应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置制造方法及图纸

一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置，属于计算机技术领域。本申请针对计算芯片建立的性能测试模型中，包括计算芯片中的每个数据访问通路的性能测试线。在对应用进行测试时，根据应用的运行状况数据和计算芯片的每个数据访问通路的内存访问量，确定应用的运行性能信息，将应用的运行性能信息，与包含每个数据访问通路的性能测试线的性能测试模型进行比对，可以获取精度更高的测试结果，提高测试准确度和测试精度。提高测试准确度和测试精度。提高测试准确度和测试精度。

【技术实现步骤摘要】
应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置


[0001]本申请涉及计算机
，尤其涉及一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置。

技术介绍

[0002]目前，各类应用的使用越来越广泛，可以用于解决各行各业的实际问题。在实际使用过程中，对一些应用的性能(如数据处理速度、时延等)的要求较高。例如，在人工智能
，对包含神经网络模型的应用的数据处理速度等有非常严格的要求。因此，为了使应用具有更好的性能，需要对应用的性能进行测试，并依据测试结果对应用程序进行优化。
[0003]由于应用需要运行在计算芯片来进行数据处理，应用的性能实际上是指应用在计算芯片上运行时的性能，因此，往往需要结合计算芯片对应用的性能进行测试。
[0004]随着计算芯片的结构越来越复杂，目前的应用的性能测试方法，针对结构复杂的计算芯片，无法获得精度和准确度较高的测试结果。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种应用的性能测试方法、建立性能测试模型的方法及装置，可以提高测试准确度和测试精度。
>[0006]第一方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种运行于计算芯片的应用的性能测试方法，所述计算芯片包括多个访问通路，所述访问通路为所述计算芯片所包括的内存单元之间的数据传输通道，其特征在于，所述方法包括：获取所述应用在所述计算芯片上运行时的运行时间、所述计算芯片的计算量、及每条访问通路上的带宽；根据所述运行时间、计算量、及每条访问通路上的带宽，确定所述应用的运行性能信息；根据所述应用的运行性能信息和预设的所述多个访问通路的性能测试基准对所述应用的性能进行测试，并得到性能测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述运行时间、计算量、及每条访问通路上的带宽，确定所述应用的运行性能信息，包括：根据所述计算量和所述运行时间，确定在所述应用的运行过程中，所述计算芯片的运算能力参数；根据所述计算量和每个数据访问通路的带宽，确定每个数据访问通路的操作强度；根据所述运算能力参数和每个数据访问通路的操作强度，生成每个数据访问通路的性能信息；根据每个数据访问通路的性能信息生成所述应用的运行性能信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述应用的运行性能信息还包括至少一个数据通路集合的集合性能信息；每个数据通路集合包括至少一个数据访问通路，其中，同一数据通路集合中的数据访问通路不能同时传输数据；所述根据所述运行时间、计算量、及每条访问通路上的带宽，确定所述应用的运行性能信息，还包括：根据每个数据通路集合中的数据访问通路的带宽总和，以及所述计算量，确定每个数据通路集合的总体操作强度；根据所述运算能力参数和每个数据通路集合的总体操作强度，生成每个数据通路集合的集合性能信息。4.根据权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述应用的运行性能信息和预设的所述多个访问通路的性能测试基准对所述应用的性能进行测试，包括：确定所述应用的运行性能信息与所述多个访问通路的性能测试基准之间的对比结果，将所述对比结果作为所述应用的测试结果。5.根据权利要求1～3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述应用的运行性能信息和预设的所述多个访问通路的性能测试基准对所述应用的性能进行测试，包括：确定所述应用的运行性能信息与每个访问通路的性能测试基准之间的对比结果；根据所述对比结果，确定对所述应用进行优化的分析结果，并将所述分析结果作为所述应用的测试结果。6.根据权利要求1～5中任一项所述的方法，其特征在于，所述多个访问通路的性能测试基准属于性能测试模型，所述性能测试模型是根据所述计算芯片的计算单元的运算能力的峰值和每个数据访问通路的峰值带宽建立的，所述计算单元的运算能力的峰值和每个数据访问通路的峰值带宽是由测试数据对所述计算芯片进行测试确定的。7.一种运行于计算芯片的应用的性能测试装置，所述计算芯片包括多个访问通路，所
述...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏富春，王永忠，吉亚云，欧阳忠清，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：