一种结构光照明的超分辨显微成像方法及系统技术方案

一种结构光照明的超分辨显微成像系统，包括光源和载物台，还包括位于光源和载物台之间的超分辨成像装置，所述成像装置包括位于光源前方的光栅，位于光栅前方的准直透镜，和位于准直透镜前方的无限远矫正物镜；所述成像系统还包括可对载物台进行成像采集的图像采集装置。本发明专利技术所述结构光照明的超分辨显微成像方法及系统，本发明专利技术通过使用体积小巧轻薄的光栅结合透镜和物镜的使用，可以不需要使用SLM和DMD等体积庞大，价格昂贵的设备，即可实现结构光照明显微成像。光照明显微成像。光照明显微成像。

【技术实现步骤摘要】
一种结构光照明的超分辨显微成像方法及系统


[0001]本专利技术属于光学领域，涉及成像技术，具体为一种结构光照明的超分辨显微成像方法及系统。

技术介绍

[0002]光学显微镜具有可特异性标记以及对活细胞进行动态实时成像的优点，因此广泛应用于生命科学研究中。但是，传统的显微成像技术的空间分辨率受限于衍射极限，使得光学显微镜的分辨率，横向上为200到300nm，纵向上为500到700nm，极大的限制了光学显微技术的应用。
[0003]结构光照明显微成像（Structure illumination microscopy,SIM）技术是目前主流的超分辨光学显微成像技术之一。SIM系统能够突破传统光学显微镜的衍射极限的限制，能够产生更高的成像分辨率。
[0004]结构光照明是一种通过改变照明光空间结构的照明方式，通常照明的结构光是一个载频条纹。运用特殊调制的结构光照明样品，再通过特定的算法从调制图像数据中提取焦平面的信息，进而突破衍射极限的限制。然而在对照明光进行特殊调制时，通常需要凭借特定的光场调制器，例如基于数字微镜阵列器件（Dig本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种结构光照明的超分辨显微成像系统，包括光源和载物台，其特征在于，还包括位于光源和载物台之间的载物台照明光生成装置，所述载物台照明光生成装置包括位于光源前方的光栅，位于光栅前方的准直透镜，和位于准直透镜前方的无限远矫正物镜；所述光栅位于所述无限远矫正物镜的共轭面上，载物台位于所述无限远矫正物镜的焦平面；所述成像系统还包括对载物台进行图像抓取的显微镜以及与显微镜连接的图像采集装置；所述光源、光栅、显微镜、准直透镜和无限远矫正物镜满足以下条件： F2/( d*F1)= λ/2NA其中d为光栅常数，NA为显微镜数值孔径，F1和F2分别为准直透镜和无限远矫正物镜的焦距，λ为光源发出的光波长。2.根据权利要求1所述的结构光照明的超分辨显微成像系统，其特征在于：所述图像采集装置包括CMOS相机及与其连接的显示器。...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵嘉学，伊腾达，张怀元，张泓宇，李丰旭，谢茹芸，龙雨馨，梁志清，郑兴，刘子骥，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：