一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片测试技术，用于解决GPU芯片检测过后需人工进行不合格产品的剔除，费时费力，GPU芯片高温测试需借助加热设备，加热设备耗费较多的电力资源，传输带的抖动影响GPU芯片的检测精度且易对GPU芯片造成损伤的问题，具体为一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置，包括传输带；本发明专利技术通过对应的通电弹簧供给电路断开，翻转板在通电弹簧一作用下将GPU芯片呈抛物线抛出，通过制热箱内部液体的热量传输至传输带位置处，对传输带上的GPU芯片进行加热操作，通过检测位置处两侧设有的驱动辊和转动辊进行传输带传输方向的反向转动，使检测位置处的传输带被绷紧，不会因外界作用力发生抖动。力发生抖动。力发生抖动。

【技术实现步骤摘要】
一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置


[0001]本专利技术涉及芯片测试技术，具体为一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置。

技术介绍

[0002]GPU，即图形处理器，又称显示核心、视觉处理器、显示芯片，是一种专门在个人电脑、工作站、游戏机和一些移动设备上做图像和图形相关运算工作的微处理器；现有技术中，对GPU芯片进行测试的过程中，需进行多种条件下GPU芯片的性能测试，每个性能测试后均需进行不合格测试品的剔除，采用人工剔除耗费较多的人力，且长时间的工作易导致工人的疲劳；在GPU芯片进行第一步常温测试后，需对GPU芯片进行高温环境下的性能进行测试，模拟GPU芯片使用时高温影响，GPU芯片高温测试时，多采用外界加温设备进行升温，外界设备的使用消耗较多的电力资源；传输带在进行GPU测试芯片的传输检测过程中，传输带不是处于极致紧绷的状态，使传输带在进行传输时，易因自身设备的运行和外界作用力的干扰发生轻微的抖动，用于检测的检测针卡与GPU芯片进行接触检测时，传输带的抖动易导致检测针卡与GPU芯片的接触深度处于波动状态，检测针卡插入深度较浅，易导致本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置，包括传输带（1），所述传输带（1）外侧壁一侧通过支架连接有检测针卡（5），所述传输带（1）上表面连接有载物架（6），所述载物架（6）上表面四个拐角位置处连接有限位架（7），所述传输带（1）内侧壁连接有传输辊（8），所述传输带（1）外侧壁两侧连接有传输带架；其特征在于：所述载物架（6）上表面设置有剔除组件，所述传输带架外侧壁两侧设置有烘干组件；所述传输带架内侧壁对应所述传输辊（8）位置处还设置有压带组件；其中，剔除组件包括翻转板（33），翻转板（33）转动连接在所述载物架（6）上表面的一侧，所述翻转板（33）上表面开设有分割槽（34），所述载物架（6）上表面远离转动座位置处开设有两个安装槽（31），所述安装槽（31）内部下表面连接有通电弹簧一（32），所述限位架（7）上表面两侧均通过转动节转动连接有限位杆（36），转动节外侧壁远离所述限位杆（36）的一侧一体成型有转动挡板（35），所述限位架（7）外侧壁对应所述转动挡板（35）位置处连接有通电弹簧三（37），所述翻转板（33）上表面对应所述限位杆（36）位置处连接有通电弹簧二（39），所述通电弹簧二（39）上端连接有移动挡板（38）。2.根据权利要求1所述的一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置，其特征在于，剔除组件还包括滑动腔，滑动腔开设在所述限位架（7）内侧壁对应所述移动挡板（38）的位置处，滑动腔内部对应所述移动挡板（38）位置处连接有限位板，若干个被分割的翻转板（33）通过转动铰链（310）转动连接。3.根据权利要求2所述的一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置，其特征在于，剔除组件还包括导电条（311），导电条（311）安装在所述传输带（1）下表面对应所述安装槽（31）的位置处，所述导电条（311）下表面连接有三个金属弹片（312），传输带架内侧壁靠近所述金属弹片（312）一侧通过电动推杆连接有绝缘板（313）。4.根据权利要求1所述的一种外置式智能化多功能GPU芯片测试装置，其特征在于，烘干组件包括制热箱（21），制热箱（21）连接在...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄永，李宗辉，邓仰东，
申请(专利权)人：深圳市恩钛控股有限公司，
类型：发明
国别省市：