一种高精度孔深测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种高精度孔深测量仪，包括测量仪主体，所述测量仪主体的上端中部定位安装有滑座，所述滑座上端活动安装有载具，所述测量仪主体的外侧活动安装有活动支架，所述活动支架的顶部定位安装有滑道，所述滑道上活动安装有运动平台，所述运动平台的前端活动安装有安装架体，所述安装架体上一侧的位置定位安装有点光谱仪，所述安装架体上另一侧的位置定位安装有镜头与光源，且镜头位于光源的上方。本实用新型专利技术所述的一种高精度孔深测量仪，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，检测具有自动化功能，测量的精度与效率更高。测量的精度与效率更高。测量的精度与效率更高。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度孔深测量仪


[0001]本技术涉及孔深测量领域，特别涉及一种高精度孔深测量仪。

技术介绍

[0002]孔深测量仪是一种进行孔深检测的支撑设备，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，来得到孔深数据，随着科技的不断发展，人们对于孔深测量仪的制造工艺要求也越来越高。
[0003]现有的孔深测量仪在使用时存在一定的弊端，首先，在进行孔深测量的时候，全自动化性能较差，需要借助人工进行检测，每次选取一个点进行检测，检测的精度不能很好的达到要求，不能很方便的对检测产品进行快速定位，检测效率较差，不利于人们的使用，还有，在进行使用的时候，给人们的使用过程带来了一定的不利影响，为此，我们提出一种高精度孔深测量仪。

技术实现思路

[0004]（一）解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种高精度孔深测量仪，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度孔深测量仪，包括测量仪主体（1），其特征在于：所述测量仪主体（1）的上端中部定位安装有滑座（13），所述滑座（13）上端活动安装有载具（12），所述测量仪主体（1）的外侧活动安装有活动支架（3），所述活动支架（3）的顶部定位安装有滑道（7），所述滑道（7）上活动安装有运动平台（6），所述运动平台（6）的前端活动安装有安装架体（8），所述安装架体（8）上一侧的位置定位安装有点光谱仪（2），所述安装架体（8）上另一侧的位置定位安装有镜头（10）与光源（11），且镜头（10）位于光源（11）的上方。2.根据权利要求1所述的一种高精度孔深测量仪，其特征在于：所述安装架体（8）与点光谱仪（2）之间定位安装有光谱仪安装架（4），所述镜头（10）的顶部一体连接有相机（9），所述相机（9）与安装架体（8）之间定位安装有相机安装架（5），所述载具（12）上端定位有产品（16），所述载具（12）上端表面定位安装有快速定位磁铁（18），所述快速定位磁铁（18）与载具（12）之间定位有磁铁安装座（17），所述测量仪主体（1）...

【专利技术属性】
技术研发人员：柴先接，王怀军，谢铭胜，
申请(专利权)人：苏州筹策智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：