一种大功率充电器表面缺陷检测方法技术

技术编号:37509340 阅读:13 留言:0更新日期:2023-05-07 09:48
本发明专利技术涉及图像处理技术领域,具体涉及一种大功率充电器表面缺陷检测方法,方法包括:通过充电器灰度图像及边缘图像得到翘曲待测区并得到包含的边缘对照组,根据翘曲待测区内边缘对照组内的形状特征差异、边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度和突变特征获得边缘变形度。根据翘曲待测区划分的所有待测区的边缘特征和角点数量获得位置分布相邻度;将翘曲待测区的边缘变形度和翘曲待测区的边缘相邻区域的位置特征结合起来,从两个角度对各个翘曲待测区的翘曲程度进行分析,得到最终的翘曲显著度,然后对翘曲待测区进行最终的缺陷识别。本发明专利技术从多角度、多维度对翘曲待测区进行分析,能够增强识别结果的准确性和科学性。能够增强识别结果的准确性和科学性。能够增强识别结果的准确性和科学性。

【技术实现步骤摘要】
一种大功率充电器表面缺陷检测方法


[0001]本专利技术涉及图像处理
,具体涉及一种大功率充电器表面缺陷检测方法。

技术介绍

[0002]大功率充电器正在向小型化、轻量化、高性能化发展,一般为箱式或柜式。为保护充电器内部构件,充电器的外部由外壳包裹,外壳通常为注塑或挤压而成。在外壳制造的过程中,由于注射压力过高、保压时间过长、熔料温度过低、冷却时间过短等原因,易出现内应力增加而导致外壳收缩不均匀、出现翘曲变形的情况。翘曲会导致相邻需要拼接在一起的外壳块间隙的不一致,存在段差,无法进行完美拼接,使拼接位置存在缝隙而无法有效固定充电器内部的构件,也无法保障对内部构件的保护效果。所以,外壳出现翘曲的充电器在使用和移动过程中易受到损伤。
[0003]目前,翘曲的检测一般针对与无转折的平板,将其固定于在稳定平面,使用位移传感器等按照距离进行判断,不同检测方法对同一待测板块的判断结果也会不同。现有技术中,对外壳图像进行数据处理得到多个轮廓边缘并进行轮廓配准,剔除最小的最短距离对应的轮廓边缘,其他轮廓边缘为缺陷轮廓,判断条件过于单一,会使最终识别结果的准确性降低;或仅根据边缘线条数以及边缘线上边缘像素点的相关性得到边缘复杂度,没有对边缘线相邻区域进行进一步判断,忽略了变形的整体性,虽然检测速度会快一点,但是最终得到识别结果的准确性不高。

技术实现思路

[0004]为了解决现有技术中对翘曲区域的检测结果的准确性不高的技术问题,本专利技术的目的在于提供一种大功率充电器表面缺陷检测方法,所采用的技术方案具体如下:本专利技术提出一种大功率充电器表面缺陷检测方法,所述方法包括:获得充电器灰度图像及其充电器边缘图像;充电器边缘图像中每个封闭边缘形成的区域为翘曲待测区;根据每个翘曲待测区和对应最小外接矩形的边缘对应关系获得四个边缘对照组;分别获得每个边缘对照组内的形状特征差异;分别获得每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度;根据每个边缘对照组内两条边缘对应位置像素点的距离变化特征获得对应边缘对照组的突变特征;根据翘曲待测区内每个边缘对照组内的形状特征差异、每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度和突变特征获得每个翘曲待测区的边缘变形度;根据像素值将每个翘曲待测区划分为两个待测区;对任意一个待测区,获得待测区的边缘特征和角点数量;根据所有待测区的边缘特征和角点数量获得每个翘曲待测区的位置分布相邻度;根据每个翘曲待测区的边缘变形度和位置分布相邻度获得每个翘曲待测区的翘曲显著度;根据所有翘曲待测区的翘曲显著度检测对应充电器外壳的翘曲情况。
[0005]进一步的,所述获得每个边缘对照组内的形状特征差异的方法包括:
对每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘的像素点使用傅里叶描述子,获得包含预设特征数量个元素的待测特征向量;对每个边缘对照组内对应最小外接矩形边缘的像素点使用傅里叶描述子,获得包含预设特征数量个元素的矩形特征向量;每个边缘对照组的形状特征包含待测特征向量和对应的矩形特征向量;将待测特征向量与矩形特征向量对应位置元素的差值绝对值进行累加,累加值作为对应边缘对照组内的形状特征差异。
[0006]进一步的,所述获得每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度的方法包括:将每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘的像素点进行霍夫直线检测,获得拟合直线;根据预设尺寸的滑窗以每个拟合直线像素点为中心遍历所有拟合直线像素点,以滑窗滑过的区域作为边缘直度保持区;将每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘位于边缘直度保持区的像素点作为第一笔直像素点,将第一笔直像素点与对应翘曲待测区边缘像素点的数量比值作为每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度。
[0007]进一步的,所述获得每个边缘对照组的突变特征的方法包括:获得每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘上的每个像素点与对应外接矩形边缘上所有像素点的欧氏距离,以最小欧式距离对应的两个像素点作为位置对应的像素点;将每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘像素点对应的最小欧式距离组成距离序列;对距离序列进行突变检测,获得距离序列的突变值;对距离序列进行波动分析,获得距离序列的平滑值;将距离序列的突变值与平滑值的比值作为每个边缘对照组的突变特征。
[0008]进一步的,所述获得边缘变形度的方法包括:将每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度进行负相关映射,获得直线拟合度的负相关值,将每个边缘对照组内的形状特征差异、每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度负相关值和突变特征的乘积作为每个边缘对照组的子变形度;将对应翘曲待测区的所有边缘对照组的子变形度进行累加获得对应翘曲待测区的边缘变形度。
[0009]进一步的,所述获得待测区的边缘特征的方法包括:若待测区内边缘像素点的预设领域范围内存在翘曲待测区边缘的像素点,则将待测区内对应边缘像素点作为相邻像素点;将相邻像素点与待测区内边缘像素点的数量比值作为待测区的边缘特征。
[0010]进一步的,所述获得位置分布相邻度的方法包括:将每个待测区的角点数量进行负相关处理,获得角点数量的负相关值;将每个待测区的边缘特征与角点数量负相关值的和值作为每个待测区对应的子相邻度;将所有待测区的子相邻度的最大值作为位置分布相邻度。
[0011]进一步的,所述获得翘曲显著度的方法包括:将每个翘曲待测区的位置分布相邻度进行归一化,获得位置分布相邻度的归一化值;将位置分布相邻度的归一化值与对应的边缘变形度的乘积作为每个翘曲待测区的翘曲显著度。
[0012]进一步的,所述获得边缘对照组的方法包括:
对每个翘曲待测区进行角点检测得到对应的角点位置,根据角点位置对翘曲待测区的边缘进行划分获得四个边缘线;对于任意一个边缘线,将边缘线与对应最小外接矩形的边缘进行对应,获得对应的边缘对照组。
[0013]进一步的,获得所述翘曲待测区后还包括:充电器边缘图像中每个封闭边缘形成的区域为翘曲待测区,选择任意一个翘曲待测区;若选择的翘曲待测区包含其他翘曲待测区,则将所选的翘曲待测区内非其他翘曲待测区的像素点作为选择像素点;根据选择像素点的灰度值对所选翘曲待测区内的各个非选择像素点的灰度值使用双线性插值算法进行更新,获得翘曲待测区内的各个非选择像素点的更新后的灰度值,并替换对应的原本灰度值。
[0014]本专利技术具有如下有益效果:本专利技术实施例中,通过充电器灰度图像及其充电器边缘图像得到翘曲待测区,根据每个翘曲待测区和对应最小外接矩形的边缘对应关系获得四个边缘对照组。获得每个边缘对照组内的形状特征差异,能够将边缘线的特征表述出来,增强后续对结果判断的准确性;获得每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度,判断翘曲待测区边缘与直线的相似程度,有利于后续分析;根据每个边缘对照组内两条边缘对应位置像素点的距离变化特征获得对应边缘对照组的突变特征,能够进一步判断翘曲待测区边缘的翘曲变形状态。根据翘曲待测区内每个边缘对照组内的形状特征差异、每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度和突变特征获得每个翘曲待测区的边缘变形度,能够对翘曲待测区的边缘扭曲程度进行综合分析,增强结果的科学本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大功率充电器表面缺陷检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:获得充电器灰度图像及其充电器边缘图像;充电器边缘图像中每个封闭边缘形成的区域为翘曲待测区;根据每个翘曲待测区和对应最小外接矩形的边缘对应关系获得四个边缘对照组;分别获得每个边缘对照组内的形状特征差异;分别获得每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度;根据每个边缘对照组内两条边缘对应位置像素点的距离变化特征获得对应边缘对照组的突变特征;根据翘曲待测区内每个边缘对照组内的形状特征差异、每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度和突变特征获得每个翘曲待测区的边缘变形度;根据像素值将每个翘曲待测区划分为两个待测区;对任意一个待测区,获得待测区的边缘特征和角点数量;根据所有待测区的边缘特征和角点数量获得每个翘曲待测区的位置分布相邻度;根据每个翘曲待测区的边缘变形度和位置分布相邻度获得每个翘曲待测区的翘曲显著度;根据所有翘曲待测区的翘曲显著度检测对应充电器外壳的翘曲情况。2.根据权利要求1所述的一种大功率充电器表面缺陷检测方法,其特征在于,获得每个边缘对照组内的形状特征差异的方法包括:对每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘的像素点使用傅里叶描述子,获得包含预设特征数量个元素的待测特征向量;对每个边缘对照组内对应最小外接矩形边缘的像素点使用傅里叶描述子,获得包含预设特征数量个元素的矩形特征向量;每个边缘对照组的形状特征包含待测特征向量和对应的矩形特征向量;将待测特征向量与矩形特征向量对应位置元素的差值绝对值进行累加,累加值作为对应边缘对照组内的形状特征差异。3.根据权利要求1所述的一种大功率充电器表面缺陷检测方法,其特征在于,获得每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度的方法包括:将每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘的像素点进行霍夫直线检测,获得拟合直线;根据预设尺寸的滑窗以每个拟合直线像素点为中心遍历所有拟合直线像素点,以滑窗滑过的区域作为边缘直度保持区;将每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘位于边缘直度保持区的像素点作为第一笔直像素点,将第一笔直像素点与对应翘曲待测区边缘像素点的数量比值作为每个边缘对照组内翘曲待测区边缘的直线拟合度。4.根据权利要求1所述的一种大功率充电器表面缺陷检测方法,其特征在于,获得每个边缘对照组的突变特征的方法包括:获得每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘上的每个像素点与对应外接矩形边缘上所有像素点的欧氏距离,以最小欧式距离对应的两个像素点作为位置对应的像素点;将每个边缘对照组内的翘曲待测区边缘像素点对应的最小欧式距离...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐鹏
申请(专利权)人:飞杨电源技术深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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