检漏系统、检漏方法、复合光纤和增益光纤的制备方法技术方案

本申请提供一种检漏系统、检漏方法、复合光纤和增益光纤的制备方法，检漏系统用于检测待检测点是否存在冷却介质的泄漏，检漏系统包括光线发射单元和光线检测单元，光线发射单元与光线检测单元分别位于待检测点的相对两侧，光线发射单元包括激光发射器和与激光发射器耦合的增益光纤；激光发射器发出的激光激发增益光纤产生激发光，光线检测单元接收穿过待检测点的激发光，并形成光谱谱图；其中，激发光的波长在1100nm～4000nm范围内。利用本申请的检漏系统能够检测待检测点是否存在冷却介质的泄漏，同时避免了冷却介质泄漏并挥发至空气中而导致对设备和人体造成的损害。而导致对设备和人体造成的损害。而导致对设备和人体造成的损害。

【技术实现步骤摘要】
检漏系统、检漏方法、复合光纤和增益光纤的制备方法


[0001]本申请涉及电子设备，尤其涉及一种检漏系统、检漏方法、复合光纤和增益光纤的制备方法。

技术介绍

[0002]随着社会的发展，算力已成为国民经济中不可或缺的一部分。算力需求的日益增加，促使着电子设备持续向着高功率、高密度的方向发展。但这也会使得电子设备的散热问题变得更加严重。传统风冷技术适用于机柜功率密度较低的小微型数据中心的冷却，当机柜功率密度大于30kW/r时，其移热速率和产热速率不匹配，能源利用效率低，难以满足散热需求，不再适用。
[0003]为了解决此问题，电子设备中的液冷设备利用浸没液冷技术进行散热。但浸没液冷技术对液冷设备的密封工艺要求极为苛刻。液冷设备中的冷却介质泄漏并挥发到空气中，会对液冷设备造成损坏，当人体大量吸入挥发的冷却介质时，还会造成不可逆的损伤。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种检漏系统、检漏方法、复合光纤和增益光纤的制备方法，利用该检漏系统能够检测待检测点是否存在冷却介质的泄漏，避免了冷却介质泄漏并挥发至空气中而导致对设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检漏系统，用于检测待检测点是否存在冷却介质的泄漏，其特征在于，所述检漏系统包括光线发射单元和光线检测单元，所述光线发射单元与所述光线检测单元分别位于所述待检测点的相对两侧，所述光线发射单元包括激光发射器和与所述激光发射器耦合的增益光纤；所述激光发射器发出的激光激发所述增益光纤产生激发光，所述光线检测单元接收穿过所述待检测点的所述激发光，并形成光谱谱图；其中，所述激发光的波长在1100nm～4000nm范围内。2.根据权利要求1所述的检漏系统，其特征在于，所述激发光的波长范围覆盖1400nm～2400nm。3.根据权利要求2所述的检漏系统，其特征在于，所述增益光纤为Ni
2+
：KZnF3光纤。4.根据权利要求1所述的检漏系统，其特征在于，所述增益光纤为PbS量子点光纤或硫系光纤中。5.根据权利要求1至3任一项所述的检漏系统，其特征在于，所述光线发射单元包括复合光纤，所述复合光纤包括石英光纤和所述增益光纤，所述石英光纤的一端与所述激光发射器耦合，另一端与所述增益光纤熔接。6.根据权利要求1至3任一项所述的检漏系统，其特征在于，所述光线检测单元包括红外探测器和长通滤波片，所述红外探测器的入光面朝向所述待检测点，所述长通滤波片安装于所述红外探测器的入光面，所述长通滤波片过滤穿过所述待检测点的所述激发光，所述红外探测器自所述入光面接收经所述长通滤波片过滤后的所述激发光，并形成所述光谱谱图。7.根据权利要求6所述的检漏系统，其特征在于，所述增益光纤的出光端与所述待检测点的距离小于或等于50cm，所述长通滤波片与所述待检测点之间的距离小于或等于50cm。8.根据权利要求6所述的检漏系统，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙益，江水木，
申请(专利权)人：超聚变数字技术有限公司，
类型：发明
国别省市：