一种快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，该检测方法包括：将聚合物分散型液晶膜裁剪成长方形样品膜；在样品膜的两短边设置电极；沿样品膜的短边开始卷起，将样品膜卷成圆筒状放置于圆形检测桶内；常温下放置12小时以上，取出样品膜平铺，并测量电极处的开胶长度和宽度。使用本发明专利技术的检测方法时，将聚合物分散型液晶膜裁剪成长方形样品膜，然后将样品膜沿短边电极卷成圆筒状放入检测桶内，常温下放置12小时以上，取出该样品膜平铺，并测量电极处的开胶长度和宽度，记录开胶处的长度和宽度。本发明专利技术利用膜卷曲时的展曲张力，能在较短时间内使聚合物分散型液晶膜的液晶层与导电层之间粘接力发生改变，实现快速检测。快速检测。快速检测。

【技术实现步骤摘要】
一种快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法


[0001]本专利技术涉及液晶膜开胶检测方法，更具体地说，涉及一种快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法。

技术介绍

[0002]美国专利US4671618公开了一种相分离型聚合物分散型液晶的制作方法，用此方法可以制成聚合物分散型液晶膜、PALC膜，统称为PDLC膜。PDLC膜包括液晶
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塑胶芯层和两个透明导电薄膜表层，两个透明导电薄膜表层设置液晶
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塑胶芯层的两侧。使用PDLC膜可制成调光玻璃、魔幻玻璃、电致液晶雾化玻璃、Smart Glass等等一系列衍生产品，PDLC膜及其衍生产品是一种新型的材料，此类产品可通过控制施加电压的通、断来调节入射的光线在透射和散射之间变化，从而控制该产品在透明状态和雾化状态(磨砂玻璃态)之间变化，具有通透和隐蔽的双层功能，有越来越广泛的应用。PDLC膜及其衍生产品在长期的使用和运输过程中，其PDLC膜层的液晶
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塑胶芯层与透明导电膜层之间会出现开胶现象，在边部出现长条状或点状开胶，宽度在2mm左右；一面为白色，另一面呈现反光；通电情况下为半透明态甚至雾化态；在长期的使用和储运过程，会进一步向内部扩展。此种缺陷严重影响产品的使用寿命和外观，此种开胶目前有一定不可避免性。
[0003]中国专利201010136040公开了一聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，采用湿热老化方式加速聚合物分散型液晶膜性能的改变，加速胶层的老化和湿气的渗透，然后按照规定的条件检查聚合物分散型液晶膜的开胶现象，判断该聚合物分散型液晶膜在湿热环境中的耐候性。该方法采用稳态湿热箱，将聚合物分散型液晶膜样品或其衍生品置于稳态湿热箱中进行老化处理；老化处理完毕后取出所述聚合物分散型液晶膜样品，人工测量聚合物分散型液晶膜样品边缘的开胶长度尺寸和宽度尺寸；老化处理的时间是45－50小时，老化处理的温度是55℃－65℃，老化处理的湿度是90％－99％。该方法可以部分检测出聚合物分散型液晶膜的开胶问题，但是不能完全检出开胶问题，而且时间比较久，实验过程中还需要做液晶贴膜、调光玻璃样品同步做对比测试，比较繁琐，条件比较苛刻。因此不适宜做聚合物分散型液晶膜开胶的检测。
[0004]随着聚合物分散型液晶膜及其衍生产品调光玻璃等的深入开发、广泛应用，厂家及其用户对其开胶的严重性越来越重视，因此，需要一种能快速检测聚合物分散型液晶膜开胶性能的方法，以便于厂家在做配方设计时提前验证配方的开胶问题，改进配方，确保投入使用的配方无开胶问题，生产的产品在后续加工中无开胶风险，提高产品的成品率，降低成本和企业产品风险。

技术实现思路

[0005]本专利技术针对现有技术的上述缺陷，提供一种快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法。
[0006]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种快速检验聚合物分散型液
晶膜开胶性能的检测方法，该检测方法包括：
[0007]将聚合物分散型液晶膜裁剪成长方形样品膜；
[0008]在该样品膜的两短边设置电极；
[0009]沿该样品膜的短边开始卷起，将该样品膜卷成圆筒状放置于圆形检测桶内；
[0010]常温下放置12小时以上，取出该样品膜平铺，并测量电极处的开胶长度和宽度。
[0011]在本专利技术所述的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法中，该样品膜的宽度为50mm
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2000mm，所述样品膜的长度为50mm
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3000mm。
[0012]在本专利技术所述的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法中，该检测桶的直径为30
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150mm，该检测桶的深度大于该样品膜的宽度。
[0013]在本专利技术所述的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法中，该检测桶为PVC材料制成的检测桶，或该检测桶为纸质材料制成的检测桶，或该检测桶为金属材料制成的检测桶，或该检测桶为塑料材料制成的检测桶。
[0014]在本专利技术所述的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法中，该检测桶的壁厚大于或等于0.1mm。
[0015]在本专利技术所述的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法中，该电极的宽度为3
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20mm。
[0016]实施本专利技术的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，具有以下有益效果：使用本专利技术的检测方法时，将聚合物分散型液晶膜裁剪成长方形样品膜，然后将样品膜沿短边电极卷成圆筒状放入检测桶内，常温下放置12小时以上，取出该样品膜平铺，并测量电极处的开胶长度和宽度，记录开胶处的长度和宽度，实现对聚合物分散型液晶膜开胶的快速检测。本专利技术采用人工卷曲放置方式，利用膜卷曲时的展曲张力，能在较短时间内使聚合物分散型液晶膜的液晶层与导电层之间粘接力发生改变，实现快速检测。
附图说明
[0017]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0018]图1是本专利技术快速检验聚合物分散型液晶膜中样品膜的结构示意图；
[0019]图2是本专利技术快速检验聚合物分散型液晶膜中样品膜及检测桶的结构示意图。
具体实施方式
[0020]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。
[0021]如图1
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2所示，在本专利技术的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法第一实施例中，该检测方法包括：
[0022]步骤S101:将聚合物分散型液晶膜裁剪成长方形样品膜；
[0023]步骤S102:在该样品膜的两短边设置电极11；
[0024]步骤S103:沿该样品膜的短边开始卷起，将该样品膜卷成圆筒状放置于圆形检测桶12内；
[0025]步骤S104:常温下放置12小时以上，取出该样品膜平铺，并测量电极11处的开胶长度和宽度。
[0026]使用本专利技术的检测方法时，将聚合物分散型液晶膜裁剪成长方形样品膜，然后将样品膜10沿短边电极11卷成圆筒状放入检测桶12内，常温下放置12小时以上，取出该样品膜平铺，并测量电极11处的开胶长度和宽度，记录开胶处的长度和宽度，实现对聚合物分散型液晶膜开胶的快速检测。本专利技术采用人工卷曲放置方式，利用膜卷曲时的展曲张力，能在较短时间内使聚合物分散型液晶膜的液晶层与导电层之间粘接力发生改变，实现快速检测。
[0027]本专利技术依据聚合物分散型液晶膜的开胶状况，快速判断聚合物分散型液晶膜的开胶性能，为聚合物分散型液晶膜的使用、储存提供参考依据。以便采取针对性的措施，提高产品的使用寿命。
[0028]在本实施例中，该样品膜10的宽度为600mm
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1000mm，该样品膜10的长度为600mm
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1000mm。优选的，该样品膜10的宽度为600mm，该样品膜10的长度为800mm。
[0029]进一步的，该检测桶12的直径为30...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：将聚合物分散型液晶膜裁剪成长方形样品膜；在所述样品膜的两短边设置电极；沿所述样品膜的短边开始卷起，将所述样品膜卷成圆筒状放置于圆形检测桶内；常温下放置12小时以上，取出所述样品膜平铺，并测量电极处的开胶长度和宽度。2.根据权利要求1所述的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，其特征在于，所述样品膜的宽度为50mm
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2000mm，所述样品膜的长度为50mm
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3000mm。3.根据权利要求1所述的快速检验聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：高攀，朱厚山，许鹏，赵明奎，
申请(专利权)人：上海膜本新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：