一种图像传感器坏点的存储方法、检测校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种图像传感器坏点的存储方法、检测校正方法及装置，旨在解决现有技术对图像传感器大面积坏点区域进行坏点检测校正的不准确问题和低效率高成本问题。本发明专利技术的方法主要包括坏点检测方法、坏点位置信息存储方法和坏点校正方法三部分，其中坏点检测方法使用相对误差而非绝对误差来对坏点进行检测，能够对感光像素坏点进行更准确的检测；坏点位置信息存储方法针对大面积坏点区域，通过存储基准坐标和掩码信息来描述坏点位置信息，而非逐点存储坏点坐标，能够极大降低存储资源，进而降低坏点校正的成本；坏点校正方法通过对坏点像素本身的光响应特性进行线性校正补偿像素值，而非通过邻域像素的插值补偿，对图像的校正效果更真实自然。校正效果更真实自然。校正效果更真实自然。

【技术实现步骤摘要】
一种图像传感器坏点的存储方法、检测校正方法及装置


[0001]本专利技术涉及图像处理领域，特别涉及一种图像传感器坏点的存储方法、检测校正方法及装置。

技术介绍

[0002]由于半导体制造工艺缺陷和材料差异等原因，图像传感器存在一些坏点像素，这些坏点像素对光的响应与传感器上正常像素存在显著差异，会导致图像局部像素值信息不正确，最终导致图像清晰性和正确性缺失。对于一个具体的图像传感器，坏点的位置是固定的，从对光的响应角度可以将坏点分为两类，一类是无法感光的坏点，另一类是感光特性与正常像素相差较大的坏点。对于大面阵图像传感器，受制造工艺及存储、运输、使用的影响，传感器表面有概率出现大面积的坏点区域，这些区域的像素能够感光，但是感光特性与正常区域的像素不一致，导致该区域图像的像素值异常。现有技术已经能够对零散分布的无法感光的坏点进行校正，但是对于大面积的感光坏点区域，现有技术尚不能有效地进行校正。
[0003]坏点检测校正中涉及的关键技术包括：坏点的检测、坏点位置信息的存储、坏点像素值的补偿。由于实际拍摄物体场景存在复杂性，一般在离线情况下使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像传感器坏点位置信息存储方法，其特征在于，包括：获取图像传感器上所有位置的像素点是否为坏点的信息，选取基准像素点，所述基准像素点的列坐标为K的整数倍，所述K为预设的整数；所述基准像素点的左侧或右侧的第K个像素点内包含有坏点；使用掩码映射基准像素点左侧或右侧的像素点是否为坏点的信息，包括：掩码中K位整数的第i位表示基准像素点左侧或右侧的第i个像素点，并约定：掩码中K位整数的第i位为1表示基准像素点向左或向右数的第i个像素点为坏点，或掩码中K位整数的第i位为0表示基准像素点向左或向右数的第i个像素点为坏点；使用基准坐标和掩码将图像传感器上所有的坏点都表示出来，存储所述基准像素点坐标和对应的掩码，用于记录坏点位置信息。2.一种图像传感器坏点的检测校正方法，其特征在于，包括：图像传感器在均匀光源照射下获取图像；在所述图像上的每个像素点周围提取设定的邻域，根据所述像素点的像素值与对应邻域内像素均值之间的相对误差，判断所述像素点是否为坏点；使用如权利要求1所述的图像传感器坏点位置信息存储方法，存储图像传感器上所有的坏点位置信息；图像传感器在不同曝光时间下，获取不同颜色的均匀光源照射下的图像，在坏点区域以外的邻域内为每一个坏点选取一个参考像素点；对每一个坏点的像素值和对应的参考点的像素值进行线性拟合，得到每一个坏点的像素值和对应的参考点的像素值之间的映射关系；根据所述映射关系校正所述图像传感器上坏点的像素值。3.根据权利要求2所述的图像传感器坏点的检测校正方法，其特征在于，所述在所述图像上的每个像素点周围提取设定的邻域，根据所述像素点的像素值与对应邻域内像素均值之间的相对误差，判断所述像素点是否为坏点，包括：在所述图像上的每个像素点周围提取设定的邻域R，通过下式计算邻域R内像素均值：；上式中，Ave是邻域R内像素均值，row是像素点的行坐标，col是像素点的列坐标，Grey是像素点的像素值，N是邻域R内的像素点的个数；所述像素点的像素值与对应邻域内像素均值之间的相对差值，通过下式计算：；上式中，Err是任一像素点的像素值与对应邻域内像素均值之间的相对误差；比较所述相对误差与设定的相对误差阈值的大小，若所述相对误差超过所述相对误差阈值，则判断对应像素点为坏点；若所述相对误差不超过所述相对误差阈值，则判断对应像素点为正常像素点。4.根据权利要求3所述的图像传感器坏点的检测校正方法，其特征在于，所述任一像素点的像素值与对应邻域内像素均值之间的相对误差Err为：
设图像尺寸为W
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【专利技术属性】
技术研发人员：袁建辉，邵云峰，曹桂平，董宁，
申请(专利权)人：合肥埃科光电科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：