测试设计的方法、电子设备及存储介质技术

本申请提供一种测试设计的方法、电子设备及存储介质。该方法包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；根据给定保存密度保存所述多个标记信息用于回溯所述测试；以及基于所述多个标记信息回溯所述测试，其中，根据给定保存密度保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
测试设计的方法、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及计算机软件
，尤其涉及一种测试设计的方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在进行逻辑系统设计(例如，芯片设计)的测试时，通常随着时间的推移对逻辑系统设计施加不同的激励信号，并且观察逻辑系统设计的输出信号在时间上的变化(例如，波形)。通过输出信号的变化可以发现设计的问题，并对设计进行修改。
[0003]为了更好地实现设计的调试，工程师通常需要反复地将测试还原到特定的时间点，来观察该时间点的输入信号以及输出信号，从而进行设计的调试。这就意味着，设计的测试需要能够快速地在工程师指定的时间点还原测试，包括在该时间点的输入信号、输出信号以及设计内部的多个信号的值。
[0004]为了快速复原测试，传统做法是在不同的时间点大量保存设计的测试的信息作为测试还原信息(在本申请中也称为标记信息)。这样，根据工程师选择的时间点载入对应的测试还原信息并且根据测试还原信息来运行设计的测试可以快速还原指定时间点的测试。
[0005]但是，随着芯片设计规模的增大，测试过程中产生的数据也越发庞大。因此，传统做法会大量侵占计算系统的存储资源和计算资源。
[0006]如何在保持还原测试的速度的前提下，尽可能降低对计算系统的各种资源的占用是一个亟待解决的问题。

技术实现思路

[0007]有鉴于此，本申请的目的在于提出一种测试设计的方法、电子设备及存储介质用以解决或部分解决上述技术问题。
[0008]本申请的第一方面，提供了一种测试设计的方法，包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；根据给定保存密度保存所述多个标记信息用于回溯所述测试；以及基于所述多个标记信息回溯所述测试，其中，根据给定保存密度保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。
[0009]本申请的第二方面，提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储一组指令；以及至少一个处理器，配置为执行该组指令以进行第一方面所述的方法。
[0010]本申请的第三方面，提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储电子装置的一组指令，该组指令用于使所述电子装置执行第一方面所述的方法。
[0011]本申请实施例提供的测试设计的方法、电子设备及存储介质，在设计执行测试过
程中，会将用户关注的目标测试段内的多个标记信息按照存储密度较高的第一保存密度进行保存，将不是用户关注的多个非目标测试段内的多个标记信息按照密度较低的第二保存密度进行保存，这样由于用户关注的目标测试段保存的标记信息数量较多，使得用户能够基于这些标记信息更加精确的进行回溯测试，进而准确快速地找出故障位置进行修改，提高测试效率。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本申请或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本申请实施例所提供的示例性电子设备的结构示意图。
[0014]图2为本申请实施例的示例性仿真工具的示意图。
[0015]图3A为本申请实施例的设计在测试过程中保存标记信息的时间逻辑示意图。
[0016]图3B为本申请实施例的存储标记信息的过程的示意图。
[0017]图3C为本申请实施例的存储标记信息的又一过程的示意图。
[0018]图3D为本申请实施例的回溯测试设计的示意图；
[0019]图4示出了本申请实施例所提供的一种测试设计的示例性方法的流程示意图。
具体实施方式
[0020]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本申请进一步详细说明。
[0021]需要说明的是，除非另外定义，本申请实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本申请所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。
[0022]测试设计可以是在运行仿真工具的电子设备上对设计进行运行测试。在一些实施例中，设计在测试过程中可以包括一个或多个测试段。这些测试段可以按时间划分也可以按设计的代码段划分。该设计(例如，芯片设计)，可以由软件编程语言(例如，java、JavaScript、C语言、C++语言、或PHP(Hypertext Preprocessor))编写，也可以由硬件编程语言(例如Verilog、VHDL、System C、或System Verilog)编写。
[0023]在对设计进行测试过程中，工程师通常会在出现故障的时刻分析错误发生的现象和原因(cause and effect analysis)。
[0024]对于一些潜在问题导致的故障(malfunctions caused by latent fault)，在出现故障的时刻点无法找到问题原由。利用时间回溯测试让测试返回至该时刻的上一个时刻点，这样工程师就可以在上一个时刻点分析查找问题原由，进而有效地进行故障溯源并解
决该故障。理论上时间回溯测试可以返回至测试的任意时刻点进行回溯测试。
[0025]常用的应用场景包括：(1)工程师针对潜在问题进行回溯；(2)工程师测试过程中错过关键测试点，想要回到该关键测试点对应的时刻点进行测试。
[0026]在对设计进行测试的过程中，例如可以先从设计的零时刻开始测试，将整个设计的测试过程被划分为多个单位时间段。当测试进行至对应单位时间段的中间时刻点时，记录该中间时刻点对应的信息，以供工程师能够根据记录的该中间时刻点快速返回到工程师指定的测试位置。但是由于设计(例如，DUT(Device Under Test，待测设备))规模较大，如果在每一个时刻点都进行记录保存，会占用较大的存储空间，浪费存储资源。
[0027]一般情况，进行回溯测试(reverse debug)的思路是加大存储信号时间间隔点，而非存储所有时间点的信息。例如，对于用户选择的一个回测的时间点A，查找与时间点A对应的间隔点B，该间隔点B的时间早于时间点A。这样，通过让仿真工具从间隔点B开始仿真到时间点A来获取时间点A处的仿真数据。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试设计的方法，包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；根据给定保存密度保存所述多个标记信息用于回溯所述测试；以及基于所述多个标记信息回溯所述测试，其中，根据给定保存密度保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述目标测试段包括一个兴趣点，所述兴趣点包括用户设置的观察点或测试报错点。3.根据权利要求2所述的方法，其中，保存所述多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试到达所述兴趣点，确定到达所述兴趣点的时间点；确定包含所述时间点的测试段为所述目标测试段；按照所述第一保存密度抓取所述时间点到所述目标测试段的结束之间多个标记信息保存；重新测试所述设计以按照所述第一保存密度抓取所述目标测试段的开始到所述时间点之间多个标记信息保存。4.根据权利要求2所述的方法，其中，保存所述多个标记信息用于回溯所述测试还包括：按照所述第一保存密度抓取并保存一个测试段中的多个标记信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄世杰，黄武，
申请(专利权)人：芯华章科技厦门有限公司，
类型：发明
国别省市：