一种基于CCD的缺陷检测分析系统技术方案

本发明专利技术提供一种基于CCD的缺陷检测分析系统，其包括初始化模块、参数保存模块、图片提取模块和健康状态检测模块，初始化模块在系统启动阶段载入初始的环境参数和算法参数，参数保存模块自动存储环境参数和算法参数，并实时将环境参数和算法参数更新到初始化模块，健康状态检测模块对产品图片进行检测分析。本发明专利技术具有能够检测环境异常并实时调整光源强度和焦距、针对不同的缺陷采用不同的算法进行复检，提高了良品率等优点。提高了良品率等优点。提高了良品率等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种基于CCD的缺陷检测分析系统


[0001]本专利技术涉及缺陷分析系统，具体涉及一种基于CCD的缺陷检测分析系统。

技术介绍

[0002]目前只有传统算法进行检查，但是传统算法只能判定简单的OK/NG和缺陷的大致部位，且无法自定NG的包含范围；而且参数设定需要手动调整，很难调整至最优参数；对环境的变化过于敏感，无法检测环境异常和自适应环境差异。
[0003]因此，有必要提供一种新的技术方案。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术中存在的技术问题，本专利技术公开了一种基于CCD的缺陷检测分析系统，具体技术方案如下所述：
[0005]本专利技术提供一种基于CCD的缺陷检测分析系统，其包括初始化模块、参数保存模块、图片提取模块、生产检测模块和健康状态检测模块，
[0006]所述初始化模块在系统启动阶段载入初始的环境参数和算法参数；
[0007]所述参数保存模块自动存储环境参数和算法参数，所述参数保存模块通过环境参数实时调整对应的设备，并实时将环境参数和算法参数更新到所述初始化模块；
[0008]所述图片提取模块将生产过程中的产品图片实时提取出来；
[0009]生产检测模块载入所述初始化模块中的算法参数，对每一张所述图片提取模块提取出来的图片进行检测，检测到图片数据有问题时将有问题的图片发送到所述健康状态检测模块；
[0010]所述健康状态检测模块对有问题的产品图片和整体设备进行检测分析，如无异常则继续生产，如有异常则进行自动优化或者停机报警，优化后的环境参数和算法参数反馈到参数保存模块进行存储。
[0011]进一步地，所述健康状态检测模块按照不同的因子对图片采用不同的算法进行复检，复检成功则按照预订流程进行自动优化，复检失败则报警故障并停机修复。
[0012]进一步地，所述复检的算法包括光源检查算法、焦距检查算法、制品变化检查算法、产品良率控制算法、制品缺陷检查算法和设备内部自检程序，所述光源检查算法、焦距检查算法、制品变化检查算法、产品良率控制算法和制品缺陷检查算法针对产品图片的异常进行检测，所述设备内部自检程序针对设备自身的异常进行检测。
[0013]进一步地，所述设备的异常包括设备多次停机、良品率下降、生产速度下降、误判或者漏判增多。
[0014]进一步地，所述光源检查算法的参数对应光源控制器，所述光源检查算法优化后的参数送入所述参数保存模块进行，并通过所述参数保存模块来控制调整所述光源控制器，
[0015]所述焦距检查算法的参数对应相机装置，所述焦距检查算法优化后的参数送入所
述参数保存模块进行，并通过所述参数保存模块来控制调整相机装置的焦距。
[0016]本专利技术具有以下有益效果：
[0017]1、本专利技术提供的基于CCD的缺陷检测分析系统，能够检测环境异常并实时调整光源强度和焦距。
[0018]2、本专利技术提供的基于CCD的缺陷检测分析系统，针对不同的缺陷采用不同的算法进行复检，提高了良品率。
[0019]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。
[0021]图1是本专利技术实施例提供的基于CCD的缺陷检测分析系统的流程图。
具体实施方式
[0022]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0023]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0024]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0025]本专利技术公开了一种基于CCD的缺陷检测分析系统，其包括初始化模块、参数保存模块、图片提取模块、生产检测模块和健康状态检测模块。
[0026]所述初始化模块在系统启动阶段载入初始的环境参数和算法参数；
[0027]所述参数保存模块自动存储环境参数和算法参数，所述参数保存模块通过环境参数实时调整对应的设备，并实时将环境参数和算法参数更新到所述初始化模块；
[0028]所述图片提取模块将生产过程中的产品图片实时提取出来；
[0029]生产检测模块载入所述初始化模块中的算法参数，对每一张所述图片提取模块提取出来的图片进行检测，检测到图片数据有问题时将有问题的图片发送到所述健康状态检测模块；
[0030]所述健康状态检测模块对有问题的产品图片和整体设备进行检测分析，如无异常则继续生产，如有异常则进行自动优化或者停机报警，优化后的环境参数和算法参数反馈到参数保存模块进行存储。
[0031]所述健康状态检测模块按照不同的因子对图片采用不同的算法进行复检，复检成功则按照预订流程进行自动优化，复检失败则报警故障并停机修复。
[0032]所述复检的算法包括光源检查算法、焦距检查算法、制品变化检查算法、产品良率控制算法、制品缺陷检查算法和设备内部自检程序，所述光源检查算法、焦距检查算法、制品变化检查算法、产品良率控制算法和制品缺陷检查算法针对产品图片的异常进行检测，所述设备内部自检程序针对设备自身的异常进行检测。
[0033]所述设备的异常包括设备多次停机、良品率下降、生产速度下降、误判或者漏判增多。
[0034]所述光源检查算法的参数对应光源控制器，所述光源检查算法优化后的参数送入所述参数保存模块进行，并通过所述参数保存模块来控制调整所述光源控制器，
[0035]所述焦距检查算法的参数对应相机装置，所述焦距检查算法优化后的参数送入所述参数保存模块进行，并通过所述参数保存模块来控制调整相机装置的焦距。
[0036]在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于CCD的缺陷检测分析系统，其特征在于：其包括初始化模块、参数保存模块、图片提取模块、生产检测模块和健康状态检测模块，所述初始化模块在系统启动阶段载入初始的环境参数和算法参数；所述参数保存模块自动存储环境参数和算法参数，所述参数保存模块通过环境参数实时调整对应的设备，并实时将环境参数和算法参数更新到所述初始化模块；所述图片提取模块将生产过程中的产品图片实时提取出来；生产检测模块载入所述初始化模块中的算法参数，对每一张所述图片提取模块提取出来的图片进行检测，检测到图片数据有问题时将有问题的图片发送到所述健康状态检测模块；所述健康状态检测模块对有问题的产品图片和整体设备进行检测分析，如无异常则继续生产，如有异常则进行自动优化或者停机报警，优化后的环境参数和算法参数反馈到所述参数保存模块进行存储。2.根据权利要求1所述的基于CCD的缺陷检测分析系统，其特征在于，所述健康状态检测模块按照不同的因子对图片采用不同的算法进行复检，复检成功则按照预订流程进行自动优化...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄德根，
申请(专利权)人：苏州优斯登物联网科技有限公司，
类型：发明
国别省市：