一种半导体光学检测设备用支撑结构制造技术

本实用新型专利技术涉及半导体检测辅助设备技术领域，且公开了一种半导体光学检测设备用支撑结构，解决了装置中的移动轮一直与地面接触，在光学检测设备本体对半导体检测时装置存在移动的可能，进而会影响光学检测设备本体对半导体的检测稳定性和检测效率的问题，其包括底座和半导体光学检测装置本体，所述底座的内部开设有容纳腔，容纳腔的内部活动安装有升降板，升降板的底端对称设有万向轮，底座的上方设有支撑板，支撑板的顶端设有半导体光学检测装置本体；本设计便于实现万向轮的升降，在半导体光学检测装置本体工作时，实现底座与地面的连接，避免装置出现移动，进而提高了半导体光学检测装置本体对半导体的检测效率。光学检测装置本体对半导体的检测效率。光学检测装置本体对半导体的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体光学检测设备用支撑结构


[0001]本技术属于半导体检测辅助设备
，具体为一种半导体光学检测设备用支撑结构。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，半导体在进行检测时，需要使用光学检测设备，而光学检测设备需要搭配支撑装置对其支撑。
[0003]根据专利号CN213948500U3，公开了一种半导体光学检测设备支撑结构，该专利通过丝杆、移动套、第一安装架、支撑杆、第二安装架和支撑板，使得支撑板带动光学检测设备本体向上移动，反之即可缩短光学检测设备本体和地面之间的距离，操作方式简单便捷；然而该装置中的移动轮不能进行升降，由于移动轮一直与地面接触，在光学检测设备本体对半导体检测时装置存在移动的可能，进而会影响光学检测设备本体对半导体的检测稳定性和检测效率。

技术实现思路

[0004]针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本技术提供一种半导体光学检测设备用支撑结构，有效的解决了上述
技术介绍
中装置中的移动轮一直与地面接触，在光学检测设备本体对半导体检测时装置存在移动的可能，进而会影响光学检测设备本体对半导体的检测稳定性和检测效率的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体光学检测设备用支撑结构，包括底座和半导体光学检测装置本体，所述底座的内部开设有容纳腔，容纳腔的内部活动安装有升降板，升降板的底端对称设有万向轮，底座的上方设有支撑板，支撑板的顶端设有半导体光学检测装置本体，底座与支撑板之间通过对称设置的伸缩杆连接，底座上设有与支撑板连接的升降机构一，升降板与底座内部的升降机构二连接。
[0006]优选的，所述升降机构一包括内螺纹筒、T形螺纹杆一、凹槽、转动件和驱动器，底座的顶端中间位置安装有内螺纹筒，内螺纹筒的内部穿插有T形螺纹杆一，T形螺纹杆一的顶端与支撑板转动连接，T形螺纹杆一与内螺纹筒螺纹连接，底座的顶端开设有凹槽，底座上转动安装有转动件，容纳腔的内壁设有驱动器。
[0007]优选的，所述转动件包括套筒、旋转轴、卡接块和卡接槽，底座上转动安装有旋转轴，旋转轴延伸至容纳腔的内部，旋转轴的顶端套设有套筒，套筒与T形螺纹杆一的底端固定连接，旋转轴的顶端两侧对称设有卡接块，套筒的内壁开设有与卡接块滑动连接的卡接槽。
[0008]优选的，所述驱动器包括电机、锥形齿轮一和锥形齿轮二，容纳腔的内壁顶端安装有电机，电机输出轴连接有锥形齿轮一，旋转轴上套设有与锥形齿轮一啮合连接的锥形齿轮二。
[0009]优选的，所述升降机构二包括螺纹槽、T形螺纹杆二、传动轴、传动件和推动器，容纳腔的内部设传动轴，传动轴的底端开设有螺纹槽，螺纹槽的内部穿插有T形螺纹杆二，T形螺纹杆二的底端与升降板的顶端中间位置连接，T形螺纹杆二与螺纹槽螺纹连接，旋转轴的外部套设有传动件，且传动件与推动器连接。
[0010]优选的，所述传动件包括套管、滑槽、滑块和锥形齿轮三，传动轴的外壁套设有套管，套管的内壁对称设有滑块，传动轴的外壁对称开设有与滑块滑动连接的滑槽，套管的外壁套设有与锥形齿轮一啮合连接的锥形齿轮三。
[0011]优选的，所述推动器包括电动推杆和套环，套管的外壁套设有套环，容纳腔的内壁顶端安装有电动推杆，电动推杆输出轴与套环连接。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]（1）、在工作中，通过设置有底座、升降板、万向轮、支撑板、半导体光学检测装置本体、伸缩杆、升降机构一，便于使支撑板带动半导体光学检测装置本体进行高度调节，使半导体光学检测装置本体适用于不同身高的工作人员，进而为半导体光学检测装置本体对半导体的检测提供方便；通过升降机构二的设计，便于使升降板带动万向轮进行升降，方便半导体光学检测装置本体对半导体检测时，实现万向轮与地面的脱离，实现底座与地面的连接，避免半导体光学检测装置本体对半导体检测时出现移动的可能，进而提高了半导体光学检测装置本体对半导体的检测效率，在半导体光学检测装置本体不工作时，实现万向轮与地面的连接，进而便于工作人员推动装置移动，有效的提高了装置的便携性。
附图说明
[0014]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。
[0015]在附图中：
[0016]图1为本技术半导体光学检测设备用支撑结构的结构示意图；
[0017]图2为本技术图1中A处的放大结构示意图；
[0018]图3为本技术图1中B处的放大结构示意图；
[0019]图中：1、底座；2、升降板；3、万向轮；4、支撑板；5、半导体光学检测装置本体；6、伸缩杆；7、内螺纹筒；8、T形螺纹杆一；9、凹槽；10、套筒；11、旋转轴；12、卡接块；13、卡接槽；14、电机；15、锥形齿轮一；16、锥形齿轮二；17、螺纹槽；18、T形螺纹杆二；19、套管；20、滑槽；21、滑块；22、锥形齿轮三；23、电动推杆；24、套环；25、传动轴。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]由图1至图3给出，本技术包括底座1和半导体光学检测装置本体5，底座1的内部开设有容纳腔，容纳腔的内部活动安装有升降板2，升降板2的底端对称设有万向轮3，底座1的上方设有支撑板4，支撑板4的顶端设有半导体光学检测装置本体5，底座1与支撑板4
之间通过对称设置的伸缩杆6连接，底座1上设有与支撑板4连接的升降机构一，升降板2与底座1内部的升降机构二连接。
[0022]升降机构一包括内螺纹筒7、T形螺纹杆一8、凹槽9、转动件和驱动器，底座1的顶端中间位置安装有内螺纹筒7，内螺纹筒7的内部穿插有T形螺纹杆一8，T形螺纹杆一8的顶端与支撑板4转动连接，T形螺纹杆一8与内螺纹筒7螺纹连接，底座1的顶端开设有凹槽9，底座1上转动安装有转动件，容纳腔的内壁设有驱动器，转动件包括套筒10、旋转轴11、卡接块12和卡接槽13，底座1上转动安装有旋转轴11，旋转轴11延伸至容纳腔的内部，旋转轴11的顶端套设有套筒10，套筒10与T形螺纹杆一8的底端固定连接，旋转轴11的顶端两侧对称设有卡接块12，套筒10的内壁开设有与卡接块12滑动连接的卡接槽13，驱动器包括电机14、锥形齿轮一15和锥形齿轮二16，容纳腔的内壁顶端安装有电机14，电机14输出轴连接有锥形齿轮一15，旋转轴11上套设有与锥形齿轮一15啮合连接的锥形齿轮二16；
[0023]当需要调节半导体光学检测装置本体5的高度时，首先启动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体光学检测设备用支撑结构，包括底座（1）和半导体光学检测装置本体（5），其特征在于：所述底座（1）的内部开设有容纳腔，容纳腔的内部活动安装有升降板（2），升降板（2）的底端对称设有万向轮（3），底座（1）的上方设有支撑板（4），支撑板（4）的顶端设有半导体光学检测装置本体（5），底座（1）与支撑板（4）之间通过对称设置的伸缩杆（6）连接，底座（1）上设有与支撑板（4）连接的升降机构一，升降板（2）与底座（1）内部的升降机构二连接。2.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备用支撑结构，其特征在于：所述升降机构一包括内螺纹筒（7）、T形螺纹杆一（8）、凹槽（9）、转动件和驱动器，底座（1）的顶端中间位置安装有内螺纹筒（7），内螺纹筒（7）的内部穿插有T形螺纹杆一（8），T形螺纹杆一（8）的顶端与支撑板（4）转动连接，T形螺纹杆一（8）与内螺纹筒（7）螺纹连接，底座（1）的顶端开设有凹槽（9），底座（1）上转动安装有转动件，容纳腔的内壁设有驱动器。3.根据权利要求2所述的一种半导体光学检测设备用支撑结构，其特征在于：所述转动件包括套筒（10）、旋转轴（11）、卡接块（12）和卡接槽（13），底座（1）上转动安装有旋转轴（11），旋转轴（11）延伸至容纳腔的内部，旋转轴（11）的顶端套设有套筒（10），套筒（10）与T形螺纹杆一（8）的底端固定连接，旋转轴（11）的顶端两侧对称设有卡接块（12），套筒（10）的内壁开设有与卡接块（12）滑动连接的卡接槽（13）。4.根据权利要求2所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：文振兴，王慧卉，徐弘扬，王定芳，
申请(专利权)人：株洲宏达电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：