光学测量方法技术

本申请涉及显示屏光学测量技术领域，提供一种光学测量方法，包括以下步骤：显示屏裸板测量，对显示屏裸板进行光学测量；封装显示屏测量，对显示屏裸板进行封装，以得到封装显示屏，再对封装显示屏进行光学测量，其中，显示屏裸板测量步骤中的光学参量与封装显示屏测量测量步骤中的光学参量相同；分析判定，以显示屏裸板测量步骤中测得的测量数据为判定标准，并根据封装显示屏测量步骤中测得的测量数据对封装显示屏的显示品质进行判定。本申请的光学测量方法，可有效地保障封装显示屏的判定标准的准确性、可靠性，进而利于对封装显示屏的显示品质进行准确、可靠地判定，还利于对封装显示屏的显示品质出现问题的原因进行定向追踪。踪。踪。

【技术实现步骤摘要】
光学测量方法


[0001]本申请属于显示屏光学测量
，尤其涉及一种光学测量方法。

技术介绍

[0002]由于发光芯片的发光离散性以及生产工艺等因素，LED显示屏易出现亮度一致性差、色度一致性差等显示不均而降低用户观看体验。
[0003]为了判定LED显示屏的显示品质，传统方式通常是在LED显示封装完成后，对封装成品进行光学测量，并根据行业标准或国家标准规定的亮度、灰度等光学范围值判定封装显示屏的显示品质，然而，在封装成品的显示品质出现问题时，因封装成品涉及到的加工工艺环节比较多，导致难以对封装成品的显示品质问题是在哪个工艺环节出现的进行定向追踪，不利于问题环节的研究。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种光学测量方法，以解决现有光学测量方法中难以对显示品质问题是在哪个工艺环节出现的进行定向追踪的问题。
[0005]为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：一种光学测量方法，包括以下步骤：
[0006]显示屏裸板测量，对显示屏裸板进行光学测量；
[0007]封装显示屏测量，对所述显示屏裸板进行封装，以得到封装显示屏，再对所述封装显示屏进行光学测量，其中，所述显示屏裸板测量步骤中的光学参量与所述封装显示屏测量测量步骤中的光学参量相同；
[0008]分析判定，以所述显示屏裸板测量步骤中测得的测量数据为判定标准，并根据所述封装显示屏测量步骤中测得的测量数据对所述封装显示屏的显示品质进行判定。
[0009]在一个实施例中，在所述显示屏裸板测量步骤中，先将所述显示屏裸板安装至旋转平台上，并调整所述显示屏裸板的显示面与所述旋转平台的旋转轴线重合设置；再在所述显示屏裸板的显示面上选择至少一个测量区域，并调整所述测量区域的中心位于所述旋转轴线上；再通过所述旋转平台带动所述显示屏裸板绕所述旋转轴线往复转动，同时对在所述显示屏裸板的显示面上选定的所述测量区域进行光学测量。
[0010]在一个实施例中，在所述封装显示屏测量步骤中，先将所述显示屏裸板从所述旋转平台拆卸下来，再对所述显示屏裸板进行封装，以得到封装显示屏；再将所述封装显示屏安装至所述旋转平台上，并调整所述封装显示屏的显示面与所述旋转平台的旋转轴线重合设置；再在所述封装显示屏的显示面上选择至少一个测量区域，并调整所述测量区域的中心位于所述旋转轴线上；再通过所述旋转平台带动所述封装显示屏绕所述旋转轴线往复转动，同时对在所述封装显示屏的显示面上选定的所述测量区域进行光学测量，其中，在所述封装显示屏的显示面上选定的测量区域与在所述显示屏裸板的显示面上选定的测量区域为相同区域。
[0011]在一个实施例中，所述测量区域为圆形区域，所述测量区域以围合成矩形的四个
像素点的两条对角线的交点为圆心，以所述对角线的长度为直径。
[0012]在一个实施例中，围合成矩形的所述四个像素点依次相邻设置。
[0013]本申请提供的有益效果在于：
[0014]本申请实施例提供的光学测量方法，通过在同样的测量条件下依次对显示屏裸板，以及对显示屏裸板进行封装后的封装显示屏进行光学测量，再以显示屏裸板的测量数据为判定标准，并根据封装显示屏的测量数据，对封装显示屏的显示品质进行判定，相比于现有技术中根据行业标准或国家标准判定封装显示屏的显示品质的方式，本申请通过以显示屏裸板的测量数据为判定标准，可有效地保障封装显示屏的判定标准的准确性、可靠性，进而利于对封装显示屏的显示品质进行准确、可靠地判定，还利于对封装显示屏的显示品质出现问题的原因进行定向追踪，有效地保障并提高光学测量方法的可靠性、准确性。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1是本申请实施例提供的光学测量方法的流程图；
[0017]图2是本申请实施例提供的光学测量方法的测量示意图一；
[0018]图3是本申请实施例提供的光学测量方法的测量示意图二；
[0019]图4是本申请实施例提供的显示屏的示意图。
[0020]附图标号说明：
[0021]10
‑
旋转平台；11
‑
旋转轴线；20
‑
测量机构；21
‑
测量端；211
‑
中心线；30
‑
显示屏裸板(封装显示屏)；31
‑
显示面；32
‑
像素点；α
‑
测量端的测量范围；β
‑
显示屏的偏转角度。
具体实施方式
[0022]为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0023]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0024]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0025]在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连
接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0026]以下结合具体实施例对本申请的具体实现进行更加详细的描述：
[0027]请参阅图1、图2、图3，本申请实施例提供了一种光学测量方法，尤其适于对LED显示屏的光学测量，尤其适于对mini LED显示屏、micro LED显示屏等微间距LED显示屏的光学测量。
[0028]该光学测量方法包括显示屏裸板30测量、封装显示屏30测量和分析判定步骤。
[0029]其中，在显示屏裸板30测量步骤中，对显示屏裸板30进行光学测量。在此需要说明的是，显示屏裸板30可以是箱体、模组、灯板等形式，本实施例对此不做限制。
[0030]在封装显示屏30测量步骤中，对显示屏裸板30进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学测量方法，其特征在于，包括以下步骤：显示屏裸板测量，对显示屏裸板进行光学测量；封装显示屏测量，对所述显示屏裸板进行封装，以得到封装显示屏，再对所述封装显示屏进行光学测量，其中，所述显示屏裸板测量步骤中的光学参量与所述封装显示屏测量测量步骤中的光学参量相同；分析判定，以所述显示屏裸板测量步骤中测得的测量数据为判定标准，并根据所述封装显示屏测量步骤中测得的测量数据对所述封装显示屏的显示品质进行判定。2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，在所述显示屏裸板测量步骤中，先将所述显示屏裸板安装至旋转平台上，并调整所述显示屏裸板的显示面与所述旋转平台的旋转轴线重合设置；再在所述显示屏裸板的显示面上选择至少一个测量区域，并调整所述测量区域的中心位于所述旋转轴线上；再通过所述旋转平台带动所述显示屏裸板绕所述旋转轴线往复转动，同时对在所述显示屏裸板的显示面上选定的所述测量区域进行光学测量。3.如权利要求2所述的光学...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈依籍，徐梦梦，石昌金，丁崇彬，
申请(专利权)人：深圳市艾比森光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：