体,在光杆体背离螺帽的一端面上开设有凹槽。
[0020]优选的,所述第二连接件包括插装在所述凹槽内的第一凸块,第一凸块的一端同轴固定第二凸块,第二凸块背离第一凸块的一端同轴固定第三凸块,第三凸块背离第一凸块的一端开设有用于和磨具螺纹连接的安装螺孔。
[0021]与现有技术相比,本专利技术提供的一种数控自检式抛光机,在零部件加工完毕拆卸下来后即是合格成品,免去了来回拆卸安装检测的麻烦,降低了工人的劳动强度,也提高了工作效率,加工经济成本大幅降低,实用性强,值得推广。
附图说明
[0022]图1为本专利技术的整体结构的主视图;
[0023]图2为本专利技术的整体结构的俯视图;
[0024]图3为本专利技术的局部结构的示意图1;
[0025]图4为本专利技术的局部结构的示意图2;
[0026]图5为本专利技术的局部结构的示意图3;
[0027]图6为本专利技术针对的加工对象的结构的主视图;
[0028]图7为本专利技术针对的加工对象的结构的俯视图。
具体实施方式
[0029]本专利技术提供了一种数控自检式抛光机,下面结合图1到图5的结构示意图,对本专利技术进行说明。
[0030]实施例1
[0031]如图1所示,本专利技术提供的一种数控自检式抛光机,包括用作主体支撑的底座1,底座1底面开设有多个安装孔,可以将连接固定用的紧定件如螺钉螺栓插入其中,以便于将底座1和工作台进行固定。
[0032]在底座1上侧设置支撑结构,支撑结构上设置有动力源和传力装置,传力装置的输入端和动力源的输出端连接,传力装置的输出端上可拆卸式连接抛光头8。传力装置的输出端上还设置了测量装置,测量装置用于实时测量待加工的零部件的光洁度,并将测量到的光洁度实时传送给外设的处理机,处理机实时接收测量装置的光洁度信息,并将接收到的光洁度信息与预设的光洁度下阈值进行实时对比,当接收到的光洁度信息小于预设的光洁度下阈值时,处理机发出控制信息给动力源,使得动力源停止工作。
[0033]具体的,支撑结构包括第一支架2和第二支架7,第一支架2和第二支架7在底座1上对称设置。其中,传力装置包括与第一转轴的一端套装固定本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数控自检式抛光机,其特征在于,包括:底座(1);支撑结构,设置在所述底座(1)上侧;动力源,设置在所述支撑结构上;传力装置,设置在所述支撑结构上,其输入端和所述动力源的输出端连接;抛光头(8),可拆卸式连接在所述传力装置的输出端上;测量装置,设置在所述传力装置的输出端上,用于实时测量待加工的零部件的光洁度,并将测量到的光洁度实时传送给外设的处理机,处理机实时接收测量装置的光洁度信息,并将接收到的光洁度信息与预设的光洁度下阈值进行实时对比,当接收到的光洁度信息小于预设的光洁度下阈值时,处理机发出控制信息给动力源,使得动力源停止工作。2.根据权利要求1所述的一种数控自检式抛光机,其特征在于,所述支撑结构包括第一支架(2)和第二支架(7),所述第一支架(2)和第二支架(7)在底座(1)上对称设置。3.根据权利要求2所述的一种数控自检式抛光机,其特征在于,所述动力源包括舵机(6),所述舵机(6)与第一支架(2)固定,所述舵机(6)的输出轴与水平设置的第一转轴的一端套装固定,所述第一转轴的另一端穿出第一支架(2)后与传力装置的输入端连接。4.根据权利要求3所述的一种数控自检式抛光机,其特征在于,所述传力装置包括与第一转轴的一端套装固定的第一板体(4),所述第一板体(4)的形状是等边三角形,第一转轴位于第一板体(4)的第一个顶角上;所述第二支架(7)上穿设有水平设置的第二转轴,所述第二转轴的一端套装固定有第二板体(10),所述第二板体(10)的外部形状和第一板体(4)相同,所述第二转轴位于第二板体(10)的第一个顶角上;所述第一板体(4)和第二板体(10)的上下侧分别设置有第一连杆(3)和...

【专利技术属性】
技术研发人员:王赟沈梁周超邵燕飞
申请(专利权)人:杭州职业技术学院
类型:发明
国别省市:

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