测试设计的方法、电子设备及存储介质技术

本申请提供一种测试设计的方法、电子设备及存储介质。该方法包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；根据给定保存密度保存所述多个标记信息用于回溯所述测试；以及基于所述多个标记信息回溯所述测试，其中，根据给定保存密度保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
测试设计的方法、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及计算机软件
，尤其涉及一种测试设计的方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在进行逻辑系统设计(例如，芯片设计)的测试时，通常随着时间的推移对逻辑系统设计施加不同的激励信号，并且观察逻辑系统设计的输出信号在时间上的变化(例如，波形)。通过输出信号的变化可以发现设计的问题，并对设计进行修改。
[0003]为了更好地实现设计的调试，工程师通常需要反复地将测试还原到特定的时间点，来观察该时间点的输入信号以及输出信号，从而进行设计的调试。这就意味着，设计的测试需要能够快速地在工程师指定的时间点还原测试，包括在该时间点的输入信号、输出信号以及设计内部的多个信号的值。
[0004]为了快速复原测试，传统做法是在不同的时间点大量保存设计的测试的信息作为测试还原信息(在本申请中也称为标记信息)。这样，根据工程师选择的时间点载入对应的测试还原信息并且根据测试还原信息来运行设计的测试可以快速还原指定时间点的测试。
[0005]但是，随着芯片设计规模的增大，测试过程中产本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试设计的方法，包括：执行所述设计的测试，所述测试包括多个测试段，所述多个测试段包括一个目标测试段和多个非目标测试段；在所述测试过程中获取多个标记信息；根据给定保存密度保存所述多个标记信息用于回溯所述测试；以及基于所述多个标记信息回溯所述测试，其中，根据给定保存密度保存多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试进行至目标测试段，按照第一保存密度将所述目标测试段内的多个标记信息保存；以及按照所述第二保存密度将所述多个非目标测试段内的多个标记信息保存，所述第一保存密度高于所述第二保存密度。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述目标测试段包括一个兴趣点，所述兴趣点包括用户设置的观察点或测试报错点。3.根据权利要求2所述的方法，其中，保存所述多个标记信息用于回溯所述测试进一步包括：响应于所述测试到达所述兴趣点，确定到达所述兴趣点的时间点；确定包含所述时间点的测试段为所述目标测试段；按照所述第一保存密度抓取所述时间点到所述目标测试段的结束之间多个标记信息保存；重新测试所述设计以按照所述第一保存密度抓取所述目标测试段的开始到所述时间点之间多个标记信息保存。4.根据权利要求2所述的方法，其中，保存所述多个标记信息用于回溯所述测试还包括：按照所述第一保存密度抓取并保存一个测试段中的多个标记信息...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄世杰，黄武，
申请(专利权)人：芯华章科技厦门有限公司，
类型：发明
国别省市：