一种样本分析仪和清洗方法技术

技术编号:37475911 阅读:15 留言:0更新日期:2023-05-07 09:17
本发明专利技术提供了一种样本分析仪和清洗方法,其中,样本分析仪的控制装置,用于按如下方式控制样本分析仪的反应装置、试剂供应装置和采样装置:控制试剂供应装置向反应装置供应试剂;控制反应装置排空试剂供应装置供应的试剂;控制试剂供应装置向反应装置再次供应试剂;控制采样装置向所述反应装置输送样本。能够在反应装置制备样本前,通过试剂供应装置向反应装置供应试剂,以利用试剂供应装置供应的试剂携带走反应装置中的残留液,并且也排出了可能被残留液扩散污染的试剂,从而可以避免反应装置中的残留液影响试样的测量结果,提高了测量结果的准确性。测量结果的准确性。测量结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种样本分析仪和清洗方法


[0001]本专利技术涉及样本处理
,特别涉及一种样本分析仪和清洗方法。

技术介绍

[0002]样本分析仪通常用于制备试样以对试样进行测量。然而,样本分析仪的反应装置在制备样本时,容易受到反应装置中的残留液影响,例如受到残留的清洗液影响,导致试样的测量结果不准确。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种样本分析仪和清洗方法,能够提高试样的测量结果的准确性。具体方案如下:
[0004]根据本专利技术实施例的第一方面,提供一种样本分析仪,包括:
[0005]采样装置、试剂供应装置、反应装置、试样输送装置、测量装置和控制装置;
[0006]所述采样装置,用于采集样本,并将采集到的样本输送到所述反应装置;
[0007]所述试剂供应装置,用于向所述反应装置供应试剂;
[0008]所述反应装置,用于接收所述试剂供应装置供应的试剂以及所述采样装置输送的样本以制备待测试试样;
[0009]所述试样输送装置,用于将所述待测试试样输送到所述测量装置;
[0010]所述测量装置,用于对所述试样输送装置输送的待测试试样进行特定项目的测量,获得所述待测试试样的特定项目的测量结果;
[0011]所述控制装置,用于按如下方式控制所述反应装置、所述试剂供应装置和所述采样装置:
[0012]控制所述试剂供应装置向所述反应装置供应试剂;
[0013]控制所述反应装置排空所述试剂供应装置供应的试剂;r/>[0014]控制所述试剂供应装置向所述反应装置再次供应试剂;
[0015]控制所述采样装置向所述反应装置输送样本。
[0016]上述的样本分析仪,可选的,所述控制装置,用于在控制所述试剂供应装置向所述反应装置供应试剂之前,控制所述反应装置执行排空动作以排出所述反应装置中的液体。
[0017]上述的样本分析仪,可选的,所述试剂供应装置包括第一试剂供应部件和第二试剂供应部件;
[0018]所述控制装置,用于按如下方式控制所述反应装置、所述第一试剂供应部件和所述第二试剂供应部件:
[0019]控制所述第一试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第一液量的第一试剂、控制所述第二试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第二液量的第二试剂;
[0020]控制所述反应装置排空所述第一试剂供应部件供应的第一试剂和所述第二试剂供应部件供应的第二试剂。
[0021]上述的样本分析仪,可选的,所述控制装置,用于在所述反应装置排空所述第一试剂和所述第二试剂后,按如下方式控制所述第一试剂供应部件、所述第二试剂供应部件和所述采样装置:
[0022]控制所述第一试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第三液量的第一试剂、控制所述第二试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第四液量的第二试剂;
[0023]控制所述采样装置向所述反应装置供应样本;
[0024]控制所述第二试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第五液量的第二试剂,以由所述反应装置制备出待测试试样。
[0025]上述的样本分析仪,可选的,所述控制装置,用于在所述反应装置排空所述第一试剂和所述第二试剂后,按如下方式控制所述第一试剂供应部件、所述第二试剂供应部件和所述采样装置:
[0026]控制所述第一试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第三液量的第一试剂、控制所述第二试剂供应部件向所述反应装置供应第六液量的第二试剂;
[0027]控制所述采样装置向所述反应装置供应样本,以由所述反应装置制备出待测试试样。
[0028]上述的样本分析仪,可选的,所述第一试剂至少包括荧光染液;所述第二试剂至少包括溶血剂。
[0029]上述的样本分析仪,可选的,所述试剂供应装置还包括:稀释液供应部件;
[0030]所述稀释液供应部件,用于向所述反应装置供应稀释液;
[0031]所述控制装置,还用于在所述测量装置获得所述待测试试样的测量结果后,对所述反应装置至少执行一次清洗操作,所述清洗操作包括所述稀释液供应部件向所述反应装置供应稀释液,所述反应装置排出所述稀释液供应部件供应的稀释液。
[0032]上述的样本分析仪,可选的,所述控制装置,还用于在完成对所述反应装置的清洗后,控制所述稀释液供应部件向所述反应装置供应稀释液。
[0033]上述的样本分析仪,可选的,所述测量装置,包括光学检测部件;
[0034]所述光学检测部件,用于对所述待测试试样进行测量,获得所述待测试试样的光散射信号和荧光信号,所述光散射信号和荧光信号为所述待测试试样的测量结果。
[0035]上述的样本分析仪,可选的,所述控制装置,还用于对所述待测试试样的光散射信号和荧光信号进行分析,获得所述待测试试样中的血小板分布信息。
[0036]上述的样本分析仪,可选的,所述控制装置,按如下方式控制所述反应装置、所述试剂供应装置和所述采样装置:
[0037]如果所述反应装置满足执行条件,控制所述反应装置排空残留液、控制所述试剂供应装置向所述反应装置供应试剂、控制所述反应装置排空所述试剂供应装置供应的试剂;控制所述试剂供应装置向所述反应装置再次供应试剂,控制所述采样装置向所述反应装置输送样本。
[0038]根据本专利技术实施例的第二方面,提供一种清洗方法,其特征在于,应用于样本分析仪,所述方法包括:
[0039]在所述样本分析仪的反应装置制备待测试试样之前,控制所述样本分析仪的试剂供应装置向所述反应装置供应试剂,并控制所述反应装置排空所述试剂供应装置当前供应
的试剂,以完成对所述反应装置的清洗。
[0040]与现有技术相比,本专利技术包括以下优点:
[0041]本专利技术提供了一种样本分析仪和清洗方法,其中,样本分析仪的控制装置,用于按如下方式控制样本分析仪的反应装置、试剂供应装置和采样装置:控制试剂供应装置向反应装置供应试剂;控制反应装置排空试剂供应装置供应的试剂;控制试剂供应装置向反应装置再次供应试剂;控制采样装置向所述反应装置输送样本,通过上述方式控制,在反应装置制备样本前,可以利用试剂供应装置供应的试剂携带走反应装置中的残留液,并且也排出了可能被残留液扩散污染的试剂,从而可以避免反应装置中的残留液和试剂影响待测试试样的测量结果,提高了测量结果的准确性。
附图说明
[0042]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0043]图1为本专利技术实施例提供的一种样本分析仪的结构示意图;
[0044]图2为本专利技术实施例提供的又一种样本分析的结构示意图;
[0045]图3为本专利技术实施例提供的一种试样输送装置的结构示例图;
[0046]图4为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种样本分析仪,其特征在于,包括:采样装置、试剂供应装置、反应装置、试样输送装置、测量装置和控制装置;所述采样装置,用于采集样本,并将采集到的样本输送到所述反应装置;所述试剂供应装置,用于向所述反应装置供应试剂;所述反应装置,用于接收所述试剂供应装置供应的试剂以及所述采样装置输送的样本以制备待测试试样;所述试样输送装置,用于将所述待测试试样输送到所述测量装置;所述测量装置,用于对所述试样输送装置输送的待测试试样进行特定项目的测量,获得所述待测试试样的特定项目的测量结果;所述控制装置,用于按如下方式控制所述反应装置、所述试剂供应装置和所述采样装置:控制所述试剂供应装置向所述反应装置供应试剂;控制所述反应装置排空所述试剂供应装置供应的试剂;控制所述试剂供应装置向所述反应装置再次供应试剂;控制所述采样装置向所述反应装置输送样本。2.根据权利要求1所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置,用于在控制所述试剂供应装置向所述反应装置供应试剂之前,控制所述反应装置执行排空动作以排出所述反应装置中的液体。3.根据权利要求1所述的样本分析仪,其特征在于,所述试剂供应装置包括第一试剂供应部件和第二试剂供应部件;所述控制装置,用于按如下方式控制所述反应装置、所述第一试剂供应部件和所述第二试剂供应部件:控制所述第一试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第一液量的第一试剂、控制所述第二试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第二液量的第二试剂;控制所述反应装置排空所述第一试剂供应部件供应的第一试剂和所述第二试剂供应部件供应的第二试剂。4.根据权利要求3所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置,用于在所述反应装置排空所述第一试剂和所述第二试剂后,按如下方式控制所述第一试剂供应部件、所述第二试剂供应部件和所述采样装置:控制所述第一试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第三液量的第一试剂、控制所述第二试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第四液量的第二试剂;控制所述采样装置向所述反应装置供应样本;控制所述第二试剂供应部件向所述反应装置供应预设的第五液量的第二试剂,以由所述反应装置制备出待测试试样。5.根据权利要求3所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置,用于在所述反应装置排空所述第一试剂和所述第二试剂后,按如下方式...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱春阳石汇林
申请(专利权)人:深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1