一种高精度孔深测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种高精度孔深测量仪，包括测量仪主体，所述测量仪主体的上端中部定位安装有滑座，所述滑座上端活动安装有载具，所述测量仪主体的外侧活动安装有活动支架，所述活动支架的顶部定位安装有滑道，所述滑道上活动安装有运动平台，所述运动平台的前端活动安装有安装架体，所述安装架体上一侧的位置定位安装有点光谱仪，所述安装架体上另一侧的位置定位安装有镜头与光源，且镜头位于光源的上方。本实用新型专利技术所述的一种高精度孔深测量仪，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，检测具有自动化功能，测量的精度与效率更高。测量的精度与效率更高。测量的精度与效率更高。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度孔深测量仪


[0001]本技术涉及孔深测量领域，特别涉及一种高精度孔深测量仪。

技术介绍

[0002]孔深测量仪是一种进行孔深检测的支撑设备，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，来得到孔深数据，随着科技的不断发展，人们对于孔深测量仪的制造工艺要求也越来越高。
[0003]现有的孔深测量仪在使用时存在一定的弊端，首先，在进行孔深测量的时候，全自动化性能较差，需要借助人工进行检测，每次选取一个点进行检测，检测的精度不能很好的达到要求，不能很方便的对检测产品进行快速定位，检测效率较差，不利于人们的使用，还有，在进行使用的时候，给人们的使用过程带来了一定的不利影响，为此，我们提出一种高精度孔深测量仪。

技术实现思路

[0004]（一）解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种高精度孔深测量仪，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，检测具有自动化功能，测量的精度与效率更高，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0006]（二）技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种高精度孔深测量仪，包括测量仪主体，所述测量仪主体的上端中部定位安装有滑座，所述滑座上端活动安装有载具，所述测量仪主体的外侧活动安装有活动支架，所述活动支架的顶部定位安装有滑道，所述滑道上活动安装有运动平台，所述运动平台的前端活动安装有安装架体，所述安装架体上一侧的位置定位安装有点光谱仪，所述安装架体上另一侧的位置定位安装有镜头与光源，且镜头位于光源的上方。
[0008]优选的，所述安装架体与点光谱仪之间定位安装有光谱仪安装架，所述镜头的顶部一体连接有相机，所述相机与安装架体之间定位安装有相机安装架，所述载具上端定位有产品，所述载具上端表面定位安装有快速定位磁铁，所述快速定位磁铁与载具之间定位有磁铁安装座，所述测量仪主体的前端定位有控制器，所述测量仪主体的底部定位有定位脚座。
[0009]优选的，所述测量仪主体与滑座之间一体定位，所述载具在滑座上进行活动，所述活动支架在测量仪主体的外侧位置通过滑轨进行活动，所述运动平台在滑道上平移活动。
[0010]优选的，所述安装架体在运动平台上升降活动，所述运动平台带动点光谱仪、镜头、光源进行调节。
[0011]优选的，所述点光谱仪通过光谱仪安装架定位安装在安装架体上的位置，所述镜头、相机通过相机安装架定位安装在安装架体上的位置。
[0012]优选的，所述产品通过快速定位磁铁吸附定位在载具上端的位置，所述测量仪主体的底部与定位脚座之间一体固定。
[0013]（三）有益效果
[0014]与现有技术相比，本技术提供了一种高精度孔深测量仪，具备以下有益效果：该一种高精度孔深测量仪，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，检测具有自动化功能，测量的精度与效率更高，先在基准面上选取几个点，软件算出平均值，作为测量的基准点，然后点光谱移动至需要测量高度的测量面，在测量面上选取几个点，算出测量面的高度基准值，软件计算出基准面和测量面的高度差，整个孔深测量仪结构简单，操作方便，使用的效果相对于传统方式更好。
附图说明
[0015]图1为本技术一种高精度孔深测量仪的整体结构示意图。
[0016]图2为本技术一种高精度孔深测量仪中前端视图的结构示意图。
[0017]图3为本技术一种高精度孔深测量仪中侧视图的结构示意图。
[0018]图4为本技术一种高精度孔深测量仪中载具的结构示意图。
[0019]图中：1、测量仪主体；2、点光谱仪；3、活动支架；4、光谱仪安装架；5、相机安装架；6、运动平台；7、滑道；8、安装架体；9、相机；10、镜头；11、光源；12、载具；13、滑座；14、控制器；15、定位脚座；16、产品；17、磁铁安装座；18、快速定位磁铁。
具体实施方式
[0020]下面将结合附图和具体实施方式对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，但是本领域技术人员将会理解，下列所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，仅用于说明本技术，而不应视为限制本技术的范围。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例中未注明具体条件者，按照常规条件或制造商建议的条件进行。所用试剂或仪器未注明生产厂商者，均为可以通过市售购买获得的常规产品。
[0021]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0022]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术
语在本技术中的具体含义。
[0023]如图1
‑
4所示，一种高精度孔深测量仪，包括测量仪主体1，测量仪主体1的上端中部定位安装有滑座13，滑座13上端活动安装有载具12，测量仪主体1的外侧活动安装有活动支架3，活动支架3的顶部定位安装有滑道7，滑道7上活动安装有运动平台6，运动平台6的前端活动安装有安装架体8，安装架体8上一侧的位置定位安装有点光谱仪2，安装架体8上另一侧的位置定位安装有镜头10与光源11，且镜头10位于光源11的上方，先用平面CCD拍照定位孔内测量点的位置，然后运动平台移动，将点光谱移动到需要测量的基准面和测量点，测量两个面的高度差，检测具有自动化功能，测量的精度与效率更高。
[0024]进一步的，安装架体8与点光谱仪2之间定位安装有光谱仪安装架4，镜头10的顶部一体连接有相机9，相机9与安装架体8之间定位安装有相机安装架5，载具12上端定位有产品16，载具12上端表面定位安装有快速定位磁铁18，快速定位磁铁18与载具12之间定位有磁铁安装座17，测量仪主体1的前端定位有控制器14，测量仪主体1的底部定位有定位脚座15。
[0025]进一步的，测量仪主体1与滑座13之间一体定位，载具12在滑座13上进行活动，活动支架3在测量仪主体1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度孔深测量仪，包括测量仪主体（1），其特征在于：所述测量仪主体（1）的上端中部定位安装有滑座（13），所述滑座（13）上端活动安装有载具（12），所述测量仪主体（1）的外侧活动安装有活动支架（3），所述活动支架（3）的顶部定位安装有滑道（7），所述滑道（7）上活动安装有运动平台（6），所述运动平台（6）的前端活动安装有安装架体（8），所述安装架体（8）上一侧的位置定位安装有点光谱仪（2），所述安装架体（8）上另一侧的位置定位安装有镜头（10）与光源（11），且镜头（10）位于光源（11）的上方。2.根据权利要求1所述的一种高精度孔深测量仪，其特征在于：所述安装架体（8）与点光谱仪（2）之间定位安装有光谱仪安装架（4），所述镜头（10）的顶部一体连接有相机（9），所述相机（9）与安装架体（8）之间定位安装有相机安装架（5），所述载具（12）上端定位有产品（16），所述载具（12）上端表面定位安装有快速定位磁铁（18），所述快速定位磁铁（18）与载具（12）之间定位有磁铁安装座（17），所述测量仪主体（1）...

【专利技术属性】
技术研发人员：柴先接，王怀军，谢铭胜，
申请(专利权)人：苏州筹策智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：