测试方法以及测试系统技术方案

本公开涉及测试方法以及测试系统。一种测试方法包含以下操作：藉由一讯号产生器产生一多频讯号；藉由讯号产生器将多频讯号传输至一待测装置的一输入端；藉由一频谱分析器分别量测待测装置的输入端以及待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及藉由一控制装置依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。对应该些频率点的复数电源抑制比。对应该些频率点的复数电源抑制比。

【技术实现步骤摘要】
测试方法以及测试系统


[0001]本揭示中是有关于一种测试技术。特别关于一种可快速进行测试的测试方法以及测试系统。

技术介绍

[0002]电源抑制比(power supply rejection ratio，PSRR)是用以判断电源电路对输入纹波(ripple)抑制程度的重要参数。
[0003]在一些相关技术中，是利用示波器于时域上进行量测。然而，示波器只能量测到毫伏特等级的电压，因此示波器可量测到的电源抑制比范围有限(例如：40分贝至50分贝)。基于此，若一待测装置的电源抑制比超过此范围(例如：60分贝)，示波器将无法准确量测出此待测装置的电源抑制比。

技术实现思路

[0004]本揭示之一些实施方式是关于一种测试方法。测试方法包含以下操作：藉由一讯号产生器产生一多频讯号；藉由讯号产生器将多频讯号传输至一待测装置的一输入端；藉由一频谱分析器分别量测待测装置的输入端以及待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及藉由一控制装置依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，包含：藉由一讯号产生器产生一多频讯号；藉由该讯号产生器将该多频讯号传输至一待测装置的一输入端；藉由一频谱分析器分别量测该待测装置的该输入端以及该待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及藉由一控制装置依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。2.一种测试系统，包含：一讯号产生器，用以产生一多频讯号且将该多频讯号传输至一待测装置的一输入端；一频谱分析器，耦接该待测装置且用以分别量测该待测装置的该输入端以及该待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及一控制装置，耦接该频谱分析器且用以依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。3.根据权利要求2所述的测试系统，其中该待测装置为一电源芯片。4.根据权利要求2所述的测试系统，更包含：一切换装置，其中该控制装置更用以控制该切换装置以将该频谱分析器耦接至该输入端或该输出端。5.根据权利要求4所述的测试系统，其中该控制装置用以控制该切换装置以将该频谱分析器耦接至该输入端，且该频谱分析器量测该输入端以得到对应该些频率点的该些输入纹波强度...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭益男，黄铭崇，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：