一种更换板卡的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种更换板卡的方法和装置，该方法采集待测板卡的设备状态参数，得到设备状态参数的特征值，设备状态参数用于表示待测板卡的使用状态；将特征值输入至预设深度学习模型中，预设深度学习模型用于根据特征值输出待测板卡的剩余使用寿命，预设深度学习模型用于表示待测板卡的参数与剩余使用寿命的关系；当预设深度学习模型输出的剩余使用寿命满足更换板卡的条件时，提示更换待测板卡。本发明专利技术可以实时检测待测板卡的设备状态参数，并实时计算出待测板卡的剩余使用寿命，能够在剩余使用寿命满足更换板卡的条件时，提示更换板卡，能够在出现故障前更换板卡避免数据丢失，还能够避免过早更换板卡造成资源的浪费。够避免过早更换板卡造成资源的浪费。够避免过早更换板卡造成资源的浪费。

【技术实现步骤摘要】
一种更换板卡的方法和装置


[0001]本专利技术涉及计算机领域，具体而言，涉及一种更换板卡的方法和装置。

技术介绍

[0002]现有技术中，为了保证业务正常进行，一般是对计算板块做冗余设计，在某一计算板块发生故障后，另一个计算板卡才启动工作。该技术属于被动式，只有在故障后才能进行数据迁移，容易在故障的瞬间出现数据丢失的情况，会影响业务运行。另外现有技术中，只是机械化的规定了设备（计算板卡）的更换时间，对还能继续使用的板卡也定期更换，无法充分利用计算板卡，造成了成本浪费。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种更换板卡的方法和装置，以解决现有技术中板卡更换不及时的问题。
[0004]为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种更换板卡的方法，包括：采集待测板卡的设备状态参数，得到所述设备状态参数的特征值，所述设备状态参数用于表示所述待测板卡的使用状态；将所述特征值输入至预设深度学习模型中，所述预设深度学习模型用于根据所述特征值输出所述待测板卡的剩余使用寿命，所述预设深度学习模型用于表示所述待测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种更换板卡的方法，其特征在于，包括：采集待测板卡的设备状态参数，得到所述设备状态参数的特征值，所述设备状态参数用于表示所述待测板卡的使用状态；将所述特征值输入至预设深度学习模型中，所述预设深度学习模型用于根据所述特征值输出所述待测板卡的剩余使用寿命，所述预设深度学习模型用于表示所述待测板卡的参数与剩余使用寿命的关系；当所述预设深度学习模型输出的剩余使用寿命满足更换板卡的条件时，提示更换所述待测板卡。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集待测板卡的设备状态参数，得到所述设备状态参数的特征值包括：剔除所述设备状态参数中的离群值；对剔除所述离群值之后的数据进行归一化处理；对所述归一化处理后的数据进行小波变换，得到所述设备状态参数的特征值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在提示更换所述待测板卡之前，所述方法包括：对所述预设深度学习模型输出的至少两个输出结果对所述预设深度学习模型进行验证；当验证结果指示所述预设深度学习模型输出的结果准确性满足预设指标时，继续判断所述预设深度学习模型输出的结果是否提示更换所述待测板卡。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提示更换所述待测板卡包括：判断所述预设深度学习模型输出的结果是否指示所述待测板卡的剩余使用寿命小于第一目标值，其中，所述第一目标值用于判断所述待测板卡是否需要迁移；在所述预设深度学习模型输出的结果指示所述待测板卡的剩余使用寿命小于第一目标值时，提示迁移所述待测板卡；在所述预设深度学习模型输出的结果指示所述待测板卡的剩余使用寿命大于所述第一目标值时，继续验证所述预设深度学习模型输出结果的准确性。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述预设深度学习模型输出的结果指示所述待测板卡的剩余使用寿命小于第一目标值时，提示迁移所述待测板卡包括：判断所述预设深度学习模型输出的结果指示所述待测板卡的剩余使用寿命是否小于第二目标值，所述第二目标值小于所述第一目标值；在所述待测板卡的剩余使用寿命小于所述第二目标值，自动迁移所述待测板卡的数据；在所述待测板卡的剩余使用寿命小于所述第一目标值，且大于所述第二目标值时，提示人工迁移所述待测板卡的数据。6.一种更换板卡的装置，其特征在于，包括：采集单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴正中，张辉，唐才荣，汪永刚，张云飞，王晓东，邓能文，武涛，
申请(专利权)人：北京城建智控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：