电子系统测试方法技术方案

本申请公开了一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统，包含：(a)依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形；(b)得到与该步骤(a)相对应的一结果波形；(c)改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤(a)与该步骤(b)多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级。形组合的一组合等级。形组合的一组合等级。

【技术实现步骤摘要】
电子系统测试方法


[0001]本专利技术有关于电子系统测试方法，特别有关于能以较简单的测试波形(test pattern)得到所需要的测试结果且测试多个信号路径的电子系统测试方法。

技术介绍

[0002]在电子系统测试中，通常会使用眼图(eye diagram)判断整个电子系统的状况好坏。但这种测试方法通常需要足够长度的测试波形(test pattern)才能产生所需要的眼图。例如使用伪随机数二进制数列(Pseudo Randomness Binary Sequence；PRBS)，常用的PRBS
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7信号，其长度至少为127位。而且，已知技术中的电子系统测试通常仅测试单一信号路径，并没有考虑附近其他信号路径对其造成的串音现象(Cross talk)。

技术实现思路

[0003]本专利技术一目的为提供一种电子系统测试方法，其使用了具较少位数的测试波形。
[0004]本专利技术另一目的为提供一种测试装置，其使用了具较少位数的测试波形。
[0005]本专利技术一实施例提供了一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统包含：(a)依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形；(b)得到与该步骤(a)相对应的一结果波形；(c)改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤(a)与该步骤(b)多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级。其中主测试波形为一X位波形且副测试波形为一Y位波形，X与Y为大于或等于3的正整数。此电子系统测试方法可通过一测试装置来实现。
[0006]根据前述实施例，可降低测试波形的位数以减少测试过程的数据量以及所须的测试时间。且除了测试单一信号路径的信号变化所可能产生的问题外，也考虑到其他信号路径对此信号路径所可能产生的影响。
附图说明
[0007]图1绘示了根据本专利技术一实施例的，以测试装置对目标电子系统进行测试的方块图。图2绘示了根据本专利技术一实施例的电子装置测试方法的流程图。图3绘示了根据本专利技术一实施例的电子装置测试方法的更详细流程图。图4绘示了根据本专利技术一实施例的测试装置。符号说明：101 目标电子系统103 眼图产生装置105 测试装置
401处理电路403储存装置AS1、AS2副信号路径MS主信号路径
具体实施方式
[0008]以下将以多个实施例来描述本专利技术的内容，还请留意，各实施例中的组件可通过硬件(例如装置或电路)或是韧体(例如微处理器中写入至少一程序)来实施。此外，以下描述中的”第一”、”第二”以及类似描述仅用来定义不同的组件、参数、数据、信号或步骤。并非用以限定其次序。
[0009]图1绘示了根据本专利技术一实施例的，以测试装置对目标电子系统进行测试的方块图。如图1所示，目标电子系统101可包含至少一个电子装置，并包含一主信号路径MS以及多个副信号路径(在以下实施例中为两个副信号路径AS1、AS2，但不限定)。在一实施例中，主号路径MS以及副讯号路径AS1、AS2均为目标电子系统101的信号传输线。在测试时，会依据包含多个测试波形的一测试波形组合对目标电子系统101的主信号路径MS输入一主测试波形MP，并同时对目标电子系统101的副信号路径AS1,AS2分别输入副测试波形AP1,AP2。主测试波形MP或副测试波形AP1,AP2可由测试装置105所产生，或者是由测试装置105之外的装置而产生。主测试波形为一X位波形且副测试波形为一Y位波形，X与Y为大于或等于3的正整数，且X和Y可为相同正整数也可为不同的正整数。藉由同时对主信号路径MS以及多个副信号路径AS1、AS2输入测试波形，除了可观察到测试波形在主信号路径MS造成的影响外，也可观察到测试波形在副信号路径AS1、AS2上对主信号路径MS造成的影响。
[0010]目标电子系统101会相对应于包含不同的主测试波形MP以及副测试波形AP1,AP2的测试波形产生结果波形RW。眼图产生装置103用以接收结果波形RW并产生和结果波形RW相对应的眼图ED。在一实施例中，眼图产生装置103是根据和测试波形组合中所有测试波形相对应的结果波形RW产生眼图。详细步骤将于后续例子中详细说明。
[0011]测试装置105会根据眼图ED判断测试波形组合的组合等级。还请留意，在一实施例中，眼图ED好坏的判断也可由测试人员目视来判断，而不由测试装置105计算。前述X和Y的值可由所需的测试数据和所需的测试时间来决定。X和Y的值越大，便可有更多的测试数据来产生眼图，眼图的判断也越精确，然而却须要更长的测试时间。相反的，X和Y的值越小，测试资料也相对应的较少，但所须的测试时间会相对应的变短。然请留意，在图1实施例中，是以对应结果波形RW的眼图来判断组合等级。然而，组合等级也可由结果波形RW的其他参数来判断。
[0012]如前所述，在得到一组主测试波形以及副测试波形所对应的结果波形RW后，会改变主测试波形或副测试波形，并重复前述步骤而产生得到多个结果波形RW，直到测试波形组合中所有的测试波形都被测试完毕。举例来说，首先输入的主测试波形以及副测试波形的测试波形为(MP,AP1,AP2)，而得到的结果波形为RW1。而在下一轮的测试中，将主测试波形以及副测试波形改变为(MP,AP1,AP3)，并得到结果波形RW2。然后再下一轮的测试中，将主测试波形以及副测试波形改变为(MPa,AP1,AP2)，并得到结果波形RW3。因此，在进行了三个主测试波形以及副测试波形的不同测试波形的测试后，可以得到三个结果波形RW1、RW2
以及RW3。然后会以结果波形RW1、RW2以及RW3产生眼图。眼图的状况越好，例如眼图越清楚，则代表目标电子系统101对此测试波形组合的响应越好。
[0013]以下表一绘示了一测试波形组合的例子。然请留意，这些组合仅用于举例，测试波形当可对应不同的需求来设定。表一
[0014]在表一所示的测试波形组合中，包含了8个测试波形，每一个测试波形包含了一主测试波形MP以及两个副测试波形AP1、AP2。第一个输入到主信号路径MS以及副信号路径AS1、AS2的测试波形为测试波形1。得到测试波形1的结果波形后，会将输入到主信号路径MS以及副信号路径AS1、AS2的测试波形切换为测试波形2。也就是输入到副讯号路径AS1、AS2的副测试波形会从010切换成101，而输入到主信号路径MS的主测试波形则维持010，并得到相对应的结果波形。剩下的测试波形也遵循相同的规则，直到8个测试波形都输入完毕
[0015]表一中的多个测试波形遵循以下规则其中至少其一，但不限定。在表一的实施例中，会输入相同的副测试波形到不同的副信号路径。而在一实施例中，主测试波形以及副测试波形相同，例如测试波形1和测试波形4。而根据表一，主测试波形以及该副测试波形分别包含以下值其中之一：010、101、000以及111。详细言之，主测试波形可包含本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统，其特征在于，包含：(a)依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形；(b)得到与该步骤(a)相对应的一结果波形；(c)改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤(a)与该步骤(b)多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级；其中该主测试波形为一X位波形且该副测试波形为一Y位波形，X与Y为大于或等于3的正整数。2.如权利要求1所述的电子系统测试方法，其特征在于，该步骤(a)输入相同的该副测试波形到不同的该副信号路径。3.如权利要求2所述的电子系统测试方法，其特征在于，该主测试波形以及该副测试波形相同。4.如权利要求1所述的电子系统测试方法，其特征在于，X和Y均为3，且该副信号路径的数量为2。5.如权利要求4所述的电子系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡涵昀，王世宏，吴亭莹，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：