一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统技术方案

技术编号:37462307 阅读:34 留言:0更新日期:2023-05-06 09:35
本实用新型专利技术提供一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统,包括光源、三端口环形器、多个待测光纤、三个光开关和光谱仪,待测光纤上设置有光纤光栅,光源与三端口环形器的第一端口连接,三端口环形器的第二端口与第一输入端连接,一个待测光纤连接在一个第一输出端和一个第二输入端之间,第二输出端与一个第三输入端连接,三端口环形器的第三端口与另一个第三输入端连接,第三输出端与光谱仪连接。通过光开关的不同切换组合,可以测试不同通道上的光纤光栅的透射光谱或反射光谱,一套光谱仪设备同时供给数个测试工位使用,大大降低设备投入成本,也提高设备的使用率,以及提高测试的准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统


[0001]本技术涉及光学设备领域,尤其涉及一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统。

技术介绍

[0002]由于光栅光纤具有体积小、熔接损耗小、全兼容于光纤、能埋入智能材料等优点,并且其谐振波长对温度、应变、折射率、浓度等外界环境的变化比较敏感,因此在光纤通信、传感领域和光纤激光器中得到了广泛的应用。其中光栅的光谱对于光栅的性能至关重要,并且光谱测试设备价值昂贵,在批量生产的过程中,通常需要两个或者以上的工位同时作业,意味着需要投入更多的设备资源,不利于提高效率。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提供一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统。
[0004]为了实现本技术目的,本技术提供一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统,包括光源、三端口环形器、多个待测光纤、第一光开关、第二光开关、第三光开关和光谱仪,待测光纤上设置有光纤光栅,第一光开关设置有一个第一输入端和多个第一输出端,第二光开关设置有多个第二输入端和一个第二输出端,第三光开关设置有两个第三输入端和一个第三输出端;光源与三端口环形器的第一端口连接,三端口环形器的第二端口与第一输入端连接,一个待测光纤连接在一个第一输出端和一个第二输入端之间,第二输出端与一个第三输入端连接,三端口环形器的第三端口与另一个第三输入端连接,第三输出端与光谱仪连接。
[0005]更进一步的方案是,第一光开关采用MEMS光开关、机械式光开关或磁光开关。
[0006]更进一步的方案是,第二光开关采用MEMS光开关、机械式光开关或磁光开关。
[0007]更进一步的方案是,第三光开关采用MEMS光开关、机械式光开关或磁光开关。
[0008]本技术的有益效果是,本案通过第一光开关和第二光开关的1
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N设计,每个输入端和输出端连接一个待测光纤,待测光纤上设置有光纤光栅,因此实现利用多工位对光纤光栅的透射光谱在光谱仪上进行测量,再者,光纤光栅将存在反射光,因此反射光从第二端口返回后经第三端口输出,继而光纤光栅的反射光谱亦可光谱仪上进行测量,通过光开关的不同切换组合,可以测试不同通道上的光纤光栅的透射光谱或反射光谱,一套光谱仪设备同时供给数个测试工位使用,大大降低设备投入成本,也提高设备的使用率,以及提高测试的准确性。
附图说明
[0009]图1是本技术光谱测试系统实施例的光路示意图。
[0010]以下结合附图及实施例对本技术作进一步说明。
具体实施方式
[0011]参照图1,光谱测试系统包括光源11、三端口环形器12、多个待测光纤3、第一光开关21、第二光开关22、第三光开关23和光谱仪13,每根待测光纤3上设置有光纤光栅,光纤光栅分别为FBG1、FBG2
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FBGn,第一光开关21(SW1)设置有一个第一输入端和多个第一输出端,第二光开关22(SW2)设置有多个第二输入端和一个第二输出端,第三光开关23(SW2)设置有两个第三输入端和一个第三输出端。
[0012]三端口环形器12设置有三个端口,光源11与三端口环形器12的第一端口P1连接,三端口环形器12的第二端口P2与第一输入端连接,一个待测光纤3连接在一个第一输出端和一个第二输入端之间,第二输出端与一个第三输入端连接,三端口环形器12的第三端口P3与另一个第三输入端连接,第三输出端与光谱仪13连接。
[0013]在进行光谱测试时,光源11输出测试信号光L1,测试信号光L1从第一端口P1输入,并从第二端口P2输出至第一光开关21,通过对应地切换第一光开关21和第二光开关22的光通路,继而使测试信号光L1经过
[0014]不同的待测光纤3的光纤光栅,继而产生并输出透射光L3,透射光L3经过第三光开关23输入至光谱仪13(OSA)进行光谱测定。在测试信号光L1经过光纤光栅时,也会产生一定的反射光L2,反射光L2则返回并从第二端口P2输入,并从第三端口P3输出至第三光开关23,继而再输入至光谱仪13进行光谱测定,通过第三光开关23的光通路切换,继而可实现透射光谱或反射光谱的测定。而通过第一光开关21和第二光开关22的光通路的切换,可对不同的待测光纤3进行测试。
[0015]另外,第一光开关21、第二光开关22和/或第三光开关23采用MEMS光开关、机械式光开关或磁光开关。
[0016]由上可见,通过光开关的不同切换组合,可以测试不同通道上的光纤光栅的透射光谱或反射光谱,一套光谱仪设备同时供给数个测试工位使用,大大降低设备投入成本,也提高设备的使用率,以及提高测试的准确性。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统,其特征在于,包括光源、三端口环形器、多个待测光纤、第一光开关、第二光开关、第三光开关和光谱仪,所述待测光纤上设置有光纤光栅,所述第一光开关设置有一个第一输入端和多个第一输出端,所述第二光开关设置有多个第二输入端和一个第二输出端,所述第三光开关设置有两个第三输入端和一个第三输出端;所述光源与所述三端口环形器的第一端口连接,所述三端口环形器的第二端口与所述第一输入端连接,一个所述待测光纤连接在一个所述第一输出端和一个所述第二输...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢宁王健强刘家兴吉贵军王兴龙
申请(专利权)人:珠海光库科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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