检测ＤＮＡ碱基突变的方法技术

本发明专利技术公开了一种检测ＤＮＡ中碱基突变的方法。本发明专利技术提供的检测ＤＮＡ中碱基突变的方法为：首先，合成式（Ｉ）的化合物；然后通过式（Ｉ）的化合物与单链寡聚核苷酸通过静电相互作用形成复合物后和标记的染料发生能量转移以及ＤＮＡ的构象变化来检测ＤＮＡ中的碱基突变。本发明专利技术提供的方法克服了现有的检测ＤＮＡ中碱基突变的方法步骤繁琐、成本较高、灵敏度低和选择性低等缺点，具有简单、经济、灵敏度高且可靠的优点。式（Ｉ）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种检测ＤＮＡ中是否存在碱基突变的方法，依次包括以下步骤：１）制备单链多核苷酸Ｋ１，所述Ｋ１与待测ＤＮＡ的正常序列完全互补；２）制备单链多核苷酸Ｋ２，所述Ｋ２的中间部分具有脱氧核酶活性，Ｋ２与Ｋ１至少有１５ｎｔ完全互补，而且包含有至少１０ｎｔ的脱氧核酶序列，Ｋ２与Ｋ１头尾至少各有６ｎｔ不互补；３）制备脱氧核酶底物Ｓ，用荧光素标记Ｓ；底物Ｓ的ＤＮＡ部分与Ｋ２完全互补，底物Ｓ中间有包含两个特异的ＲＮＡ碱基的酶切位点；４）将Ｋ１和Ｋ２混合，然后加入底物Ｓ，加入待测ＤＮＡ和下述式（Ⅰ）的化合物，同时设置加入由待测ＤＮＡ的正常序列组成的ＤＮＡ片段和下述式（Ⅰ）的化合物的对照体系，按照如下方法确定待测ＤＮＡ是否存在突变：若待测ＤＮＡ反应体系的Ⅰ↓［４２４ｎｍ］／Ⅰ↓［５２７ｎｍ］小于等于对照体系的１．５９５±０．０６，待测ＤＮＡ存在碱基突变；若待测ＤＮＡ反应体系的Ⅰ↓［４２４ｎｍ］／Ⅰ↓［５２７ｎｍ］等于对照体系的３．０８±０．１，待测ＤＮＡ不存在碱基突变；所述Ⅰ↓［４２４ｎｍ］为发射波长为４２４ｎｍ的发射峰的荧光强度；所述Ⅰ↓［５２７ｎｍ］为发射波长为５２７ｎｍ的发射峰的荧光强度。＊＊＊式（Ⅰ）；　　式（Ⅰ）中，ｍ＝１～１０，ｎ＝２～１００；Ｒ↓［１］，Ｒ↓［２］，Ｒ↓［３］，Ｒ↓［４］＝Ｃ↓［Ｘ］Ｈ↓［２Ｘ＋１］或－Ｏ（Ｃ↓［Ｘ］Ｈ↓［２Ｘ＋１］），ｘ＝１～１０；Ｒ↓［５］＝Ｃ↓［Ｘ］Ｈ↓［２Ｘ＋１］，ｘ＝１～３；Ｒ↓［６］＝Ｂｒ、Ｃｌ、Ｉ、ＣＦ↓［３］ＣＯＯ或ＣＨ↓［３］ＣＯＯ。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王树，贺芳，
申请(专利权)人：中国科学院化学研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]