一种检测模块框架及检测模块检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种检测模块框架，包括：支承组件；设置于支承组件上的承载组件，所述承载组件在支承组件的支撑下对模块进行承载；所述支承组件包括底座和支承件，所述底座包括座体与支承块，所述支承块上形成有容置所述支承件的容置腔体，所述支承块包括有锁紧或松开所述支承件于容置腔体内的调节部，所述容置腔体贯穿座体设置，所述容置腔体用于容置支承件在其内进行高度调节。本实用新型专利技术提供的检测模块框架由承载组件和支承组件组成，承载组件上的承载杆体或承载板体可适配安装不同的检测模块，适用范围广，支承件可贯穿在底座内进行高度的位置调节，便于调试，承载组件使用效果好。效果好。效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种检测模块框架及检测模块检测设备


[0001]本技术涉及模块检测框架
更具体地，涉及一种检测模块框架及检测模块检测设备。

技术介绍

[0002]当前，现在的液晶模组与半导体检测流程，已经大规模的自动化，集成化，流程简约化，原本的分散式流程需要整合到一条流程上，批量完成，在这个过程中，就需要很多焊接框架来支撑检测流程的进行，但是现有焊接框架，制作周期长，成本高，占用空间大，组装难度大，支撑不稳定，需要专门设备进行加工，且在后期在模块检测需要对框架进行调试时，调试繁琐，焊接框架的高度等位置不易调节，使得检测流程周期边长。

技术实现思路

[0003]鉴于上述问题，本技术的至少一个目的在于提供一种检测模块框架及检测设备，取代了原有焊接框架高成本设计，检测模块模组装便捷，组装稳定，调试便捷，支撑稳定，可实现框架上模块高度等位置调节，提高了产品的测试及搬运效率。
[0004]为达到上述目的，本技术采用下述技术方案：
[0005]本技术的第一个实施例提供一种检测模块框架，所述模块框架包括：
[0006]支承组件；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测模块框架，其特征在于，所述模块框架包括：支承组件（1）；设置于支承组件（1）上的承载组件（2），所述承载组件（2）在支承组件（1）的支撑下对模块进行承载；所述支承组件（1）包括底座（11）和支承件（12），所述底座（11）包括座体（110）与支承块（111），所述支承块（111）上形成有容置所述支承件（12）的容置腔体（112），所述支承块（111）包括有与座体（110）连接固定的连接部（113）以及用于锁紧或松开所述支承件（12）于容置腔体（112）内的调节部（114），所述调节部（114）远离所述连接部（113）的一侧形成有开口（115），所述开口（115）上设置有调节孔（116）。2.根据权利要求1所述的检测模块框架，其特征在于，所述容置腔体（112）贯穿座体（110）设置， 所述容置腔体（112）用于容置支承件（12）在其内进行高度调节。3.根据权利要求1所述的检测模块框架，其特征在于，所述支承块（111）上还设置有预压紧部（117），所述预压紧部（117）用于辅助对支承件（12）进行预夹持。4.根据权利要求1所述的检测模块框架，其特征在于，所述支承件（12）为立柱。5.根据权利要求1所述的检测模块框架，其特征在于，所述承载组件（2）包括承载座（21）和承载部（22），...

【专利技术属性】
技术研发人员：王远收，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：