一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种内存条测试装置，尤其为一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，包括测试仪，所述测试仪上安装有用于插装测试内存条的DIMM插槽，所述测试仪内设有测试电路板，所述测试仪上还设有与所述测试内存条引脚一一对应的指示灯。本实用新型专利技术提供的利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，本发明专利技术是根据JEDEC标准对于内存模组的定义为原理基础，区分DQ、VDD、SPD、ACB。根据不同引脚与VSS的关系，利用3v独立供电，对电压进行降压，根据引脚的定义做成单独的回路，并在回路中串联二极管以用于直观的观察对应回路的良好程度,根据引脚布局图快速定位到损坏颗粒，从而大大减少测试人员的检测时间。也能更准确的判定故障点。能更准确的判定故障点。能更准确的判定故障点。

【技术实现步骤摘要】
一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置


[0001]本技术涉及一种内存条测试装置，尤其是一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置。

技术介绍

[0002]内存条是主板上必不可少的硬件之一，每一片主板上最少要插入一根内存条，才能正常启动运行。每一种主板根据设计需求，满配时内存条的数量都不同，服务器主板上的内存条数量比较多，满配时可能有十几根，甚至几十根；所有插入主板的内存条都要检测正常，才能正常启动，而且主板检测内存条的工作，会在主板启动的早期，优先其他设备的检测，因为有了大量的内存资源，主板才能更加快速高效的进行其他操作。
[0003]主板上电启动后，进行最必要的初始化后，就开始检测内存条是否正常，如果所有插入内存条插槽上的内存条都是正常的，然后再检查其他设备，例如显示控制器等。在检测内存条过程中，如果检测出没有内存条、有内存条损坏或者有内存条类型不被主板支持等错误，BIOS将停止运行，此时显示控制器还没有被检测，因此显示器不会被点亮。用户所能看到的是主板已经上电，风扇旋转，但是显示器不亮，鼠标键盘无法使用，没有故障点线索，这给用户带来了比较大的麻烦，需要逐一排查问题点，即使排查到内存条的问题，几十根内存条，逐条排查，整个过程需要耗费大量时间，甚至需要设备厂商的技术支持才行。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是通过提出一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，以解决上述
技术介绍
中提出的缺陷。
[0005]本技术采用的技术方案如下：
[0006]提供一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，包括测试仪，所述测试仪上安装有用于插装测试内存条的DIMM插槽，所述测试仪内设有测试电路板，所述测试仪上还设有与所述测试内存条引脚一一对应的指示灯。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案：所述指示灯为发光二极管，所述发光二极管的正极与DIMM插槽上的各个引脚铜片电性连接。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案：各个所述发光二极管分为四组，每组发光二极管并联后连接一个降压二极管。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案：各个所述降压二极管并联后连接3V供电电源。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案：所述发光二极管、DIMM插槽、发光二极管均导联在所述测试电路板上形成回路，所述回路通过开关控制通断。
[0011]本技术提供的利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，本专利技术是根据JEDEC标准对于内存模组的定义为原理基础，区分DQ、VDD、SPD、ACB。根据不同引脚与VSS的关系，利用3v独立供电，对电压进行降压，根据引脚的定义做成单独的回路，并在回路
中串联二极管以用于直观的观察对应回路的良好程度,根据引脚布局图快速定位到损坏颗粒，从而大大减少测试人员的检测时间。也能更准确的判定故障点。
附图说明
[0012]图1为本技术优选实施例的整体结构示意图；
[0013]图2为本技术优选实施例中的电路连接示意图。
[0014]图中各个标记的意义为：1、测试仪；2、DIMM插槽；3、指示灯；4、开关；5、电源。
具体实施方式
[0015]需要说明的是，在不冲突的情况下，本实施例中的实施例及实施例中的特征可以相互组合，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0016]参照图1
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2，本技术优选实施例提供了一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，包括测试仪1，测试仪1上安装有用于插装测试内存条的DIMM插槽2，测试仪1内设有测试电路板，测试仪1上还设有与测试内存条引脚一一对应的指示灯3。
[0017]指示灯3为发光二极管，发光二极管的正极与DIMM插槽2上的各个引脚铜片电性连接。各个发光二极管分为四组，每组发光二极管并联后连接一个降压二极管。各个降压二极管并联后连接3V供电电源。发光二极管、DIMM插槽2、发光二极管均导联在测试电路板上形成回路，回路通过开关4控制通断。将DIMM插槽2放置多个发光二极管作为指示灯3，用以表示DIMM插槽2上内存条的状态，所有发光二极管负极分别接入四个降压二极管，每个发光二极管的正极都连接到DIMM插槽上面，n个发光二极管对应n个针脚，测试电源5供3V电，通过指示灯3状态快速读取异常信息，及时对异常内存条进行处理。
[0018]在具体使用过程中，将测试内存条插在DIMM插槽2上，然后打开开关4测试电源供3V电，根据各个指示灯3的状态即可观察内存条各个引脚的好坏。
[0019]对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0020]此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，包括测试仪(1)，其特征在于：所述测试仪(1)上安装有用于插装测试内存条的DIMM插槽(2)，所述测试仪(1)内设有测试电路板，所述测试仪(1)上还设有与所述测试内存条引脚一一对应的指示灯(3)。2.根据权利要求1所述的利用内存条引脚特性快速判断内存条故障点的装置，其特征在于：所述指示灯(3)为发光二极管，所述发光二极管的正极与DIMM插槽(2)上的各个引脚铜片电性连接。3.根据权利要求2所述的利...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭京京，
申请(专利权)人：涿州同芯电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：