一种光谱分析方法技术

本发明专利技术实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法，利用寻峰算法锁定谱峰的峰位，作为高斯函数的均值初始值；以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值；在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差，根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值；在均值、系数及方差取值范围内，计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差，所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数；使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。本发明专利技术实施例提高了光谱峰的重现性，为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及元素光谱分析领域，尤其涉及一种X射线荧光光谱分析方法。
技术介绍
荧光分析技术广泛应用于有色、水泥、地质勘探、示踪溯源等行业的元素无损快速分析检测中。其中X射线荧光光谱分析是X射线荧光分析技术的关键，识别谱峰和提取特 征参数是分析被测对象元素及其含量的重要步骤，如果被测对象元素组分复杂，相应的基 体效应就会严重，荧光光谱谱峰会存在拖尾、重叠、散射本底等干扰，使得谱峰失真，影响后 续分析精度。另外，由于统计涨落现象的存在，测量条件不变的情况下，测量同一标样获得 的谱峰的重现性也无法保证，这对低含量、颗粒型样品的测量精度影响较大。因此，现有的X射线荧光光谱分析技术对于元素的定位、定量分析不够准确。
技术实现思路
本专利技术实施例提供，还原干扰前的光谱峰，提高光谱峰的重现 性，为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。本专利技术实施例是通过以下技术方案实现的本专利技术实施例提供，包括利用寻峰算法锁定谱峰的峰位，作为高斯函数的均值初始值；以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值；在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差，根 据误差最本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱分析方法，其特征在于，包括：利用寻峰算法锁定谱峰的峰位，作为高斯函数的均值初始值；以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值；在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差，根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值；在均值、系数及方差取值范围内，计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差，所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数；使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周俊武，徐宁，李杰，赵建军，尚海洋，杨树亮，徐晓东，
申请(专利权)人：北京矿冶研究总院，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]