显示面板的检测电路及检测方法、显示面板技术

本申请公开了一种显示面板及检测方法、显示装置，该显示面板具有可显示区和非显示区，在显示面板的可显示区设有像素，检测电路设于显示面板的非显示区，该检测电路包括：虚拟像素单元，与像素位于同一膜层；多路复用电路，连接虚拟像素单元，并用于连接外部的检测设备，以接收检测设备发送的检测信号，并将检测信号发送给虚拟像素单元，以驱动虚拟像素单元发光，并根据虚拟像素单元的发光状态向检测设备发送反馈信号，以使检测设备基于反馈信号对像素进行检测。本申请的显示面板能够有效避免对进行检测的显示面板的可显示区造成损坏，且还能够降低从生产线上抽取显示面板实验片的频率，从而有效提升显示面板的生产效率。从而有效提升显示面板的生产效率。从而有效提升显示面板的生产效率。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测电路及检测方法、显示面板


[0001]本申请涉及显示面板
，特别是涉及一种显示面板的检测电路及检测方法、显示面板。

技术介绍

[0002]现今，在显示面板的制造过程中，由于显示面板中的阵列基板对应的点、线、Mura(亮度不均)类不良发生率较高，而为有效降低其性能不良的发生率，在将大批量的阵列基板投入生产线之前，通常需要从其中申请取出多个阵列基板实验片，以进行各项性能调试及验证。
[0003]然而，现有的对阵列基板进行的调试及验证，通常是在阵列基板上对应显示面板可显示区的部分进行，以致不可避免的会对实验片造成损坏，而只能报废，从而造成极大的浪费。且因申请取出实验片的周期通常较长，在抽取实验片的频率较高时，也将极大地影响到显示面板的生产效率。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种显示面板及检测方法、显示装置，能够解决现有技术中对显示面板中的阵列基板所进行的调试及验证，不可避免的会对实验片造成损坏，并影响到显示面板的生产效率的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种显示面板，该显示面板具有可显示区和非显示区，在显示面板的可显示区设有像素，所述显示面板的非显示区设有检测电路，该检测电路包括：虚拟像素单元，与像素位于同一膜层；多路复用电路，连接虚拟像素单元，并用于连接外部的检测设备，以接收检测设备发送的检测信号，并将检测信号发送给虚拟像素单元，以驱动虚拟像素单元发光，并根据虚拟像素单元的发光状态向检测设备发送反馈信号，以使检测设备基于反馈信号对像素进行检测。
[0006]其中，虚拟像素单元包括呈阵列排布的多个子像素，虚拟像素单元的发光状态包括多个子像素均发光、多个子像素均不发光、多个子像素中的部分子像素发光以及部分发光子像素的位置信息。
[0007]其中，多路复用电路包括多路复用连接线、检测输入信号线以及开关控制线，多路复用连接线连接虚拟像素单元，检测输入信号线连接开关控制线和虚拟像素单元，开关控制线连接虚拟像素单元。
[0008]其中，多路复用电路还包括第一开关子电路和第二开关子电路，第一开关子电路将多路复用连接线与虚拟像素单元实现连接，第二开关子电路将检测输入信号线与开关控制线实现连接，并与虚拟像素单元相连接。
[0009]其中，多路复用电路还包括连接焊盘，连接焊盘连接第一开关子电路，并用于连接检测设备；
[0010]其中，虚拟像素单元的数量为至少两个，多路复用电路的数量为至少两个，并与虚
拟像素单元的数量相同，每一多路复用电路对应连接一个虚拟像素单元，并与其他多路复用电路相连接。
[0011]其中，多路复用连接线包括第一至第四复用连接线，检测输入信号线包括第一至第三检测输入信号线，开关控制线包括第一至第三开关控制线，第一至第四复用连接线、第一至第三检测输入信号线以及第一至第三开关控制线的均朝同一方向延伸。
[0012]其中，在显示面板的可显示区还包括数据线和扫描线，检测输入信号线与数据线位于同一膜层，开关控制线与扫描线位于同一膜层。
[0013]为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种显示面板的检测方法，该显示面板的检测方法包括：接收外部检测设备发送的检测信号；将检测信号发送给虚拟像素单元，以驱动虚拟像素单元发光；根据虚拟像素单元的发光状态向检测设备发送反馈信号，以使检测设备基于反馈信号对像素进行检测。
[0014]为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种显示装置，该显示装置包括上述任一项所述的显示面板。
[0015]本申请的有益效果是：区别于现有技术，本申请提供的显示面板具有可显示区和非显示区，在显示面板的可显示区设有像素，而检测电路设于显示面板的非显示区，且该检测电路的虚拟像素单元与显示面板中的像素位于同一膜层，而多路复用电路连接虚拟像素单元，并用于连接外部的检测设备，以接收检测设备发送的检测信号，并将检测信号发送给虚拟像素单元，以驱动虚拟像素单元发光，并将虚拟像素单元的发光状态所对应的反馈信号发送给检测设备，以使检测设备基于反馈信号对像素进行检测，从而能够在显示面板的非显示区完成对显示面板中像素的检测，以有效避免对进行检测的显示面板的可显示区造成损坏，并提前表征显示面板的阵列基板可能存在的点、线、Mura类不良的现象。且还能够降低从生产线上抽取显示面板实验片的频率，缩短显示面板新产品的上线时长，从而能够有效提升显示面板的生产效率。
附图说明
[0016]图1是本申请检测电路一实施例的结构示意图；
[0017]图2是图1中检测电路的一详细结构示意图；
[0018]图3是本申请显示面板的检测方法一实施方式的流程示意图。
具体实施方式
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0020]本申请中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相
对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0021]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0022]下面结合附图和实施例对本申请进行详细的说明。
[0023]请参阅图1和图2，其中，图1是本申请检测电路一实施例的结构示意图，图2是图1中检测电路的一详细结构示意图。在本实施例中，该检测电路10包括：虚拟像素单元11和多路复用电路12。
[0024]可理解的是，该检测电路10具体是应用在对显示面板100制造过程中的产品检测中，以通过该检测电路10将外部的检测设备与显示面板100旨在进行检测的功能单元实现连接，而对显示面板100，如显示面板100中的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，所述显示面板具有可显示区和非显示区，在所述显示面板的可显示区设有像素，所述显示面板的非显示区设有检测电路，所述检测电路包括：虚拟像素单元，与所述像素位于同一膜层；多路复用电路，连接所述虚拟像素单元，并用于连接外部的检测设备，以接收所述检测设备发送的检测信号，并将所述检测信号发送给所述虚拟像素单元，以驱动所述虚拟像素单元发光，并根据所述虚拟像素单元的发光状态向所述检测设备发送反馈信号，以使所述检测设备基于所述反馈信号对所述像素进行检测。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述虚拟像素单元包括呈阵列排布的多个子像素，所述虚拟像素单元的发光状态包括所述多个子像素均发光、所述多个子像素均不发光以及所述多个子像素中的部分子像素发光。3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述多路复用电路包括多路复用连接线、检测输入信号线以及开关控制线，所述多路复用连接线连接所述虚拟像素单元，并用于连接所述检测设备，所述检测输入信号线连接所述开关控制线和所述虚拟像素单元，所述开关控制线连接所述虚拟像素单元。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述多路复用电路还包括第一开关子电路和第二开关子电路，所述第一开关子电路将所述多路复用连接线与所述虚拟像素单元实现连接，所述第二开关子电路将所述检测输入信号线与所述开关控制线实现连接，并与所述虚拟像素单元相连接。5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟，段培，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：